[發(fā)明專利]一種用X射線檢測PCB的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010129714.4 | 申請日： | 2010-03-19 |
| 公開（公告）號： | CN101806756A | 公開（公告）日： | 2010-08-18 |
| 發(fā)明（設計）人： | 梅領亮;劉世群;徐地華;陳伯平;吳偉欽;許德平;梁前 | 申請（專利權(quán)）人： | 廣東正業(yè)科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/04 | 分類號： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102 | 代理人： | 羅曉林;李志強 |
| 地址： | 523000 廣東省東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 射線 檢測 pcb 方法 | ||
技術(shù)領域
本發(fā)明涉及PCB檢測方法的相關技術(shù)領域，特別是一種用X射線檢測PCB 的方法。
背景技術(shù)
X射線成像步驟主要由以下幾個方面組成：
X射線管——圖像增強器——相機——降噪處理器——顯示器
目前情況是，到顯示器的圖像，取決于前四個元器件的質(zhì)量。盡管如此， 即使提高了四個元器件的質(zhì)量，圖像效果有改善，但仍然不理想。客戶一直要 求提高清晰度。清晰度不夠。是目前同類X光檢查機的缺憾。清晰度是指是“肉 眼”否能分辨出圖像線條間或圖像明暗層次間的區(qū)別，亦即圖像層次對景物質(zhì) 點的分辨或細微層次質(zhì)感或圖像明暗層次間的精細程度。其分辨率愈高，圖像 表現(xiàn)得愈細致，清晰度愈高。
為了改善X光操作人員的工作條件，應用低強度的X光射線曝光，但這樣 獲取的成像灰度級集中在暗區(qū)，許多圖像細節(jié)無法看清，判讀困難。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種用X射線檢測PCB的方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中，通過X 射線檢查PCB獲得的X光圖像不清晰的技術(shù)問題。
本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下：
一種用×射線檢測PCB的方法，所述方法包括通過X射線對PCB進行成像 處理得到成像圖片，所述方法包括：
(11)對成像圖片統(tǒng)計灰度直方圖；
(12)統(tǒng)計灰度直方圖中像素分布最密集的地方，確定灰度范圍[A，B]；
(13)用戶確定輸入色階范圍[minA，MaxB]，輸出色階范圍[minOut， maxOut]；
(14)拉伸灰度范圍[A，B]到新的灰度范圍[Z1，Zk]從而得到新的成像圖片。
作為一種優(yōu)選方案，所述步驟(13)，采用如下方法拉伸灰度范圍[A，B]到 新的灰度范圍[Z1，Zk]：
建立從原灰度z到新灰度Z’的映射，如圖1所示，采用如下公式：
作為進一步的優(yōu)選方案，所述步驟(11)前，還包括對成像圖片進行增強 和/或降噪處理。
作為進一步的優(yōu)選方案，其特征在于，所述步驟(14)的具體步驟如下：
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