[發明專利]電容測試方法及系統

有效

• 申請號: 201010129204.7
• 申請日: 2010-02-20
• 公開（公告）號: CN101776722A
• 公開（公告）日: 2010-07-14
• 發明（設計）人: 祝朝強;高雪平;陳志坤
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;吳孟秋

1.一種電容測試方法，其特征在于包括以下步驟：

激勵電流值I恒定的直流電流通過RC并聯電路；

在j個時刻t_n分別采集所述RC并聯電路的暫態電壓值 u_cn，n=1，2，…，j，j〉1；以及

使用I、u_cn、t_n和所述RC并聯電路的穩態電壓值u₀計算 得到所述RC并聯電路中的電容C；

其中，采用下式計算所述電容C：

C=-I×Σn=1j(tn-1jΣn=1jtn)2u0×Σn=1j{(tn-1jΣn=1jtn)[un-1jΣn=1jln(1-ucnu0)]},]]>

其中，j〉2，un=ln(1-ucnu0);]]>

或

C=2j(j-1)Σp=1jΣq=p+1jI(tq-tp)u0(ln(1-ucpu0)-ln(1-ucqu0))]]>

其中，t_p和t_q是從t_n中任意選擇的兩個時刻，p不等于q， j大于2；

或

C=I(t2-t1)u0(ln(1-uc1u0)-ln(1-uc2u0))]]>

其中，u_c1和u_c2分別為在時刻t₁和t₂采集所述RC并聯電 路的所述暫態電壓值。