[發(fā)明專利]微電子機械開關(guān)電介質(zhì)注入的測試結(jié)構(gòu)及其制備方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010200408.5 | 申請日: | 2010-06-13 |
| 公開(公告)號: | CN101887105A | 公開(公告)日: | 2010-11-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 廖小平;周易 | 申請(專利權(quán))人: | 東南大學 |
| 主分類號: | G01R31/327 | 分類號: | G01R31/327;H01P3/00;B81C99/00 |
| 代理公司: | 南京天翼專利代理有限責任公司 32112 | 代理人: | 湯志武 |
| 地址: | 211109 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微電子 機械 開關(guān) 電介質(zhì) 注入 測試 結(jié)構(gòu) 及其 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明提出了微電子機械開關(guān)的電介質(zhì)注入的測試結(jié)構(gòu)及其制備方法,屬于微電子機械系統(tǒng)的技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
微電子機械開關(guān)具有高隔離度、低插入損耗和高線性度等優(yōu)點。它的商業(yè)化卻被器件的工作穩(wěn)定性問題阻礙著,其中最重要的問題之一是發(fā)生在微電子機械開關(guān)電介質(zhì)層中的電荷注入。電介質(zhì)注入會導(dǎo)致器件工作狀態(tài)的不穩(wěn)定,因此在微電子機械開關(guān)的應(yīng)用過程中,有必要對電介質(zhì)注入進行實驗驗證。目前對微電子機械開關(guān)的電介質(zhì)注入驗證的方法是通過相關(guān)的儀器設(shè)備對普通的開關(guān)進行測試,而對開關(guān)電介質(zhì)注入的測試結(jié)構(gòu)沒有進行專門設(shè)計。為了更精確的驗證開關(guān)的電介質(zhì)注入,設(shè)計專門的微電子機械開關(guān)電介質(zhì)注入的測試結(jié)構(gòu)是有必要的。
發(fā)明內(nèi)容
技術(shù)問題:本發(fā)明的目的是提出微電子機械開關(guān)電介質(zhì)注入的測試結(jié)構(gòu)及其制備方法,實現(xiàn)對電介質(zhì)注入的精確測試,并簡化實驗過程對所需儀器設(shè)備的要求。
技術(shù)方案:本發(fā)明的微電子機械開關(guān)電介質(zhì)注入的測試結(jié)構(gòu)以砷化稼為襯底,在襯底上設(shè)有共面波導(dǎo)(Coplanar?Waveguide,簡稱CPW)、一分二功率分配器和對稱的梁結(jié)構(gòu):
CPW用于實現(xiàn)測試儀器和一分二功率分配器,一分二功率分配器和梁結(jié)構(gòu)陣列以及梁結(jié)構(gòu)陣列和測試儀器的電路連接。
一分二功率分配器由Wilkinson功率分配器構(gòu)成:一個射頻(Radio?Frequency,簡稱RF)輸入端口,與測試儀器相連;二個RF輸出端口,與二個梁結(jié)構(gòu)相連。一分二Wilkinson功率分配器以CPW連接不對稱共面帶線(Asymmetric?CoplanarStriplines,簡稱ACPS)的方式實現(xiàn),隔離電阻采用氮化鉭薄膜電阻。一分二功率分配器實現(xiàn)了把RF輸入端口的信號等分成二路輸出。
對稱的梁結(jié)構(gòu)由兩個完全一樣的梁結(jié)構(gòu)組成。這兩個梁結(jié)構(gòu)是相同的,因此在電介質(zhì)注入前它們的等效電容也相同。梁結(jié)構(gòu)可以是兩個固支梁,也可以是兩個懸臂梁。固支梁的兩個驅(qū)動電極位于CPW的信號線和地線的間隙處;懸臂梁的驅(qū)動電極位于梁下方。CPW地線被驅(qū)動電極引線隔斷的地方,通過空氣橋連接。
本發(fā)明的測試結(jié)構(gòu)把兩個相同的梁結(jié)構(gòu)與兩個可變電阻,以及電流計相連,形成一個電橋結(jié)構(gòu)。在電橋結(jié)構(gòu)中,兩個梁結(jié)構(gòu)共用一個信號輸入端,兩個可變電阻共用一個信號輸出端,兩個梁結(jié)構(gòu)分別與兩個可變電阻相連。測試時,將電流計的兩端分別搭在兩組梁結(jié)構(gòu)和可變電阻之間。每個梁的驅(qū)動電極都是獨立分開的,也就是說可以對兩個梁分別加以不同的驅(qū)動電壓。
當微電子機械開關(guān)外加驅(qū)動電壓后就會形成電介質(zhì)注入,其電容-電壓曲線(C-V曲線)會發(fā)生相應(yīng)的漂移。如果在下面四種情況下:1、兩個梁結(jié)構(gòu)外加過不同幅度的驅(qū)動電壓;2、兩個梁結(jié)構(gòu)外加過不同頻率的驅(qū)動電壓;3、兩個梁結(jié)構(gòu)外加過不同波形的驅(qū)動電壓;4、兩個梁結(jié)構(gòu)中的其中一個外加過一定的驅(qū)動電壓并保持一段時間而另外一個不加,則在進行測試的時候兩個梁結(jié)構(gòu)在同樣的驅(qū)動電壓下的等效電容會變得不同。在電橋中,兩個梁結(jié)構(gòu)與可變電阻的連接點分別設(shè)為A和C,兩個梁結(jié)構(gòu)共用的信號輸入端設(shè)為D,兩個可變電阻共用的信號輸出端設(shè)為B。通過CPW輸入測試信號,調(diào)整兩個外接的可變電阻的阻值,使得A、C兩點電位相等時,電流計G所在支路無電流流過,其讀數(shù)為零。C1、C2分別為兩個梁結(jié)構(gòu)的等效電容,R1、R2為外接可變電阻的阻值。可以分析:UAB=I1R1=UCB=I2R2,兩個支路的瞬時電流為又有Q=CU,Q=∫Idt以及UDA=UDC。所以有則有:假設(shè)C2由于電介質(zhì)注入發(fā)生了變化,通過觀察就可以知道C2相對于C1變化了多少。可見,只要實驗驗證過程直流電壓源提供足夠精確的靜電驅(qū)動電壓,可變電阻的阻值準確,本發(fā)明的微電子機械開關(guān)電介質(zhì)注入的測試結(jié)構(gòu)就能得到足夠精確的實驗結(jié)果。
微電子機械開關(guān)電介質(zhì)注入的測試結(jié)構(gòu)制備方法如下:
1)準備砷化鎵襯底;選用的是外延的半絕緣砷化鎵,
2)淀積氮化鉭,
3)光刻并刻蝕氮化鉭,形成一分二功率分配器的隔離電阻,即氮化鉭薄膜電阻,
4)光刻;去除在CPW、一分二功率分配器、梁結(jié)構(gòu)和靜電驅(qū)動電極以其引線的光刻膠,
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