[發(fā)明專利]信號(hào)測(cè)試裝置

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010156516.7
• 申請(qǐng)日: 2010-04-01
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102213743A
• 公開(kāi)（公告）日: 2011-10-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃嵐;林祖成
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 英業(yè)達(dá)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/3177
• 分類號(hào): G01R31/3177
• 代理公司: 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205
• 代理人: 劉芳

1.一種信號(hào)測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

一連接器，具有多個(gè)接腳；

一復(fù)雜可編程邏輯裝置芯片，具有多組測(cè)試信號(hào)接腳、一第一控制接腳與一第二控制接腳，所述第一控制接腳接收一第一邏輯信號(hào)，所述第二控制接腳接收一第二邏輯信號(hào)，所述復(fù)雜可編程邏輯裝置芯片根據(jù)所述第一邏輯信號(hào)與所述第二邏輯信號(hào)的邏輯狀態(tài)，而將所述多組測(cè)試信號(hào)接腳其中的一組連接所述連接器的多個(gè)接腳，以輸出一測(cè)試信號(hào)至所述連接器，以進(jìn)行測(cè)試；以及

一邏輯單元，連接所述第一控制接腳與所述第二控制接腳，用以產(chǎn)生所述第一邏輯信號(hào)與所述第二邏輯信號(hào)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的信號(hào)測(cè)試裝置，其特征在于，所述邏輯單元包括：

一第一電阻，其第一端連接所述第一控制接腳，其第二端連接至一電壓源；

一第一開(kāi)關(guān)，其第一端連接所述第一電阻的第一端，其第二端連接至地端；

一第二電阻，其第一端連接所述第二控制接腳，其第二端連接至該電壓源；以及

一第二開(kāi)關(guān)，其第一端連接所述第二電阻的第一端，其第二端連接至地端。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的信號(hào)測(cè)試裝置，其特征在于，所述多組測(cè)試信號(hào)接腳包括所述復(fù)雜可編程邏輯裝置芯片的測(cè)試信號(hào)接腳、中央處理器的測(cè)試信號(hào)接腳、平臺(tái)控制器集線器測(cè)試信號(hào)接腳及網(wǎng)絡(luò)接口控制器測(cè)試信號(hào)接腳。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的信號(hào)測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試信號(hào)為聯(lián)合測(cè)試工作組信號(hào)。