[發明專利]放射線成像設備及其暗電流校正方法

有效

• 申請號: 201010141919.4
• 申請日: 2010-03-31
• 公開（公告）號: CN101849834A
• 公開（公告）日: 2010-10-06
• 發明（設計）人: 松浦友彥
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00;G01T1/16
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇;陳立航

1.一種放射線成像設備，用于獲得被攝體的放射線圖像，所述放射線成像設備包括：

照射單元；

放射線檢測單元，用于檢測放射線；

指示單元，用于發出放射線成像開始指示；

設置單元，用于設置所述指示單元發出成像開始指示的時刻和開始所述照射單元的照射的時刻之間的照射延遲時間；

第一獲取單元，用于在所述設置單元所設置的照射延遲時間期間，從所述放射線檢測單元獲取多個暗電流圖像；

第二獲取單元，用于在所述設置單元所設置的照射延遲時間結束之后，從所述放射線檢測單元獲取所述被攝體的放射線圖像；

校正數據生成單元，用于基于所述第一獲取單元所獲取的多個暗電流圖像，生成對于所述第二獲取單元所獲取的放射線圖像的校正數據；以及

校正單元，用于通過使用所述校正數據生成單元所生成的校正數據，對所述第二獲取單元所獲取的放射線圖像執行暗電流校正處理。

2.根據權利要求1所述的放射線成像設備，其特征在于，所述校正數據生成單元包括用于分析所述多個暗電流圖像在時間方向上的變化的分析單元，并且基于所述分析單元所獲得的分析結果，生成與所述放射線圖像相對應的所述校正數據。

3.根據權利要求2所述的放射線成像設備，其特征在于，

所述分析單元生成表示所述多個暗電流圖像在時間方向上的變化的函數；以及

所述校正數據生成單元基于所述分析單元所生成的函數、以及從所述指示單元發出所述成像開始指示的時刻到所述第二獲取單元獲取所述被攝體的所述放射線圖像的時刻的經過時間，生成所述校正數據。

4.根據權利要求3所述的放射線成像設備，其特征在于，表示所述多個暗電流圖像在時間方向上的變化的所述函數的特征是相對于所述經過時間的增加為單調非增或單調非減函數，并且在所述經過時間無限大時變為常數。

5.根據權利要求1～4中任一項所述的放射線成像設備，其特征在于，所述設置單元基于所述被攝體的成像信息，設置所述指示單元發出所述成像開始指示的時刻和開始所述照射的時刻之間的所述照射延遲時間。

6.根據權利要求5所述的放射線成像設備，其特征在于，所述成像信息包括成像技術、成像區域、成像體位、X射線照射條件、成像請求源、被攝體的大小和被攝體的年齡中的至少一個。

7.根據權利要求1所述的放射線成像設備，其特征在于，還包括：

圖像處理單元，用于對由所述校正單元校正后的所述放射線圖像執行圖像處理；以及

顯示單元，用于顯示由所述圖像處理單元處理后的所述放射線圖像。

8.一種放射線成像設備的暗電流校正方法，所述放射線成像設備包括照射單元和放射線檢測單元，所述暗電流校正方法包括以下步驟：

發出放射線成像開始指示；

設置發出成像開始指示的時刻和開始所述照射單元的照射的時刻之間的照射延遲時間；

在所設置的照射延遲時間期間，從所述放射線檢測單元獲取多個暗電流圖像；

在所設置的照射延遲時間結束之后，獲取被攝體的、基于所述放射線檢測單元檢測到的放射線的放射線圖像；

基于所獲取的多個暗電流圖像，生成對于所獲取的被攝體的放射線圖像的校正數據；以及

使用所生成的校正數據，對所述被攝體的所述放射線圖像執行暗電流校正處理。