[發明專利]采用真空熔鑄法制備鉻靶的方法有效
| 申請號: | 201010181628.8 | 申請日: | 2010-05-24 |
| 公開(公告)號: | CN101824599A | 公開(公告)日: | 2010-09-08 |
| 發明(設計)人: | 張紅軍;王玲玲;楊平 | 申請(專利權)人: | 陜西斯瑞工業有限責任公司 |
| 主分類號: | C23C14/34 | 分類號: | C23C14/34;C23C14/35;C23C14/14 |
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| 地址: | 710075 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 采用 真空 熔鑄 法制 備鉻靶 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種制備鉻靶的方法,尤其涉及一種采用真空熔鑄法制備鉻靶 的方法,屬于金屬材料制備技術領域。
背景技術
Cr靶主要用于磁控濺射的真空鍍膜。濺射Cr靶的純度、致密度對濺射薄膜 的性能影響很大,靶材的純度越高,濺射薄膜的性能越好。為此,應盡可能降 低靶材中的雜質含量,減少沉積薄膜的污染源,提高薄膜的均勻性。Cr靶的制 備,按工藝可分為熔煉鑄造和粉末冶金兩大類,采用粉末冶金的方法制備的Cr 靶容易含有氣孔,氣孔的存在,會導致濺射時產生不正常放電而產生雜質粒子。 熔煉法與粉末法制備的靶材相比,熔煉靶材的雜質含量低,特別足氣體雜質含 量,且高密度化、大型化;靶材的晶粒度大小可由um量級到mm量級,同一成 分的靶材,細小尺寸靶材的濺射速率要比粗晶粒者快,而晶粒尺寸相差較小的 靶材,沉積薄膜的厚度分布也比較均勻。而現有的熔煉法難以制備成分均勻、 晶粒細小的靶材。
發明內容
為了解決已有技術的不足,本發明的目的在于,提供一種制備鉻靶的新方 法,細化Cr顆粒,提高Cr靶的致密性。
本發明采用真空熔鑄法制備鉻靶,包括下述方法、步驟:
a.Cr塊的挑選:將有氧化皮、被污染的Cr塊挑出;
b.熔煉:將合格的Cr塊裝入中頻真空感應爐中,升溫速率為10-18℃/min, 熔煉溫度為1800~2000℃,保溫7-15分鐘。;
c.澆注:以0.6~0.8m/s的澆注速度快速澆注到水冷Cu模中,進行冷卻 制得Cr靶。
本發明的有益效果:將不合格的Cr塊挑出,保證了Cr靶的純度;采用水 冷Cu模,快速冷卻細化了晶粒;通過感應加熱方法,在高溫下將材料熔化;快 速澆鑄,并輔以快速冷卻,實現快速形核且抑制核長大。本發明之方法,使Cr 靶成分均勻、致密性得到顯著提高,晶粒得到顯著細化,具有純度高、工藝簡 單、成本低等優良的綜合性能。
具體實施方式
下面結合三個實施例,對本發明作進一步地說明。
實施例1采用真空熔鑄法制備鉻靶,其方法、步驟如下:
a.Cr塊的挑選:
將有氧化皮、被污染的Cr塊挑出;
b.熔煉:
將合格的Cr塊10kg裝入中頻真空感應爐中,升溫速率為18℃/min,熔煉 溫度為1800℃,保溫15分鐘;
c.澆注:
以0.6m/s的澆注速度快速澆鑄到水冷Cu模中,進行快速冷卻制得Cr靶。
實施例2采用真空熔鑄法制備鉻靶,其方法、步驟如下:
a.Cr塊的挑選:
將有氧化皮、被污染的Cr塊挑出;
b.熔煉:
將合格的Cr塊15kg裝入中頻真空感應爐中,升溫速率為10℃/min,熔煉 溫度為1900℃,保溫10分鐘;
c.澆注:
以0.7m/s的澆注速度快速澆鑄到水冷Cu模中,進行快速冷卻制得Cr靶。
實施例3
采用真空熔鑄法制備鉻靶,包括下述步驟:
a.Cr塊的挑選:
將有氧化皮、被污染的Cr塊挑出;
b.熔煉:
將合格的Cr塊10kg裝入中頻真空感應爐中,升溫速率為15℃/min,熔煉 溫度為2000℃,保溫7分鐘;
c.澆注:
以0.8m/s的澆注速度快速澆鑄到水冷Cu模中,進行快速冷卻,制得Cr 靶。
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