[發明專利]放射線攝影裝置

有效

• 申請號: 201010168864.6
• 申請日: 2010-04-27
• 公開（公告）號: CN101874741A
• 公開（公告）日: 2010-11-03
• 發明（設計）人: 廣岡研;桑原章二
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 李貴亮

1.一種放射線攝影裝置，獲得放射線圖像，其中，

該放射線攝影裝置包含：

放射線源，其照射放射線；

放射線檢測裝置，其按照用于檢測放射線的多個檢測元件在行方向及列方向上二維排列的方式構成；

放射線格柵，其將沿所述行方向延伸的吸收箔排列在所述列方向且去除散射線；

物理量取得裝置，其求出規定的物理量，該規定的物理量用于求取二維排列的像素之像素值；

物理量圖生成裝置，其對所述規定的物理量進行映射而生成物理量圖；

物理量圖平滑化裝置，其對所述物理量圖中沿所述吸收箔的延伸方向排列的物理量排列進行平滑濾波而生成平均值圖。

2.如權利要求1所述的放射線攝影裝置，其中，

還具備：

像素指定裝置，其從構成所述放射線圖像的各像素中指定規定的像素；

強度推定裝置，其對由上述像素指定裝置所指定的在所述規定的像素的散射線強度、在所述規定的像素的直接放射線強度中的至少一種放射線強度進行推定，

并且，

(A)具備變化率計算裝置，其作為相當于所述物理量取得裝置的構成，使用根據在有所述被檢體的狀態下的實測由所述強度推定裝置所推定的所述放射線強度，由此作為與該放射線強度有關的所有像素的基準強度，求出由平均值或者平滑濾波·插值計算所求取的各像素的值，且求出與該值相應的各像素的變化率；

(B)具備變化率圖生成裝置，其作為相當于所述物理量圖生成裝置的構成，對所述各像素的變化率進行映射而生成變化率圖；

(C)具備變化率圖平滑化裝置，其作為相當于所述物理量圖平滑化裝置的構成，對所述變化率圖中沿所述吸收箔的延伸方向排列的變化率排列進行平滑濾波而生成平均值圖。

3.如權利要求2所述的放射線攝影裝置，其中，根據所述平均值圖、由所述透射率計算裝置求出的直接線透射率、在有所述另一被檢體的狀態下的實測的穿過所述散射放射線去除裝置之后的放射線強度即實測強度，所述強度推定裝置推定由所述像素指定裝置所指定的在所述規定的像素的放射線強度。

4.如權利要求1所述的放射線攝影裝置，其中，

所述物理量圖平滑化裝置將在所述物理量圖所重疊的統計干擾的影響去除。

5.如權利要求2所述的放射線攝影裝置，其中，

所述物理量圖平滑化裝置將在所述物理量圖所重疊的統計干擾的影響去除。

6.如權利要求3所述的放射線攝影裝置，其中，

所述物理量圖平滑化裝置將在所述物理量圖所重疊的統計干擾的影響去除。

7.如權利要求1～6中任一項所述的放射線攝影裝置，其中，

所述放射線格柵具有的在所述列方向上彼此鄰接的吸收箔的間隔，是所述放射線檢測裝置具有的在所述列方向上彼此鄰接的檢測元件的間隔的整數倍而同步。

8.如權利要求1～7中任一項所述的放射線攝影裝置，其中，

具備對所述放射線源和所述放射線檢測裝置進行支承的C型臂。