[發明專利]記錄設備有效
| 申請號: | 201010144738.7 | 申請日: | 2010-03-29 |
| 公開(公告)號: | CN101850656A | 公開(公告)日: | 2010-10-06 |
| 發明(設計)人: | 加藤重己;伊藤孝治;日比學;大澤直勝 | 申請(專利權)人: | 兄弟工業株式會社 |
| 主分類號: | B41J2/045 | 分類號: | B41J2/045 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人: | 孫志湧;穆德駿 |
| 地址: | 日本愛知*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 記錄 設備 | ||
1.一種記錄設備,包括:具有噴射表面的記錄頭,其中從所述噴射表面噴射液體;和具有帶有傳送表面的傳送構件的傳送裝置,所述傳送表面與所述噴射表面相對并且在所述傳送表面上放置記錄介質,所述傳送裝置被配置為通過移動所述傳送構件來在傳送方向上傳送所述記錄介質,
所述記錄設備的特征在于,
所述記錄設備進一步包括第一吸引裝置和第二吸引裝置,每一個吸引裝置均被配置為允許放置在所述傳送表面上的所述記錄介質被吸引到所述傳送表面,
所述第一吸引裝置包括:第一電極和第二電極,在所述記錄介質被放置在所述傳送表面上時,每一個電極均與所述記錄介質的一個表面相對,其中所述記錄介質的所述一個表面與所述記錄介質的面向所述噴射表面的另一表面相反;和第一電壓施加器,被配置為在所述第一電極和所述第二電極之間施加電壓,并且
所述第二吸引裝置包括:放電體和第三電極,所述記錄介質和所述傳送構件中的至少一個被夾在所述放電體和所述第三電極之間;和第二電壓施加器,被配置為在所述放電體和所述第三電極之間施加電壓,所述第二吸引裝置被配置為使所述記錄介質和所述傳送構件中的至少一個帶電。
2.根據權利要求1的記錄設備,進一步包括:被配置為探測濕度的濕度探測器;和控制器,所述控制器被配置為基于由所述濕度探測器探測到的濕度來控制將由所述第一電壓施加器施加的電壓和將由所述第二電壓施加器施加的電壓中的至少一個。
3.根據權利要求2的記錄設備,其中所述控制器被配置為基于由所述濕度探測器探測到的濕度來控制將由所述第一電壓施加器施加的電壓和將由所述第二電壓施加器施加的電壓中的所述至少一個,使得把放置在所述傳送表面上的所述記錄介質吸引到所述傳送表面的吸引力被保持在規定范圍內。
4.根據權利要求2的記錄設備,其中所述控制器被配置為在由所述濕度探測器探測到的濕度低于為所述第一電壓施加器設定的第一閾值濕度的情形中降低將由所述第一電壓施加器施加的電壓。
5.根據權利要求4的記錄設備,其中所述控制器被配置為在由所述濕度探測器探測到的濕度低于所述第一閾值濕度的情形中把將由所述第一電壓施加器施加的電壓降低至零。
6.根據權利要求2到5中任一項的記錄設備,其中所述控制器被配置為在由所述濕度探測器探測到的濕度高于為所述第二電壓施加器設定的第二閾值濕度的情形中降低將由所述第二電壓施加器施加的電壓。
7.根據權利要求6的記錄設備,其中所述控制器被配置為在由所述濕度探測器探測到的濕度高于所述第二閾值濕度的情形中把將由所述第二電壓施加器施加的電壓降低至零。
8.根據權利要求1的記錄設備,進一步包括:電阻探測器,所述電阻探測器被配置為探測將被放置在所述傳送表面上的所述記錄介質的電阻;以及控制器,所述控制器被配置為基于由所述電阻探測器探測到的所述記錄介質的電阻來控制將由所述第一電壓施加器施加的電壓和將由所述第二電壓施加器施加的電壓中的至少一個。
9.根據權利要求8的記錄設備,其中所述控制器被配置為基于由所述電阻探測器探測到的所述記錄介質的電阻判斷所述記錄介質的類型,并且基于所述判斷來控制將由所述第一電壓施加器施加的電壓和將由所述第二電壓施加器施加的電壓中的至少一個。
10.根據權利要求9的記錄設備,其中所述控制器被配置為判斷所述記錄介質的相反表面中的一個已經通過所述記錄頭進行了記錄還是所述記錄介質的相反表面中的兩個表面都還沒有通過所述記錄頭進行記錄,來作為所述記錄介質的類型,并且基于所述判斷來控制將由所述第一電壓施加器施加的電壓和將由所述第二電壓施加器施加的電壓中的至少一個。
11.根據權利要求9的記錄設備,其中所述控制器被配置為判斷所述記錄介質為普通紙還是用于相片打印的相紙,來作為所述記錄介質的類型,并且基于所述判斷來控制將由所述第一電壓施加器施加的電壓和將由所述第二電壓施加器施加的電壓中的至少一個。
12.根據權利要求1的記錄設備,其中所述第一電極和所述第二電極被放置為與所述傳送構件的下述表面接觸,其中所述表面是與所述傳送表面相反的表面。
13.根據權利要求1的記錄設備,其中所述第一電極和所述第二電極被固定到所述傳送構件。
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