[發(fā)明專利]基于經(jīng)驗(yàn)?zāi)B(tài)分解的設(shè)備或系統(tǒng)機(jī)內(nèi)測(cè)試信號(hào)虛警濾波方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010207247.2 | 申請(qǐng)日: | 2010-06-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101853242A | 公開(公告)日: | 2010-10-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 沈毅;張淼;王強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 哈爾濱工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06F17/14 | 分類號(hào): | G06F17/14;B63B9/00 |
| 代理公司: | 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109 | 代理人: | 張果瑞 |
| 地址: | 150001 黑龍*** | 國(guó)省代碼: | 黑龍江;23 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 經(jīng)驗(yàn) 分解 設(shè)備 系統(tǒng) 測(cè)試 信號(hào) 濾波 方法 | ||
1.一種基于經(jīng)驗(yàn)?zāi)B(tài)分解的設(shè)備或系統(tǒng)機(jī)內(nèi)測(cè)試信號(hào)虛警濾波方法,其特征在于它包括如下步驟:
步驟一:對(duì)輸入的機(jī)內(nèi)測(cè)試信號(hào)進(jìn)行經(jīng)驗(yàn)?zāi)B(tài)分解,提取3個(gè)本征模態(tài)函數(shù)分量和1個(gè)殘差;
步驟二:對(duì)提取的第2階本征模態(tài)函數(shù)分量IMF2進(jìn)行自適應(yīng)衰減處理,獲取衰減后分量DIMF2;
步驟三:對(duì)衰減后分量DIMF2與第1階本征模態(tài)函數(shù)分量、第3階本征模態(tài)函數(shù)分量和殘差進(jìn)行信號(hào)疊加處理,獲得機(jī)內(nèi)測(cè)試信號(hào)的濾波信號(hào),完成對(duì)機(jī)內(nèi)測(cè)試信號(hào)的虛警濾波。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于經(jīng)驗(yàn)?zāi)B(tài)分解的設(shè)備或系統(tǒng)機(jī)內(nèi)測(cè)試信號(hào)虛警濾波方法,其特征在于步驟一提取3個(gè)本征模態(tài)函數(shù)分量和1個(gè)殘差的過程為:
設(shè)定輸入的機(jī)內(nèi)測(cè)試信號(hào)為,,
步驟a、IMF分解過程初始化:,且滿足關(guān)系式成立,其中為第次分解后剩余的殘差函數(shù);
步驟b、篩選過程初始化,,且滿足關(guān)系式成立,其中為第次IMF分解中經(jīng)過第次篩選后的剩余函數(shù);
步驟c、根據(jù)篩選程序獲取輸入的機(jī)內(nèi)測(cè)試信號(hào)經(jīng)過第次本征模態(tài)函數(shù)分解的剩余的殘差函數(shù)中經(jīng)過第次篩選后的剩余函數(shù);
步驟d、采用標(biāo)準(zhǔn)偏差準(zhǔn)則判斷輸入的機(jī)內(nèi)測(cè)試信號(hào)經(jīng)過第次本征模態(tài)函數(shù)分解的剩余的殘差函數(shù)中經(jīng)過第次篩選后的剩余函數(shù)是否滿足本征模態(tài)函數(shù)的條件,即是否小于閾值T,;
判斷結(jié)果為是,執(zhí)行步驟e,判斷結(jié)果為否,則,然后執(zhí)行步驟c,
步驟e、提取一個(gè)本征模態(tài)函數(shù)IMF分量;
步驟f、獲取輸入的機(jī)內(nèi)測(cè)試信號(hào)經(jīng)過第次本征模態(tài)函數(shù)分解的剩余的殘差函數(shù);
步驟g、判斷是否滿足下述關(guān)系式成立:;
判斷結(jié)果為否,則,然后執(zhí)行步驟b,判斷結(jié)果為是,完成提取過程,獲得3個(gè)本征模態(tài)函數(shù)分量IMF1、IMF2和IMF3:;和個(gè)經(jīng)過第次本征模態(tài)函數(shù)分解的剩余的殘差RES:。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于經(jīng)驗(yàn)?zāi)B(tài)分解的設(shè)備或系統(tǒng)機(jī)內(nèi)測(cè)試信號(hào)虛警濾波方法,步驟c根據(jù)篩選程序獲取輸入信號(hào)經(jīng)過第次本征模態(tài)函數(shù)分解的剩余趨勢(shì)函數(shù)中經(jīng)過第次篩選后的剩余函數(shù)的過程為:
步驟c1、利用三次樣條函數(shù)獲取輸入信號(hào)經(jīng)過第次本征模態(tài)函數(shù)分解的剩余趨勢(shì)函數(shù)中經(jīng)過第次篩選后的剩余函數(shù)的上、下包絡(luò),
步驟c2、計(jì)算所述剩余函數(shù)上、下包絡(luò)曲線在各個(gè)的均值,
步驟c3、獲取輸入信號(hào)經(jīng)過第次本征模態(tài)函數(shù)分解的剩余趨勢(shì)函數(shù)中經(jīng)過第次篩選后的剩余函數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于經(jīng)驗(yàn)?zāi)B(tài)分解的設(shè)備或系統(tǒng)機(jī)內(nèi)測(cè)試信號(hào)虛警濾波方法,其特征在于,步驟d中T=0.25。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于經(jīng)驗(yàn)?zāi)B(tài)分解的設(shè)備或系統(tǒng)機(jī)內(nèi)測(cè)試信號(hào)虛警濾波方法,其特征在于所述的步驟二中衰減后分量DIMF2按如公式獲?。?/p>
其中衰減因子采用下式計(jì)算:
。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于經(jīng)驗(yàn)?zāi)B(tài)分解的設(shè)備或系統(tǒng)機(jī)內(nèi)測(cè)試信號(hào)虛警濾波方法,其特征在于所述的步驟三所述機(jī)內(nèi)測(cè)試信號(hào)的濾波信號(hào)按如下公式獲?。?/p>
。
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