[發(fā)明專利]電容測試方法及系統(tǒng)

有效

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• 申請日: 2010-02-20
• 公開（公告）號: CN101776722A
• 公開（公告）日: 2010-07-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 祝朝強(qiáng);高雪平;陳志坤
• 申請（專利權(quán)）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240
• 代理人: 余剛;吳孟秋

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及測試方法及系統(tǒng)，具體而言，涉及一種電容測試方法及系統(tǒng)。?

背景技術(shù)

目前，在DUT(被測)單板中，電容起到隔直流、去藕、濾波、整流等的作用，在整個系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行起到關(guān)鍵的作用，因此在DUT單板中測試電容，就很重要，該測試可以獲知該電容是否損壞、是否符合使用要求，以防不符合使用要求降低系統(tǒng)的安全性、可靠性和一致性，甚至損壞被測單板。?

圖1是現(xiàn)有技術(shù)的RC并聯(lián)電路示意圖，如圖1所示，該RC并聯(lián)電路(電阻電容并聯(lián)電路)位于一個成型的DUT單板中，為電阻R與電容C的并聯(lián)電路。同時，電容C在DUT單板中的應(yīng)用部分是以上述RC并聯(lián)電路的形式體現(xiàn)的，部分是以單獨(dú)電容的形式體現(xiàn)的。因此，在DUT單板中測試電容，尤其是在DUT單板的RC并聯(lián)電路中測試電容是很重要的。?

相關(guān)技術(shù)中針對該電容的測試，可以通過激勵交流電壓，測試通過該電容的電流，進(jìn)而測試出該電容的電容值，但該方法不能測試150uF以上的大電容。?

相關(guān)技術(shù)中針對150uF以上的大電容，包括單個大電容或者多個小電容并聯(lián)得到的大電容，可以通過激勵電流值恒定的直流電流，通過等間隔采樣得到不同時刻的電容兩端的暫態(tài)電壓值。并且，針對單獨(dú)電容的測試，由于上述電流值與暫態(tài)電壓值構(gòu)成線性關(guān)系，因此可以通過測試出這些等間隔采樣點(diǎn)的電容充電斜率，進(jìn)而測試出該電容的電容值。然而，針對RC并聯(lián)電路中電容的測試，由于上述電流值與暫態(tài)電壓值并不構(gòu)成線性關(guān)系，如果通過上述同樣的方法進(jìn)行模擬測試，并不能準(zhǔn)確測試得到RC并聯(lián)電路中的電容值。?

發(fā)明內(nèi)容

針對在DUT單板測試電容時，不能準(zhǔn)確測試RC并聯(lián)電路中的電容的問題而提出本發(fā)明。為此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種電容測試方法及系統(tǒng)，以解決上述問題。?

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種電容測試方法，包括以下步驟：激勵電流值I恒定的直流電流通過RC并聯(lián)電路；在j個時刻t_n分別采集RC并聯(lián)電路的暫態(tài)電壓值u_cn，n＝1，2，...，j，j＞1；采集；以及使用I、u_cn、t_n以及RC并聯(lián)電路的穩(wěn)態(tài)電壓值u₀計(jì)算導(dǎo)到RC并聯(lián)電路中的電容C。?

優(yōu)選地，通過以下之一得到所述穩(wěn)態(tài)電壓值u₀：采集所述RC并聯(lián)電路的所述穩(wěn)態(tài)電壓值u₀；u₀＝R×I，其中，R為所述RC并聯(lián)電路的電阻值。?

優(yōu)選地，采用下式計(jì)算電容C：?