[發明專利]基于中國余數定理的多基線、多波段InSAR相位解纏方法

無效

• 申請號: 201010188407.3
• 申請日: 2010-06-01
• 公開（公告）號: CN101866002A
• 公開（公告）日: 2010-10-20
• 發明（設計）人: 張紅敏;徐青;靳國旺;秦志遠;周楊;孫偉;龔志輝
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍信息工程大學
• 主分類號: G01S13/90
• 分類號: G01S13/90
• 代理公司: 鄭州中原專利事務所有限公司 41109
• 代理人: 霍彥偉

1.一種基于中國余數定理的多基線、多波段InSAR相位解纏方法，其特征在于，它包括以下步驟：

①分別獲取N幅配準后的兩兩基線比為有理數的多基線InSAR干涉圖或N幅多波段InSAR干涉圖，將獲取的InSAR干涉圖像素均記為φ_w1，φ_w2，…φ_wN；

②計算各干涉圖中相鄰像素的相位差分dφ_wi；

其中，i表示不同的干涉圖的編號，i＝1，2，…，N；

③根據基線比B₁∶B₂∶…∶B_N或波長比λ₁∶λ₂∶…∶λ_N構造模數比m₁∶m₂∶…∶m_N，進而構造整周數n_i和剩余數f_i：

其中，

m1:m2:...mN=B1B2...BNB1:B1B2...BNB2:...B1B2...BNBN]]>或m₁∶m₂∶…m_N＝λ₁∶λ₂∶…λ_N；

④建立關于模糊相位微分的模糊數的同余方程組：

p＝n_i+k_im_i(i＝1，2，…，N)；

⑤計算p：根據中國余數定理，在內解同余方程組，得到p；

⑥計算模糊數k_j，

⑦計算解纏后的干涉相位微分dφ_ui∶dφ_ui＝dφ_wi+2π·k_i；

⑧計算干涉圖任意像元的解纏相位φ_ui，以給定的像素作為種子像素，按區域生長方法進行相位解纏。

2.根據權利要求1所述的基于中國余數定理的多基線、多波段InSAR相位解纏方法，其特征在于：所述的區域生法是指以給定的像素作為種子像素，并結合相鄰像素解纏后的干涉相位微分dφ_ui，逐像素進行相位解纏。

3.根據權利要求1或2述的基于中國余數定理的多基線、多波段InSAR相位解纏方法，其特征在于：在所述的步驟⑧后，還包括對殘差點判別與相位解纏值修正。