[發明專利]一種超聲波探傷儀小管徑探頭校準方法無效
| 申請號: | 201010161316.0 | 申請日: | 2010-04-30 |
| 公開(公告)號: | CN101806779A | 公開(公告)日: | 2010-08-18 |
| 發明(設計)人: | 符豐 | 申請(專利權)人: | 符豐 |
| 主分類號: | G01N29/30 | 分類號: | G01N29/30 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 四川省成都市成華區*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 超聲波 探傷 儀小管徑 探頭 校準 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種儀器校準方法,尤其涉及一種適用于內、外徑之比大于55%,外徑小于100.0mm筒形鍛件、無縫鋼管、直縫焊管或軸類工件外圓周向校準的超聲波探傷儀小管徑探頭校準方法。
背景技術
目前探傷使用人員只能夠根據探頭生產廠家提供的K值,測量探頭的前沿b與超聲波在探頭內部所走的距離a,計算缺陷所在的位置。但是往往探頭所標的K值,探頭前沿b與超聲波在探頭內部所走的距離a與實際的值存在一定的偏差,再加上探頭使用過程中造成了損耗,K值與a會發生相應的變化,但是使用人員無法判斷和校準,當探頭磨損到一定程度,缺陷的定位會出現偏差,當偏差增大到一定程度,探傷使用人員只能更換探頭,這樣就大大提高了使用方的成本。
發明內容
針對上述現有技術存在的問題,本發明目的在于提供了一種超聲波探傷儀小管徑探頭校準方法,彌補了現有技術對小管徑探頭校準K值,探頭前沿b與探頭內部聲程a的空白,同時降低探頭的損耗成本。
本發明的技術方案是:一種超聲波探傷儀小管徑探頭校準方法,包括一超聲波探傷儀,其通過探頭發射超聲波進行工件探傷,依次包括以下步驟:
1)制作試塊:取一材質的聲學性能與被檢工件相同的板材,在其上以O2點為圓心,以被檢工件外圓半徑R2畫弧,以該弧中點O1為圓心,取半徑R1畫另一弧,再以兩弧所包圍區域內一點為圓心鉆通孔,該孔直徑為φ,該孔至半徑R2弧的距離為h,且半徑R2弧上過該孔的法線與該弧交點至O1弧長為該弧弧長的1/4,將兩弧所包圍區域以外部分銑掉既形成校準試塊;
2)使用外圓弧探頭在試塊半徑R2弧弧面上點O1附近來回移動,直到超聲波探傷儀上顯示超聲波在半徑R1弧處產生最高反射波,得到回波聲程S1,此時測量O1點到探頭最前沿的距離,該距離即為探頭前沿b,繼續移動外圓弧探頭直到超聲波探傷儀上顯示超聲波在孔處產生最高反射波,得到回波聲程S;
3)按照下述數學模型得到探頭內部聲程a及探頭K值:
探頭內部聲程a:a=S1-R1
探頭K值:β=COS-1[R22+(S+φ/2)2-(R2-h)2]/2R2(S+φ/2),tgβ=K。
本發明的有益效果是:第一在于為用戶提供了試塊的制作方法,用戶無需再自己設計試塊。第二在于適用于本發明的試塊體積小,重量輕,攜帶方便,適用于完成野外探傷工程的用戶隨時完成校準。第三在于彌補了目前超聲波探傷儀器不具備小管徑探頭校準的功能,大大提高了探頭的使用周期和對探頭K值,探頭前沿b和探頭內部聲程a的準確度,從而在探傷過程中對缺陷的定位將更加準確。
附圖說明
圖1為本發明實施例的操作示意圖。
具體實施方式
作為本發明的一種實施方式,如圖1所示,一種超聲波探傷儀小管徑探頭校準方法,包括一超聲波探傷儀,其通過探頭發射超聲波進行工件探傷,依次包括以下步驟:
1)制作試塊:取一材質的聲學性能與被檢工件相同的板材,在其上以O2點為圓心,以被檢工件外圓半徑R2畫弧,以該弧中點O1為圓心,取半徑R1畫另一弧,再以兩弧所包圍區域內一點為圓心鉆通孔3,該孔3直徑為φ,該孔3至半徑R2弧的距離為h,且半徑R2弧上過該孔3的法線與該弧交點至O1弧長為該弧弧長的1/4,將兩弧所包圍區域以外部分銑掉既形成校準試塊1;
2)使用外圓弧探頭2在試塊1半徑R2弧弧面上點O1附近來回移動,直到超聲波探傷儀上顯示超聲波在半徑R1弧處產生最高反射波,得到回波聲程S1,此時測量O1點到探頭2最前沿的距離,該距離即為探頭前沿b,繼續移動外圓弧探頭2直到超聲波探傷儀上顯示超聲波在孔3處產生最高反射波,得到回波聲程S;
3)按照下述數學模型得到探頭內部聲程a及探頭K值:
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