[發明專利]一種放射性氣體核素活度絕對測量方法及裝置

無效

• 申請號: 201010168740.8
• 申請日: 2010-05-11
• 公開（公告）號: CN101806910A
• 公開（公告）日: 2010-08-18
• 發明（設計）人: 李謀;代義華;白濤;劉杰;師全林;鐘振原
• 申請（專利權）人: 西北核技術研究所
• 主分類號: G01T1/18
• 分類號: G01T1/18
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 王少文

1.一種放射性氣體核素活度絕對測量方法，其特征在于其包括以下步驟：

1]建立氣體核素符合測量裝置：將內充氣β射線探測器置于γ射線探測器內 的中心部位，并與符合儀(11)分別連接；

2]樣品制備：將氣體核素樣品和工作氣體在混氣裝置中混合均勻后，充入 內充氣β射線探測器內，使混合氣體壓力保持在1.5～2.0個大氣壓；

3]裝置調試：采用示波器觀察各道信號是否正常和下閾設置是否合理，下 閾設置確保不讓噪聲進入測量道；

4]裝置性能參數測定：對裝置進行坪曲線測量、本底測量和符合分辨時間 測量；

5]測量氣體放射性體源，并計算比活度：

5.1]β道和γ道計數率的本底扣除：

采用下列公式扣除測量的β道和γ道計數率的本底：

N_β＝N′_β-N_βb

N_γ＝N′_γ-N_γb

式中：N_β、N_γ分別表示扣除本底計數率后β道和γ道的計數率；

N`<sub>β</sub>、N`_γ分別表示氣體核素測量時測量的β道和γ道計數率；

N_βb、N_γb分別表示裝置性能參數測定時測量的β道和γ道的本底計數率；

5.2]符合道計數率的本底及偶然符合的扣除：

采用下列校正公式對符合道計數率進行本底和偶然符合的扣除：

N_c＝N′_c-N_cb-2·τ·N′_β·N′_γ

式中：N_c表示扣除本底和偶然符合后的符合道計數率；

N`_c表示氣體核素測量時測量的符合道計數率；

N_cb表示裝置性能參數測定時測量符合道的本底計數率；

τ表示裝置性能參數測定時測量的符合分辨時間；

N`<sub>β</sub>、N`_γ分別表示氣體核素測量時測量的β道和γ道計數率；

5.3]活度計算：

采用下列公式計算一次符合測量時氣體計數管內氣體核素的活度：

A=Nβ·NγNc]]>

式中：A表示計數管內氣體核素的活度；

N_β、N_γ分別表示扣除本底計數率后β道和γ道的計數率；

N_c表示扣除本底和偶然符合后的符合道計數率；

5.4]比活度計算：

采用下列公式計算氣體計數管內氣體核素的比活度：

Av=AV]]>

式中：A_v表示計數管內氣體核素的比活度；

A表示計數管內氣體核素的活度；

V表示計數管的體積。

2.根據權利要求1所述的放射性氣體核素活度絕對測量方法，其特征在于： 所述內充氣β射線探測器為氣體計數管，所述γ射線探測器為NaI(Tl)探測器。