[發(fā)明專利]快速量測白光發(fā)光二極管顯色指數的方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010186835.2
• 申請日: 2010-05-27
• 公開（公告）號: CN101852678A
• 公開（公告）日: 2010-10-06
• 發(fā)明（設計）人: 張曉飛;王大文
• 申請（專利權）人: 大余眾能光電科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01J5/52
• 代理公司: 贛州凌云專利事務所 36116
• 代理人: 曾上

1.一種快速量測白光發(fā)光二極管顯色指數的方法，其特征是：

積分數據庫儲存熒光粉及芯片光譜及對標準色采樣品的XYZ值；

LED對標準色彩樣品的XYZ值為芯片及熒光粉XYZ值的數值迭加，

表達式為：若光譜P(λ)可拆解為已知光譜P₁(λ)、P₂(λ)…等，其線性迭加LinearSuperposition

P(λ)＝c₁P₁(λ)+c₂P₂(λ)+...

其中c₁，c₂為各光譜分量之強度系數，則其XYZ坐標即可以簡單之數值迭加獲得，

X＝c₁X₁+c₂X₂+…，Y＝c₁Y₁+c₂Y₂+…，Z＝c₁Z₁+c₂Z₂+…，

其中

X1=∫P1(λλx~(λλ)d]]>

X2=∫P2(λλx~(λλ)d]]>

…

Y1=∫P1(λλy~(λλ)d]]>

Y2=∫P2(λλy~(λλ)d]]>

…

Z1=∫P1(λλz~(λλ)d]]>

Z2=∫P2(λλz~(λλ)d]]>

…