[發(fā)明專利]基于經(jīng)驗?zāi)B(tài)分解的設(shè)備或系統(tǒng)機(jī)內(nèi)測試信號虛警濾波方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010207247.2 | 申請日: | 2010-06-23 |
| 公開(公告)號: | CN101853242A | 公開(公告)日: | 2010-10-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 沈毅;張淼;王強(qiáng) | 申請(專利權(quán))人: | 哈爾濱工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G06F17/14 | 分類號: | G06F17/14;B63B9/00 |
| 代理公司: | 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109 | 代理人: | 張果瑞 |
| 地址: | 150001 黑龍*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 經(jīng)驗 分解 設(shè)備 系統(tǒng) 測試 信號 濾波 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種基于經(jīng)驗?zāi)B(tài)分解的設(shè)備或系統(tǒng)機(jī)內(nèi)測試信號虛警濾波方法,屬于測試領(lǐng)域。
背景技術(shù)
機(jī)內(nèi)測試(Built-InTest,BIT)是設(shè)備或系統(tǒng)自身為故障檢測、隔離或診斷所提供的自動測試能力。BIT是顯著改善系統(tǒng)測試與診斷能力的重要技術(shù)手段,在現(xiàn)代裝備的可靠性、維修性、測試性設(shè)計中日益受到重視。在設(shè)備或系統(tǒng)生命周期的設(shè)計、生產(chǎn)和運行三個階段,測試一直是一個十分關(guān)鍵的技術(shù)。首先,在設(shè)計階段,測試的目的是為了探測和指出存在的設(shè)計錯誤,從而確保生產(chǎn)出的產(chǎn)品會按預(yù)定的方式運作。接著,在生產(chǎn)階段,測試的目的是探測出任何會導(dǎo)致一定的器件或產(chǎn)品在預(yù)定的系統(tǒng)中不按正確方式運行的生產(chǎn)缺陷。最后,在系統(tǒng)運行階段,測試的目的是探測出在運行階段任何會產(chǎn)生錯誤操作的故障,在一些系統(tǒng)中,為了使系統(tǒng)恢復(fù)到無故障的狀態(tài),測試還必須指出需要更換的具體故障元件,因此設(shè)備或系統(tǒng)的BIT技術(shù)有著愈發(fā)普及的應(yīng)用趨勢。
虛警是BIT或其他檢測模塊指示有故障而實際上不存在故障的現(xiàn)象。虛警率較高始終是制約BIT技術(shù)研究和應(yīng)用的瓶頸問題之一,成為導(dǎo)致設(shè)備或系統(tǒng)完好性差、使用保障費用高的重要因素。
現(xiàn)有對設(shè)備或系統(tǒng)機(jī)內(nèi)測試信號進(jìn)行濾波的方法無法同時從頻率和幅值兩方面入手聯(lián)合排除虛警信號。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的是為了解決現(xiàn)有對設(shè)備或系統(tǒng)機(jī)內(nèi)測試信號進(jìn)行濾波的方法無法同時從頻率和幅值兩方面入手聯(lián)合排除虛警信號的問題,提供了一種基于經(jīng)驗?zāi)B(tài)分解的設(shè)備或系統(tǒng)機(jī)內(nèi)測試信號虛警濾波方法。
本發(fā)明方法包括以下步驟:
步驟一:對輸入的機(jī)內(nèi)測試信號進(jìn)行經(jīng)驗?zāi)B(tài)分解,提取3個本征模態(tài)函數(shù)分量和1個殘差;
步驟二:對提取的第2階本征模態(tài)函數(shù)分量IMF2進(jìn)行自適應(yīng)衰減處理,獲取衰減后分量DIMF2;
步驟三:對衰減后分量DIMF2與第1階本征模態(tài)函數(shù)分量、第3階本征模態(tài)函數(shù)分量和殘差進(jìn)行信號疊加處理,獲得機(jī)內(nèi)測試信號的濾波信號,完成對機(jī)內(nèi)測試信號的虛警濾波。
本發(fā)明的優(yōu)點:
1)本發(fā)明所提出的信號濾波方法利用EMD過程分離出含有虛警成分最多的IMF分量并對其進(jìn)行后續(xù)的降虛警處理,相當(dāng)于從頻域入手對非平穩(wěn)非線性信號的虛警成分進(jìn)行定位,具有其他濾波方法難以比擬的針對性。
2)本發(fā)明所提出的信號濾波方法利用自適應(yīng)因子對含有虛警成分最多的IMF分量進(jìn)行衰減,從幅值入手,使信號中幅值較大的趨勢成分得以保留,最后經(jīng)過信號疊加,還原出適合設(shè)備或系統(tǒng)機(jī)內(nèi)測試之用的低虛警率濾波信號。
本發(fā)明方法同時從頻率和幅值兩方面入手聯(lián)合排除虛警信號的問題,對具有虛警特征的成分進(jìn)行有針對性的衰減處理,從而有效濾除容易導(dǎo)致誤報的虛警信號,適用于設(shè)備或系統(tǒng)的機(jī)內(nèi)測試信號濾波。
附圖說明
圖1為本發(fā)明方法信號處理原理圖;圖2為經(jīng)驗?zāi)B(tài)分解信號處理原理圖;圖3為無故障情況下舵機(jī)反饋電壓原始采樣數(shù)據(jù)曲線圖;圖4為故障情況下舵機(jī)反饋電壓原始采樣數(shù)據(jù)曲線圖;圖5為無故障情況下舵機(jī)反饋電壓EMD(經(jīng)驗?zāi)B(tài)分解,EmpiricalModeDecomposition)后所得IMF1曲線圖;圖6為無故障情況下舵機(jī)反饋電壓EMD后所得IMF2曲線圖;圖7為無故障情況下舵機(jī)反饋電壓EMD后所得IMF3曲線圖;圖8為無故障情況下舵機(jī)反饋電壓EMD后所得殘差曲線圖;圖9為故障情況下舵機(jī)反饋電壓EMD后所得IMF1曲線圖;圖10為故障情況下舵機(jī)反饋電壓EMD后所得IMF2曲線圖;圖11為故障情況下舵機(jī)反饋電壓EMD后所得IMF3曲線圖;圖12為故障情況下舵機(jī)反饋電壓EMD后所得殘差曲線圖;圖13為無故障情況下舵機(jī)反饋電壓曲線圖;圖14為無故障情況下舵機(jī)反饋電壓一階差分曲線圖;圖15為無故障情況下濾波后舵機(jī)反饋電壓曲線圖;圖16為無故障情況下濾波后舵機(jī)反饋電壓一階差分曲線圖;圖17為故障情況下舵機(jī)反饋電壓曲線圖;圖18為故障情況下舵機(jī)反饋電壓一階差分曲線圖;圖19為故障情況下濾波后舵機(jī)反饋電壓曲線圖;圖20為故障情況下濾波后舵機(jī)反饋電壓一階差分曲線圖。
具體實施方式
?具體實施方式一:下面結(jié)合圖1至圖2說明本實施方式。
由于BIT所處理的數(shù)據(jù)往往都是非平穩(wěn)非線性的,因此我們考慮使用在這方面數(shù)據(jù)處理上有專長的經(jīng)驗?zāi)B(tài)分解(EmpiricalModeDecomposition,EMD)來輔助對BIT信號進(jìn)行濾波,從而達(dá)到降低虛警率的目的。
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