[發(fā)明專利]球柵陣列封裝切片試塊的制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010161815.X | 申請(qǐng)日: | 2010-03-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101846601A | 公開(公告)日: | 2010-09-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何世舒;洪家輝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 偉創(chuàng)力電子科技(上海)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N1/28 | 分類號(hào): | G01N1/28;G01N1/32;G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 陶鳳波 |
| 地址: | 201801 上*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 陣列 封裝 切片 制作方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種球柵陣列封裝切片試塊的制作方法。
背景技術(shù)
隨著電子產(chǎn)品日新月異的發(fā)展,為了更加小型化、輕量化、強(qiáng)功能和高可靠性,要求隨之發(fā)展相應(yīng)的封裝技術(shù),因此產(chǎn)生且正在高速發(fā)展球柵陣列封裝(Ball?Grid?Array?Package,BGA)。BGA的優(yōu)點(diǎn)主要為:具有更多的I/O;易于組裝;自感和互感??;體積小。然而,正因?yàn)榫哂羞@樣的優(yōu)點(diǎn),同時(shí)也帶來(lái)相應(yīng)的缺點(diǎn)。其缺點(diǎn)之一是焊點(diǎn)的檢測(cè)相對(duì)困難。目前對(duì)BGA的檢測(cè)多為兩種,即X光檢測(cè)和切片檢測(cè)。前者為常規(guī)檢測(cè),適合于宏觀的檢測(cè),重點(diǎn)檢查元件的焊接是否良好,即焊接是否有短路、空焊,元件是否有偏移;后者是對(duì)焊點(diǎn)分析性質(zhì)的破壞性檢測(cè)方法,主要檢測(cè)焊點(diǎn)是否有虛焊或焊縫等微觀的缺陷。
BGA切片試塊的制作,多采用將切片固定在模具中,然后對(duì)其填充例如環(huán)氧樹脂的可硬化樹脂,待可硬化樹脂硬化后,進(jìn)行拋磨至預(yù)定的檢測(cè)位置。現(xiàn)有技術(shù)的BGA切片試塊制作包括如下步驟:從印刷電路板組件(以下簡(jiǎn)稱PCBA板)的選定位置切割BGA切片;在模具中固定BGA切片,并且填充可固化樹脂;粗砂紙研磨;細(xì)砂紙研磨;金剛石拋光液拋磨;以及精細(xì)金剛石拋光液拋磨。這樣制作出來(lái)的切片試塊,例如,通過(guò)金相顯微鏡檢測(cè),來(lái)對(duì)檢測(cè)點(diǎn)的狀況進(jìn)行判斷。然而,因?yàn)锽GA焊點(diǎn)排列密集,所以在填充可硬化樹脂時(shí)難于填充所有的縫隙。由于未填充縫隙的存在,在拋磨過(guò)程中,縫隙中會(huì)滯留大量的拋磨殘?jiān)臀畚?。這樣的拋磨殘?jiān)臀畚飼?huì)在后期的拋光過(guò)程中不斷滲出,在切片表面上造成劃痕或凹坑。為了在拋磨過(guò)程中清除拋磨殘?jiān)臀畚铮枰ㄉ洗罅康臅r(shí)間進(jìn)行人工清理,且難于取得理想的切片試塊。圖10給出了采用現(xiàn)有技術(shù)制作的切片試塊在電子顯微鏡下拍攝的照片。其上的黑色凹坑與焊接缺陷混雜在一起,難以區(qū)分是拋磨過(guò)程中產(chǎn)生的凹坑還是焊接缺陷。
發(fā)明內(nèi)容
為此,本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種球柵陣列封裝切片試塊的制作方法,該方法能夠?qū)崿F(xiàn)在切片試塊拋磨過(guò)程中易于清除拋磨殘?jiān)臀畚铮苊馇衅砻娈a(chǎn)生劃痕或凹坑,進(jìn)而提高切片的金相顯微鏡檢測(cè)質(zhì)量。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明所提供的球柵陣列封裝切片試塊的制作方法包括這樣的步驟:從PCBA板的選定位置切割BGA切片;在模具中固定BGA切片,并且填充可固化樹脂;待可硬化樹脂硬化后的第一砂紙研磨;第一砂紙研磨后的第二砂紙研磨;第一超聲波清洗;第一金剛石拋光液拋磨;第二超聲波清洗;以及第二金剛石拋光液拋磨,其中所述第一超聲波清洗和所述第二超聲波清洗的清洗時(shí)間均優(yōu)選為4至6分鐘,更優(yōu)選均為5分鐘。
作為本發(fā)明的優(yōu)選方式,所述在模具中固定BGA切片包括采用卷繞式塑料平衡夾或雙面膠帶固定該BGA切片。因?yàn)槟>叩男螤顬閳A柱狀,類似于燒杯的容器,而BGA切片的形狀根據(jù)檢測(cè)位置的不同多為不規(guī)則形狀,且BGA切片應(yīng)當(dāng)豎立在模具中,所以通過(guò)卷繞式塑料平衡夾或雙面膠帶將該BGA切片固定在模具中所占空間很小,且不影響其后的填充可硬化樹脂的操作。對(duì)于較小的BGA切片,優(yōu)選采用雙面膠帶固定;對(duì)于較大的BGA切片,優(yōu)選采用卷繞式塑料平衡夾固定。
作為本發(fā)明的另一種優(yōu)選方式,所述填充可硬化樹脂包括填充活性環(huán)氧樹脂或光敏硬化樹脂。填充活性環(huán)氧樹脂后經(jīng)過(guò)大約4個(gè)小時(shí)的自然固化,或者填充光敏硬化樹脂后經(jīng)過(guò)光照,這些樹脂被硬化,于是形成由活性環(huán)氧樹脂或光敏硬化樹脂圍繞BGA切片而形成的BGA切片試塊毛坯,其形狀取決于模具的形狀。因?yàn)檫@樣的樹脂粘度小、流動(dòng)性強(qiáng)、且固化能力很強(qiáng),因此形成堅(jiān)固的BGA切片試塊毛坯,避免了BGA切片在其后的拋磨過(guò)程中受到破壞。
作為本發(fā)明的另一種優(yōu)選方式,所述第一砂紙研磨依次包括采用砂紙粒度為100至150目的砂紙研磨、采用砂紙粒度為500至800目的砂紙研磨、及其后采用砂紙粒度為1000至1500目的砂紙研磨。根據(jù)BGA切片試塊毛坯拋磨量的大小,第一砂紙研磨的砂紙粒度由粗到細(xì)選擇三種砂紙粒度的砂紙進(jìn)行粗研磨,可以減少研磨時(shí)間,提高研磨速度,降低檢驗(yàn)成本。
作為本發(fā)明的另一種優(yōu)選方式,所述第二砂紙研磨依次包括采用砂紙粒度為2000至2500目的砂紙研磨及其后采用砂紙粒度為2500至4000目的砂紙研磨。這樣,可以通過(guò)2000至2500目的砂紙研磨而將第一砂紙研磨留下的研磨痕跡基本上得到去除,而后通過(guò)砂紙粒度為2500至4000目的砂紙研磨而使研磨表面達(dá)到拋光前所需的表面光潔度,從而減少其后的拋光時(shí)間,降低成本。
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