[發(fā)明專利]環(huán)境友好半導(dǎo)體材料Mg2Si薄膜的磁控濺射制備工藝有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010147304.2 | 申請(qǐng)日: | 2010-04-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101798680A | 公開(公告)日: | 2010-08-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 謝泉;肖清泉;張晉敏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 貴州大學(xué) |
| 主分類號(hào): | C23C14/35 | 分類號(hào): | C23C14/35;C23C14/06;C23C14/58 |
| 代理公司: | 貴陽(yáng)中新專利商標(biāo)事務(wù)所 52100 | 代理人: | 吳無(wú)懼 |
| 地址: | 550025 貴*** | 國(guó)省代碼: | 貴州;52 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 環(huán)境友好 半導(dǎo)體材料 mg sub si 薄膜 磁控濺射 制備 工藝 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種環(huán)境友好半導(dǎo)體材料Mg2Si薄膜的制備工藝。
背景技術(shù)
Mg2Si材料不僅具有良好的半導(dǎo)體性能,擁有約0.78?eV的帶隙寬度,而且Si?、Mg元素的資源壽命極長(zhǎng),地層蘊(yùn)藏量大,能循環(huán)利用,對(duì)地球無(wú)污染,屬于環(huán)境友好半導(dǎo)體材料。如今,Mg2Si作為很有應(yīng)用前景的光電與熱電材料,成為該領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)之一。
在現(xiàn)有的環(huán)境友好半導(dǎo)體Mg2Si薄膜的制備方法中,通常采用分子束外延、離子束濺射等制備方法。分子束外延生長(zhǎng)方法具有可得到高純度、高性能的外延薄膜,精確地控制外延層厚度等優(yōu)點(diǎn),但其設(shè)備價(jià)格高昂,維護(hù)費(fèi)用高,更重要的是分子束外延生長(zhǎng)方法不適用于工業(yè)化的大規(guī)模批量生產(chǎn),常用于基礎(chǔ)科研。而離子束濺射方法濺射的薄膜均勻性比較差、鍍膜效率比較低。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是,提供一種新的環(huán)境友好半導(dǎo)體材料Mg2Si薄膜的制備工藝,以克服現(xiàn)有技術(shù)存在的分子束外延生長(zhǎng)方法不適用于工業(yè)化的大規(guī)模批量生產(chǎn),或離子束濺射方法濺射的薄膜均勻性比較差、鍍膜效率比較低等不足。
為了解決所述的技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明采取以下技術(shù)方案:
該方案包括以下過(guò)程:
首先,清洗Si基片;其次,將清洗后的Si基片送入真空磁控濺射系統(tǒng)的濺射室,在Si單晶上沉積Mg膜,形成Si/Mg薄膜結(jié)構(gòu);最后,將Si/Mg薄膜結(jié)構(gòu)放置于真空退火爐內(nèi)在氬氣氛圍下350-550℃退火3-8小時(shí),形成環(huán)境友好半導(dǎo)體Mg2Si薄膜。
在濺射Mg膜前,先對(duì)預(yù)先裝在濺射室的Mg預(yù)濺射,去除Mg靶上的氧化物。
退火前對(duì)退火爐抽真空,使其背底真空小于等于10-3Pa時(shí)往真空退火爐內(nèi)通入氬氣。
退火過(guò)程中,保持退火爐腔體內(nèi)氬氣氣壓為10-104Pa的氬氣氛圍。
采用高真空磁控濺射系統(tǒng)在Si單晶上沉積200-500nmMg膜。
室溫下濺射沉積條件如下:濺射氣壓0.5Pa-3.0?Pa,氬氣流量5sccm-30sccm,濺射功率60W~110?W。
以往,即使有人采用采用高真空磁控濺射方法想制備Mg2Si薄膜,若選用熱處理方式不對(duì),也不能制備出Mg2Si薄膜。而本發(fā)明采用封閉氬氣氛圍下退火方式,制備出了高質(zhì)量的環(huán)境友好半導(dǎo)體Mg2Si薄膜。因?yàn)榘凑胀ǔM嘶鸱绞剑褪遣捎谜婵涨闆r下熱處理,達(dá)到防氧化目的。若制備Mg2Si薄膜采用真空情況下熱處理,雖防止了氧化,但由于金屬M(fèi)g在高溫下具有揮發(fā)性,所以在熱處理的過(guò)程中Mg揮發(fā),制備不了Mg2Si薄膜。本發(fā)明采用的新的熱處理方式,即首先對(duì)退火爐抽真空,抽成高真空,然后往退火爐內(nèi)通入大量氬氣,之后封閉,這樣在封閉的、氬氣氛圍下熱處理,制備了Mg2Si薄膜。這種熱處理方式,既防氧化又防揮發(fā)。首先對(duì)退火爐抽真空,后又通入氬氣,這樣防氧化;然后封閉退火爐,這樣可以抑制揮發(fā),制備出Mg2Si薄膜。
環(huán)境友好半導(dǎo)體Mg2Si薄膜由地球上儲(chǔ)量極為豐富的Si、Mg兩種元素組成,長(zhǎng)期使用也對(duì)生物體和環(huán)境無(wú)毒無(wú)害,帶隙約0.78eV,屬于新型環(huán)境友好環(huán)境友好半導(dǎo)體材料,可用于環(huán)境友好半導(dǎo)體光電與熱電領(lǐng)域,如太陽(yáng)能電池、紅外探測(cè)器等。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的磁控濺射法具有鍍膜層與基片的結(jié)合力強(qiáng)、鍍膜層致密、均勻等優(yōu)點(diǎn),更重要的是適用于工業(yè)化的大規(guī)模批量生產(chǎn)。此外,采用封閉、氬氣氛圍熱處理方式,有利于Mg2Si薄膜的形成。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明的500℃、5小時(shí)退火條件下不同濺射功率制備的Mg2Si薄膜的X射線衍射圖;
圖2-圖7為本發(fā)明的500℃、5小時(shí)退火條件下不同濺射功率制備的Mg2Si薄膜的掃描電鏡圖;其濺射功率分別為:60W、70W、80W、90W、100W、110W;
圖8為400℃、5小時(shí)退火條件下不同Mg膜厚度的X射線衍射圖;
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C23C 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C14-00 通過(guò)覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進(jìn)行鍍覆
C23C14-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
C23C14-58 .后處理
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