[發(fā)明專利]一種放射性氣體核素活度絕對(duì)測量方法及裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010168740.8
• 申請日: 2010-05-11
• 公開（公告）號(hào): CN101806910A
• 公開（公告）日: 2010-08-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李謀;代義華;白濤;劉杰;師全林;鐘振原
• 申請（專利權(quán)）人: 西北核技術(shù)研究所
• 主分類號(hào): G01T1/18
• 分類號(hào): G01T1/18
• 代理公司: 西安智邦專利商標(biāo)代理有限公司 61211
• 代理人: 王少文

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明對(duì)符合法測量活度的原理進(jìn)行了全新闡述，并將符合法應(yīng)用于放射 性氣體核素活度測量中，屬于放射性核素活度測量范疇，具體涉及到一種氣體 放射性活度測量方法。

背景技術(shù)

對(duì)于氣體核素活度絕對(duì)測量，國內(nèi)外采用長度補(bǔ)償法測量。長度補(bǔ)償法的 基本原理是采用兩根長度不同但其它條件均相同的內(nèi)充氣正比計(jì)數(shù)管記錄管內(nèi) 放射性核素發(fā)射的粒子，以兩根管子體積差之中的氣體比活度作為待測氣體核 素的放射性比活度。其具體做法是對(duì)單根計(jì)數(shù)管作壁效應(yīng)、下閾、死時(shí)間、本 底等因素校正后，將長管和短管測量的計(jì)數(shù)率相減，相當(dāng)于端效應(yīng)校正后得到 電場均勻分布空間體積(均勻效率體積)的計(jì)數(shù)率，此計(jì)數(shù)率與其體積之比就 是氣體核素的比活度。該方法在理論上存在缺陷，表現(xiàn)在假定均勻效率體積內(nèi) 探測效率為100％，實(shí)驗(yàn)中這個(gè)條件隨著β射線的能量增高很可能無法得到保證， 從而得到的比活度偏低。此外，修正項(xiàng)太多，而且壁效應(yīng)和下閾修正項(xiàng)的解決 方法也有待商榷。

符合法絕對(duì)測量放射性活度已經(jīng)有六十多年，但沒有應(yīng)用于氣體核素活度 絕對(duì)測量，主要是國內(nèi)外公知的符合方法原理是從級(jí)聯(lián)事件本身敘述，在理論 上沒有完全正確認(rèn)識(shí)符合方法原理，導(dǎo)致符合法應(yīng)用范圍受到限制，沒有將符 合法用于氣體核素活度絕對(duì)測量中。符合法測量氣體核素活度與長度補(bǔ)償法比 較有許多優(yōu)點(diǎn)，盡管國外文獻(xiàn)報(bào)道過一些采用符合技術(shù)來分析氣體核素組分和 利用核素分支比相對(duì)測量活度，但沒有采用符合法絕對(duì)測量氣體核素活度。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種放射性氣體核素活度絕對(duì)測量方法，其解決了現(xiàn) 有長度補(bǔ)償法對(duì)某些高能β射線氣體核素活度絕對(duì)測量比活度可能偏低的技術(shù) 問題，同時(shí)也是氣體核素活度絕對(duì)測量的新方法。

本發(fā)明的技術(shù)解決方案為：

一種放射性氣體核素活度絕對(duì)測量方法，其特殊之處在于：其包括以下步 驟：

1]建立氣體核素符合測量裝置：將內(nèi)充氣β射線探測器置于γ射線探測器內(nèi) (中心部位)，并與符合儀分別連接；

2]樣品制備：將氣體核素樣品和工作氣體在混氣裝置中混合均勻后，充入 內(nèi)充氣β射線探測器內(nèi)，使混合氣體壓力保持在1.5～2.0個(gè)大氣壓；

3]裝置調(diào)試：采用示波器觀察各道信號(hào)是否正常和下閾設(shè)置是否合理，下 閾設(shè)置確保不讓噪聲進(jìn)入測量道；

4]裝置性能參數(shù)測定：對(duì)裝置進(jìn)行坪曲線測量、本底測量和符合分辨時(shí)間 測量；

5]測量氣體放射性體源，并計(jì)算比活度：

5.1]β道和γ道計(jì)數(shù)率的本底扣除：

采用下列公式扣除測量的β道和γ道計(jì)數(shù)率的本底：

N_β＝N′_β-N_βb

N_γ＝N′_γ-N_γb

式中：N_β、N_γ分別表示扣除本底計(jì)數(shù)率后β道和γ道的計(jì)數(shù)率；

N`<sub>β</sub>、N`_γ分別表示氣體核素測量時(shí)測量的β道和γ道計(jì)數(shù)率；

N_βb、N_γb分別表示裝置性能參數(shù)測定時(shí)測量的β道和γ道的本底計(jì)數(shù)率；

5.2]符合道計(jì)數(shù)率的本底及偶然符合的扣除：

采用下列校正公式對(duì)符合道計(jì)數(shù)率進(jìn)行本底和偶然符合的扣除：

N_c＝N′_c-N_cb-2·τ·N′_β·N′_γ

式中：N_c表示扣除本底和偶然符合后的符合道計(jì)數(shù)率；

??????N`_c表示氣體核素測量時(shí)測量的符合道計(jì)數(shù)率；

??????N_cb表示裝置性能參數(shù)測定時(shí)測量符合道的本底計(jì)數(shù)率；

??????τ表示裝置性能參數(shù)測定時(shí)測量的符合分辨時(shí)間；

??????N`<sub>β</sub>、N`_γ分別表示氣體核素測量時(shí)測量的β道和γ道計(jì)數(shù)率；

5.3]活度計(jì)算：

采用下列公式計(jì)算一次符合測量時(shí)氣體計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的活度：