[發明專利]芯片引線鍵合區及應用其的半導體器件無效
| 申請號: | 201010165005.1 | 申請日: | 2010-04-29 |
| 公開(公告)號: | CN102044514A | 公開(公告)日: | 2011-05-04 |
| 發明(設計)人: | 周華棟 | 申請(專利權)人: | 中穎電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/485 | 分類號: | H01L23/485;H01L23/495 |
| 代理公司: | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 鄭瑋 |
| 地址: | 200335 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 芯片 引線 鍵合區 應用 半導體器件 | ||
1.一種芯片引線鍵合區,其特征在于,包括:
多個區;
其中,所述多個區之間相互齒合。
2.根據權利要求1所述的芯片引線鍵合區,其特征在于,所述多個區之間具有絕緣隔離結構。
3.根據權利要求1所述的芯片引線鍵合區,其特征在于,所述多個區為兩個。
4.根據權利要求1所述的芯片引線鍵合區,其特征在于,所述鍵合區的材料為鋁。
5.一種半導體器件,其特征在于,包括:
芯片;
多個鍵合區,設置于所述芯片上;
引線框架;
所述每一個鍵合區包括多個區;
所述多個區通過同一條引線與所述引線框架鍵合。
6.根據權利要求5所述的半導體器件,其特征在于,所述多個區相互齒合。
7.根據權利要求5所述的半導體器件,其特征在于,所述多個區為兩個。
8.根據權利要求5所述的半導體器件,其特征在于,所述多個區之間具有絕緣隔離結構。
9.根據權利要求5所述的半導體器件,其特征在于,所述鍵合區的材料為鋁。
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