[發(fā)明專利]相移掩膜的制造方法、平板顯示器的制造方法和相移掩膜有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010215138.5 | 申請(qǐng)日: | 2010-06-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101937170A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-01-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 影山景弘;中村大介 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 愛(ài)發(fā)科成膜株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G03F1/08 | 分類號(hào): | G03F1/08;H01L21/3105 |
| 代理公司: | 北京華夏正合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11017 | 代理人: | 韓登營(yíng) |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 相移 制造 方法 平板 顯示器 | ||
1.一種相移掩膜的制造方法,其特征在于,包括以下工序:
對(duì)透明基板上的遮光層進(jìn)行圖案形成加工的工序,
在所述透明基板上形成覆蓋所述遮光層的相移層的工序,其方法為,在混合有40%以上90%以下的氮化氣體和10%以上35%以下的氧化氣體的環(huán)境中,使由鉻系材料制成的靶產(chǎn)生濺射而形成所述相移層,所述相移層對(duì)任何一種波長(zhǎng)在300nm以上500nm以下范圍內(nèi)的光產(chǎn)生180°的相位差,
對(duì)所述相移層進(jìn)行圖案形成加工的工序。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相移掩膜的制造方法,其特征在于,
在形成所述相移層的工序中,形成厚度為可使i線產(chǎn)生大致180°的相位差的所述相移層。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相移掩膜的制造方法,其特征在于,
在形成所述相移層的工序中,形成厚度為可使h線產(chǎn)生大致180°的相位差的所述相移層。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的相移掩膜的制造方法,其特征在于,
在形成所述相移層的工序中,形成厚度為可使i線產(chǎn)生的相位差和使g線產(chǎn)生的相位差的差值在40°以下的所述相移層。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相移掩膜的制造方法,其特征在于,
所述混合氣體中包含有惰性氣體。
6.一種平板顯示器的制造方法,其特征在于,包括以下工序:
在基板上形成光致抗蝕膜層的工序,
在鄰近所述光致抗蝕膜層的位置設(shè)置相移掩膜的工序,所述相移掩膜具有由氮化氧化鉻材料組成的相移層,使任何一種波長(zhǎng)在300nm以上500nm以下范圍內(nèi)的光產(chǎn)生180°相位差,
用所述波長(zhǎng)在300nm以上500nm以下的復(fù)合光照射所述相移掩膜以使所述光致抗蝕膜層曝光的工序。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的平板顯示器的制造方法,其特征在于,
對(duì)所述光致抗蝕膜層進(jìn)行曝光的工序中使用由g線、h線和i線組成的復(fù)合光。
8.一種相移掩膜,其特征在于,包括:
透明基板,
形成在所述透明基板上的遮光層,
形成在所述遮光層周圍的相移層,所述相移層由氮化氧化鉻材料組成,可以使任何一種波長(zhǎng)在300nm以上500nm以下范圍內(nèi)的光產(chǎn)生180°的相位差。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的相移掩膜,其特征在于,
所述波長(zhǎng)范圍內(nèi)的復(fù)合光為由g線、h線和i線組成的復(fù)合光。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的相移掩膜,其特征在于,
所述相移層的厚度為可使i線產(chǎn)生的相位差和使g線產(chǎn)生的相位差的差值在40°以下的厚度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于愛(ài)發(fā)科成膜株式會(huì)社,未經(jīng)愛(ài)發(fā)科成膜株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010215138.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過(guò)帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過(guò)電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過(guò)100nm或更短波長(zhǎng)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學(xué)臨近校正(OPC)設(shè)計(jì)工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準(zhǔn)或測(cè)試的特殊涂層或標(biāo)記;其制備
- 氫燃料制造系統(tǒng)、氫燃料制造方法以及氫燃料制造程序
- 單元控制系統(tǒng)、生產(chǎn)系統(tǒng)以及控制方法
- 制造裝置及制造方法以及制造系統(tǒng)
- 一種三相異步電動(dòng)機(jī)制造工藝方法
- 制造設(shè)備、制造裝置和制造方法
- 用于監(jiān)測(cè)光學(xué)鏡片制造過(guò)程的方法
- 產(chǎn)品的制造系統(tǒng)、惡意軟件檢測(cè)系統(tǒng)、產(chǎn)品的制造方法以及惡意軟件檢測(cè)方法
- 一種面向制造服務(wù)的制造能力評(píng)估方法
- 一種基于云制造資源的制造能力建模方法
- 制造設(shè)備系統(tǒng)、制造設(shè)備以及制造方法
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫(xiě)分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





