[發明專利]快速量測白光發光二極管顯色指數的方法

無效

• 申請號: 201010186835.2
• 申請日: 2010-05-27
• 公開（公告）號: CN101852678A
• 公開（公告）日: 2010-10-06
• 發明（設計）人: 張曉飛;王大文
• 申請（專利權）人: 大余眾能光電科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01J5/52
• 代理公司: 贛州凌云專利事務所 36116
• 代理人: 曾上

技術領域

本發明涉及一種顯色指數的量測技術，尤其是一種可以快速量測白光發光二極管顯色指數的方法。

背景技術

根據國際照明信息委員會(Commission?International?d’Eclairage，簡稱CIE)的定義，ΔE_i(i＝1～8)為8種標準顏色樣品(TCS01～TCS08)在參照光源下和在待測光源下的色差。而R_i＝100-4.6ΔE_i為8個特殊顯色指數(Special?Color?Rendering?Index)，此8個特殊顯色指數的平均值即為該光源的顯色指數(Color?Rendering?Index，簡稱CRI或Ra)。

能源之星(Energy?Star)對于LED的顯色指數有詳細的規定。但根據量測光譜計算CRI的過程極為復雜，牽涉到非常多龐大數組運算。此運算耗用了大量計算機資源，導致系統速度緩慢不適于批量生產用的量測機臺，目前一般只有積分球等研發型儀器提供此量測分析。

若光源光譜為P(λ)，根據CIE的定義該光源之XYZ坐標分別為：

X=∫P(λ)x~(λ)dλ]]>

Y=∫P(λ)y~(λ)dλ]]>

Z=∫P(λ)z~(λ)dλ]]>

其中分別為CIE定義的色匹配函數(Color?Matching?Function，簡稱CMF)。

在一顆白光LED的CRI計算過程中，需要大量這樣的XYZ坐標運算，包括量測樣品及參考樣品各別的XYZ坐標及其各別照射在各個色彩樣品上的XYZ坐標等，總共有超過50次這樣的積分運算。

而在計算機中舉凡光譜、CMF及TCS01～TCS8(標準顏色樣品)等都是以龐大的數組形式儲存，因此其乘法及積分的運算都需耗用大量的計算機資源。

但白光LED正逐漸推廣至室內及室外照明，大批量LED顯色指數的量測便成為一個懸而未決的困擾。

有鑒于此，提供一種快速量測白光發光二極管顯色指數的方法實為必要。

發明內容

本發明目的是將速度緩慢且需耗用大量的計算機資源來進行復雜的積分運算簡化為速度快、時間短，只需進行簡單之數值迭加便可獲得顯色指數，而提供一種可以快速量測白光發光二極管顯色指數的方法。

本發明技術方案：一種快速量測白光發光二極管顯色指數的方法，包含

積分數據庫儲存熒光粉及芯片光譜及對標準色采樣品的XYZ值；

LED對標準色彩樣品的XYZ值為芯片及熒光粉XYZ值的數值迭加，

表達式為：若光譜P(λ)可拆解為已知光譜P₁(λ)、P₂(λ)…等，其線性迭加LinearSuperposition