[發(fā)明專(zhuān)利]基于中國(guó)余數(shù)定理的多基線、多波段InSAR相位解纏方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010188407.3
• 申請(qǐng)日: 2010-06-01
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN101866002A
• 公開(kāi)（公告）日: 2010-10-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張紅敏;徐青;靳國(guó)旺;秦志遠(yuǎn);周楊;孫偉;龔志輝
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 中國(guó)人民解放軍信息工程大學(xué)
• 主分類(lèi)號(hào): G01S13/90
• 分類(lèi)號(hào): G01S13/90
• 代理公司: 鄭州中原專(zhuān)利事務(wù)所有限公司 41109
• 代理人: 霍彥偉

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及多基線、多波段InSAR技術(shù)，特別涉及一種基于中國(guó)余數(shù)定理的多基線、多波段InSAR相位解纏方法。

背景技術(shù)

多基線、多波段InSAR(Multi-baseline/Multi-Band?Interferometric?SyntheticAperture?Radar，多基線/多波段合成孔徑雷達(dá)干涉測(cè)量)技術(shù)已經(jīng)成為InSAR技術(shù)發(fā)展的重要前沿，該技術(shù)分別利用長(zhǎng)短基線、長(zhǎng)短波長(zhǎng)干涉數(shù)據(jù)的組合優(yōu)勢(shì)，能夠解決陡峭地區(qū)混疊干涉條紋的相位解纏問(wèn)題，提高相位解纏精度，進(jìn)而提高獲取DEM的精度。

無(wú)論對(duì)于傳統(tǒng)的單基線InSAR技術(shù)，還是新興的多基線、多波段InSAR技術(shù)，相位解纏都是干涉處理的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。傳統(tǒng)的單基線InSAR干涉圖相位解纏方法大多數(shù)都基于這樣的假設(shè)：干涉圖相鄰像素間滿(mǎn)足Nyquist采樣理論，即相鄰像素的相位差不超過(guò)半周期。因此傳統(tǒng)相位解纏方法首先要根據(jù)Nyquist采樣理論確定相鄰像素間的相位梯度，然后根據(jù)一致性準(zhǔn)則，選取適當(dāng)?shù)姆e分路徑進(jìn)行積分。然而，較長(zhǎng)基線或較短波長(zhǎng)情況下獲取的陡峭地區(qū)的干涉圖可能存在欠采樣現(xiàn)象，使得這些區(qū)域不能滿(mǎn)足上述假設(shè)，從而無(wú)法進(jìn)行正確的相位解纏。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是為了提供一種基于中國(guó)余數(shù)定理的多基線、多波段InSAR相位解纏方法，它能夠較好解決較長(zhǎng)基線或較短波長(zhǎng)條件下下陡峭地區(qū)混疊干涉條紋的相位解纏問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案，本發(fā)明包括以下步驟：

①分別獲取N幅配準(zhǔn)后的兩兩基線比為有理數(shù)的多基線InSAR干涉圖或N幅多波段InSAR干涉圖，將獲取的InSAR干涉圖像素均記為φ_w1，φ_w2，…，φ_wN；

②計(jì)算各干涉圖中相鄰像素的相位差分dφ_wi；

其中，i表示不同的干涉圖的編號(hào)，i＝1，2，…，N；

③根據(jù)基線比B₁∶B₂∶…∶B_N或波長(zhǎng)比λ₁∶λ₂∶…∶λ_N構(gòu)造模數(shù)比m₁∶m₂∶…∶m_N，進(jìn)而構(gòu)造整周數(shù)n_i和剩余數(shù)f_i：

其中，