[發明專利]X射線檢查裝置有效
| 申請號： | 201010181213.0 | 申請日： | 2010-05-13 |
| 公開（公告）號： | CN101887131A | 公開（公告）日： | 2010-11-17 |
| 發明（設計）人： | 井筒勝典 | 申請（專利權）人： | 株式會社石田 |
| 主分類號： | G01T1/20 | 分類號： | G01T1/20 |
| 代理公司： | 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322 | 代理人： | 龍淳;劉春成 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 射線 檢查 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種X射線檢查裝置，用于輸送檢查對象物并檢測出所述檢查對象物內的異物，其包括：
X射線照射裝置，其對所述檢查對象物照射X射線；
閃爍器，在與所述輸送方向交叉的方向上延伸設置、且將由所述X射線照射裝置照射的X射線光變換為可見光；
槽縫部件，其形成有在與所述輸送方向交叉的方向上延伸設置的槽縫，并且相對于所述閃爍器被設置在所述X射線照射一側；和
光電二極管陣列，其沿著所述閃爍器的設置方向設置，檢測出通過所述閃爍器進行光變換而得到的可見光，并將該可見光變換成電信號，
所述槽縫部件的槽縫寬度比所述閃爍器的寬度小，為所述光電二極管陣列的受光寬度的1/2以上。
2.如權利要求1所述的X射線檢查裝置，其特征在于，還包括：
照射寬度調整機構，其用于調整通過所述槽縫被照射在所述閃爍器上的照射寬度。
3.如權利要求1或2所述的X射線檢查裝置，其特征在于：
所述光電二極管陣列的受光寬度與所述槽縫部件的槽縫寬度的比在1∶1至1∶3的范圍內。
4.如權利要求1或2所述的X射線檢查裝置，其特征在于：
所述閃爍器的厚度與所述槽縫部件的槽縫寬度的比在1∶1至1∶6的范圍內。
5.如權利要求3所述的X射線檢查裝置，其特征在于：
所述閃爍器的厚度與所述槽縫部件的槽縫寬度的比在1∶1至1∶6的范圍內。
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