[發明專利]放射線攝影裝置

有效

• 申請號: 201010168864.6
• 申請日: 2010-04-27
• 公開（公告）號: CN101874741A
• 公開（公告）日: 2010-11-03
• 發明（設計）人: 廣岡研;桑原章二
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 李貴亮

技術領域

本發明涉及一種可取得被檢體的透視圖像的放射線攝影裝置，特別是涉及一種具備去除在放射線穿過被檢體時所產生的散射線的放射線格柵的放射線攝影裝置。

背景技術

以往，在醫用X射線透視攝影裝置及X射線CT(computedtomography)中，為了防止來自被檢體的散射X射線(以下，簡稱為“散射線”)入射到X射線檢測器，廣泛使用去除散射線的格柵(散射線去除裝置)。但是，即使使用格柵也產生由穿過格柵的散射線所引起的偽象及由構成格柵的吸收箔所引起的偽象。特別是在以將檢測元件矩陣狀(二維矩陣狀)構成的平板式(二維)X射線檢測器(FPD：Flat?Panel?Detector)作為X射線檢測器使用的情況下，由于格柵的吸收箔的間隔和FPD的像素間隔不同所產生莫爾條紋等偽象，也在除由散射線所引起的偽象外產生。為了降低這樣的偽象就必須進行偽象校正。另外，最近，為了不引發這樣的莫爾條紋，有提案提出了一種同步型格柵，其配置方向相對于檢測元件的矩陣方向的任一方平行、且具有按FPD的像素間隔的整數倍所配置的吸收箔，并且使用該同步型格柵的校正法也是必須的(例如，參照日本特開2002-257939號公報)。

現在，關于莫爾條紋的校正，通常采用的方法是基于含有平滑濾波(スム一シング)等的圖像處理，但是，在偽象校正過剩的情況下，有直接X射線(以下，簡稱為“直接線”)的分辨率也降低的趨勢。因此，在圖像處理中當要使偽象確實降低時，甚至直接線的分辨率降低而使圖像變得不鮮明；相反地，當要重視直接線的分辨率且使圖像鮮明時，在圖像處理中不能減弱偽象，就成為所謂的圖像處理和鮮明度的折衷選擇。因此，完全的偽象處理難以實現。另外，關于即使使用格柵還殘留的散射線的校正法，也提案有各種方法，但存在在校正運算上花費時間的問題。

本發明人已經就使用上述的同步型格柵的校正法提出了以下方法，即，關于直接線由吸收箔遮蔽的像素進行校正，根據該遮蔽的像素列或者像素行求出穿過格柵的散射線分布，基于該分布對其它像素的信號進行校正。另外，該方法中還提出：將格柵和X射線檢測器的距離設為吸收箔的高度的整數倍；或按照即使X射線管這樣的放射線照射裝置、格柵及X射線檢測器的位置變化而吸收箔的陰影也收斂于一定的像素列或者像素行內的方式設定格柵的位置及吸收箔的形狀。

但是，在這樣的現有構成中，存在如下的問題點。

散射線在穿過格柵時其大部分被吸收、但其中仍有穿過格柵的。該穿過的狀況由于受到吸收箔的排列的變形的影響，所以在X射線檢測器的檢測面的各部中并非恒定。具體而言，散射線放射線的穿過狀況就寫入到X射線檢測器。這樣，散射線的影響波及到整個X射線檢測器。

為了消除該影響，可考慮下述構成，預先使由散射線的穿過狀況在X射線檢測器的各部不同所引起的、按圖像所表現的條紋(散射線的條紋模樣)作為變化率圖進行儲存，在上述那樣的圖像處理時，該散射線的條紋模樣由圖像處理去除。

但是，在上述的變化率圖上疊置有不受散射線影響的干擾(noise)(統計干擾)。由于散射線的條紋模樣隨吸收箔的變形狀況而較大地變化故難以預測，因此，變化率圖是通過使X射線對安裝有格柵的X射線檢測器進行實際碰撞而取得的。此時，到達檢測元件的放射線的輻射劑量，在各檢測元件相同得不到保證，具有一定的偏差。因此，在變化率圖上就有該偏差重疊，這即是統計干擾的原因。另外，該偏差即使在X射線檢測器上未安裝格柵時也產生，與上述的散射線的條紋模樣無關。

去除散射線的條紋模樣的圖像處理，簡而言之是通過使變化率圖與放射線透視圖像重合來進行的。由于在變化率圖上除散射線的條紋模樣外還疊置有統計干擾，因而當使變化率圖作用于圖像上時，正是重疊于變化率圖的統計干擾而多余地變更圖像的像素值，成為圖像上呈現粒狀的干擾的原因。

發明內容

本發明是鑒于這樣的事實而作成的，其目的在于，提供一種使統計干擾的影響不重疊于圖像的放射線攝影裝置。

本發明為實現這樣的目的而采用下述的構成。

即，本發明提供一種放射線攝影裝置，獲得放射線圖像，其特征在于，具備：放射線源，其照射放射線；放射線檢測裝置，其按照用于檢測放射線的多個檢測元件在行方向及列方向上二維排列的方式構成；放射線格柵，其將沿行方向延伸的吸收箔排列在列方向且去除散射線；還具備：物理量取得裝置，其求出規定的物理量，該規定的物理量用于求取二維排列的像素之像素值；物理量圖生成裝置，其對規定的物理量進行映射而生成物理量圖；物理量圖平滑化裝置，其對物理量圖中沿吸收箔的延伸方向排列的物理量排列進行平滑濾波而生成平均值圖。