[發(fā)明專(zhuān)利]電子產(chǎn)品失效分析方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010137027.7
• 申請(qǐng)日: 2010-03-31
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102207527A
• 公開(kāi)（公告）日: 2011-10-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 游永興
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/00
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/00;G01R31/28
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種電子商情資料庫(kù)系統(tǒng)中多類(lèi)別資料處理的方法。

背景技術(shù)

在產(chǎn)品的生產(chǎn)過(guò)程和使用過(guò)程中，產(chǎn)品喪失了規(guī)定的功能稱(chēng)為失效。判斷失效產(chǎn)品的失效模式，查找失效原因和機(jī)理，提出預(yù)防再失效的對(duì)策的技術(shù)活動(dòng)和管理活動(dòng)稱(chēng)為失效分析。

目前，對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行失效分析的方法不完善，沒(méi)有統(tǒng)一的失效分析方法，例如：工程師對(duì)失效電子產(chǎn)品進(jìn)行失效分析時(shí)，只進(jìn)行CND(can?not?duplicate，不能復(fù)制)問(wèn)題判斷或者NTF(no?troublefound，未出現(xiàn)故障)的判斷。實(shí)際上，CND和NTF是兩個(gè)不同的問(wèn)題，這種單一的測(cè)試方式使失效分析出現(xiàn)漏洞，降低了電子產(chǎn)品的質(zhì)量。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上內(nèi)容，本發(fā)明提供一種電子產(chǎn)品失效分析方法，能同時(shí)進(jìn)行CND問(wèn)題判斷和NTF問(wèn)題判斷，以防止失效分析出現(xiàn)漏洞。

一種電子產(chǎn)品失效分析方法，該方法包括如下步驟：從存儲(chǔ)裝置中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息；根據(jù)所獲取的失效信息進(jìn)行失效復(fù)制驗(yàn)證，以驗(yàn)證所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象能否復(fù)制；當(dāng)所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象不能復(fù)制時(shí)，對(duì)失效電子產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試以判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否屬于不能復(fù)制問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于不能復(fù)制問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品是否未出故障；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于未出故障問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為客戶(hù)造成的問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于客戶(hù)造成的問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為測(cè)試程序問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于測(cè)試程序問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為制造問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于制造問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品上的零件是否出現(xiàn)質(zhì)量問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品上的零件沒(méi)有質(zhì)量問(wèn)題時(shí)，對(duì)電子產(chǎn)品的電路設(shè)計(jì)進(jìn)行分析以得到電路設(shè)計(jì)的問(wèn)題，并發(fā)出工程變更通知。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述電子產(chǎn)品失效分析方法，規(guī)范了電子產(chǎn)品的失效分析步驟，使得電子產(chǎn)品的失效分析有了統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)，提高了失效分析的工作效率，對(duì)電子產(chǎn)品的質(zhì)量有了更大的保證。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明電子產(chǎn)品失效分析方法較佳實(shí)施例的信息流向示意圖。

圖2是本發(fā)明電子產(chǎn)品失效分析方法較佳實(shí)施例的實(shí)施流程圖。

具體實(shí)施方式

如圖1所示，是本發(fā)明電子產(chǎn)品失效分析方法較佳實(shí)施例的信息流向示意圖。在本較佳實(shí)施例中，該電子產(chǎn)品失效分析方法所應(yīng)用的架構(gòu)包括存儲(chǔ)裝置2、失效分析系統(tǒng)1及顯示裝置3。所述存儲(chǔ)裝置2中存儲(chǔ)有失效電子產(chǎn)品的失效信息，例如：電子產(chǎn)品不能開(kāi)機(jī)。所述失效分析系統(tǒng)1從存儲(chǔ)裝置2中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息，根據(jù)所獲取的失效信息對(duì)失效電子產(chǎn)品進(jìn)行失效分析，根據(jù)失效分析的數(shù)據(jù)生成分析報(bào)告，并將分析報(bào)告顯示在顯示裝置3中，以供用戶(hù)查看。所述失效分析系統(tǒng)1包括數(shù)據(jù)獲取單元10、失效分析單元12及報(bào)告生成單元14。

所述數(shù)據(jù)獲取單元10用于從存儲(chǔ)裝置2中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息。

所述失效分析單元12用于根據(jù)所獲取的失效信息進(jìn)行失效復(fù)制驗(yàn)證，以驗(yàn)證所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象能否復(fù)制。例如：若所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象為所述失效電子產(chǎn)品不能開(kāi)機(jī)，當(dāng)對(duì)所述失效電子產(chǎn)品進(jìn)行開(kāi)機(jī)動(dòng)作時(shí)，若所述失效電子產(chǎn)品可以開(kāi)機(jī)，則失效分析單元12判斷所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象不能復(fù)制；當(dāng)對(duì)所述失效電子產(chǎn)品進(jìn)行開(kāi)機(jī)動(dòng)作時(shí)，若所述失效電子產(chǎn)品不能開(kāi)機(jī)，則失效分析單元12判斷所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象可以復(fù)制。當(dāng)所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象可以復(fù)制時(shí)，工作人員通知相關(guān)的部門(mén)根據(jù)所獲取的失效信息對(duì)失效電子產(chǎn)品進(jìn)行相應(yīng)的處理。