[發(fā)明專利]一種用X射線檢測PCB的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010129714.4 | 申請日： | 2010-03-19 |
| 公開（公告）號： | CN101806756A | 公開（公告）日： | 2010-08-18 |
| 發(fā)明（設計）人： | 梅領(lǐng)亮;劉世群;徐地華;陳伯平;吳偉欽;許德平;梁前 | 申請（專利權(quán)）人： | 廣東正業(yè)科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/04 | 分類號： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102 | 代理人： | 羅曉林;李志強 |
| 地址： | 523000 廣東省東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 射線 檢測 pcb 方法 | ||
1.一種用X射線檢測PCB的方法，所述方法包括通過X射線對PCB進行 成像處理得到成像圖片，并對成像圖片進行增強和/或降噪處理，所述方法包括：
(11)對成像圖片統(tǒng)計灰度直方圖；
(12)統(tǒng)計灰度直方圖中像素分布最密集的地方，確定灰度范圍[A，B]；
(13)用戶確定輸入色階范圍[minA，MaxB]，輸出色階范圍[minOut， maxOut]；
(14)拉伸灰度范圍[A，B]到新的灰度范圍[Z1，Zk]從而得到新的成像圖片， 其特征在于，
所述步驟(14)，采用如下方法拉伸灰度范圍[A，B]到新的灰度范圍[Z1，Zk]：
建立從原灰度z到新灰度Z’的映射，采用如下公式：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用X射線檢測PCB的方法，其特征在于，其特征 在于，所述步驟(14)的具體步驟如下：
(41)調(diào)整Z1和Zk的取值，如果已經(jīng)在0～255的范圍內(nèi)遍歷所有的Z1和 Zk，則退出，否則執(zhí)行步驟(42)；
(42)拉伸灰度范圍[A，B]到新的灰度范圍[Z1，Zk]從而得到新的成像圖片；
(43)如果新的成像圖片中的有用圖像和背景圖像能明顯區(qū)分，則退出， 否則執(zhí)行步驟(41)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用X射線檢測PCB的方法，其特征在于，所述有 用圖像為PCB上涂覆的金屬層，背景圖像是指PCB的基材成像部分。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用X射線檢測PCB的方法，其特征在于，所述步 驟(43)中，通過比較有用圖像和背景圖像的清晰度指數(shù)進行區(qū)分，具體步驟 如下：
當清晰度指數(shù)超過預先設定的閾值，則認為有用圖像和背景圖像能明顯區(qū) 分，退出步驟(43)，否則，認為有用圖像和背景圖像不能明顯區(qū)分，繼續(xù)執(zhí)行 步驟(41)。
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