[發明專利]壓電致動器的處理設備和壓電致動器的處理方法

有效

• 申請號: 201010165587.3
• 申請日: 2010-04-16
• 公開（公告）號: CN101866654A
• 公開（公告）日: 2010-10-20
• 發明（設計）人: 井上勝;大河原收;淵野英己
• 申請（專利權）人: 日本發條株式會社
• 主分類號: G11B5/55
• 分類號: G11B5/55
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 張鑫;袁逸

1.一種用于檢查盤驅動器懸架(10)的壓電致動器(15)的處理設備(60)，所述壓電致動器(15)包括：設置在第一電極(31)和第二電極(32)之間的壓電本體(30)；附連于所述第一電極(31)并包括摻雜有金屬填充物(40b)的基質樹脂(40a)的導電樹脂(40)；通過所述導電樹脂(40)對所述第一電極(31)導電的第一導電部分(41)以及電絕緣于所述第一導電部分(41)并對第二電極(32)導電的第二導電部分(46)，所述處理設備(60)的特征在于，包括：

通過測量探頭(62、63)連接于所述第一導電部分(41)和所述第二導電部分(46)的電路(61)；

通過所述測量探頭(62、63)在所述第一導電部分(41)和所述第二導電部分(46)之間施加AC波形電壓(V₂)的AC電壓源(70)，所述AC波形電壓(V₂)是通過將偏置電壓(V_B)加上用于電容測量的AC電壓(V₁)獲得的；

在施加所述AC波形電壓(V₂)的瞬間，基于偏置電壓(V_B)的電位差通過所述電路(61)中產生的涌入電流使所述導電樹脂(40)中發生介電擊穿由此確保導電性的涌入電流生成裝置(71)；

在確保所述導電樹脂(40)導通的情況下通過所述AC波形電壓(V₂)測量所述壓電本體(30)的電容并基于測得的電容判斷所述壓電本體(30)是否正常的判斷裝置(75)；以及

顯示由所述判斷裝置(75)作出的判斷結果的顯示裝置(76)。

2.一種用于檢查盤驅動器懸架(10)的壓電致動器(15)的處理方法，所述壓電致動器(15)包括：設置在第一電極(31)和第二電極(32)之間的壓電本體(30)；附連于所述第一電極(31)并包括摻雜有金屬填充物(40b)的基質樹脂(40a)的導電樹脂(40)；通過所述導電樹脂(40)對所述第一電極(31)導電的第一導電部分(41)以及電絕緣于所述第一導電部分(41)并對所述第二電極(32)導電的第二導電部分(46)，所述處理方法的特征在于，包括：

通過使測量探頭(62、63)接觸所述第一導電部分(41)和所述第二導電部分(42)而形成電路(61)；

向所述電路(61)施加AC波形電壓(V₂)，所述AC波形電壓(V₂)是通過將偏置電壓(V_B)加上用于電容測量的AC電壓(V₁)而獲得的；

在施加所述AC波形電壓(V₂)的瞬間，基于所述偏置電壓(V_B)的電位差通過電路(61)中產生的涌入電流使所述導電樹脂(40)中發生介電擊穿，由此確保導通；

在所述涌入電流產生后確保所述導電樹脂(40)導通的情況下，通過所述AC波形電壓(V₂)測量所述壓電本體(30)的電容；

基于測得的電容判斷所述壓電本體(30)是否正常；以及

顯示判斷結果。