[發明專利]老化測試方法和系統

無效

• 申請號: 201010129134.5
• 申請日: 2010-03-08
• 公開（公告）號: CN102193037A
• 公開（公告）日: 2011-09-21
• 發明（設計）人: 托尼·俄伽扎瑞恩
• 申請（專利權）人: 蘋果公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 宋鶴;南霆

技術領域

本發明涉及可靠性測試，并且具體地涉及對消費電子產品執行基于迭代(iteration)和部件的老化(burn-in)測試的方法和系統。

背景技術

老化測試是為了確保滿足諸如計算機、MP3播放器、電話之類的消費電子產品的出廠質量水平(OQL)而執行的最重要的過程之一。在室溫下進行的老化測試通常還稱為Run-in測試。

為了理解老化，則需要理解稱為“浴盆曲線”的產品故障曲線，如圖1所示。該曲線是三條較小曲線的加總：早期故障(Infant?mortality)曲線、隨機故障曲線和損耗故障(Wear-out)曲線。對產品的老化測試被設計用于掃除早期故障并獲得關于隨機故障的信息。

傳統上，老化測試是基于時間的，其主要關注早期故障問題。但是，現今產品的部件出故障的百萬缺陷數(DPM)極低，以使得幾乎不能證明其強于采樣測試策略。換而言之，早期故障問題不再是消費電子產品的可靠性測試中的大問題。取而代之，大多數故障往往是依賴于狀態的故障，這種故障僅在某些條件下發生或者間歇地發生并且會影響末端用戶。

此外，傳統老化測試是基于配置的，由于每一個產品存在數千個可能配置，所以這種基于配置的老化測試已經顯現出低效率。

因此，希望提供用于消費電子產品的能夠克服上述問題的老化測試系統和方法。

發明內容

本發明一個實施例提供了基于迭代和部件的老化測試方法，該方法被設計為對某一部件應用特定迭代次數的測試，以使得可以捕獲重復故障并可以執行校正動作來消除故障模式。

根據本發明一個方面，提供了一種老化測試方法，其包括以下步驟：加載老化軟件包，該老化軟件包包含針對待測設備的多個測試序列；基于老化軟件包對待測設備中的一個或多個部件的每一個執行預定的開始迭代次數的測試；以及基于部件記錄測試故障結果。

根據本發明另一方面，提供了一種老化測試系統，其包括：用于加載老化軟件包的裝置，該老化軟件包包含針對待測設備的多個測試序列；用于基于老化軟件包對待測設備中的一個或多個部件的每一個執行預定的開始迭代次數的測試的裝置；以及用于基于部件記錄測試故障結果的裝置。

附圖說明

根據以下參考附圖對本發明特定實施例的詳細描述，將很清楚本發明的前述和其他目的、特征和優點，在附圖中：

圖1圖示了一般而言故障的“浴盆曲線”圖；

圖2圖示了根據本發明的基于迭代和部件的老化測試的概要；

圖3圖示了根據本發明第一示例實施例的基于迭代和部件的老化測試方法的流程圖；

圖4圖示了根據本發明第二示例實施例的基于迭代和部件的老化測試方法的流程圖；

圖5圖示了根據本發明第三示例實施例的基于迭代和部件的老化測試方法的流程圖；

圖6圖示了根據本發明的用于老化減少(Burn-in?Reduction)的數據分析方法；以及

圖7示出了故障曲線的示意圖，其中，橫軸表示迭代次數，左縱軸表示故障百分比，右縱軸表示累加故障數。

具體實施方式

下面將參考附圖描述本發明的實施例。在這里的描述中，提供了諸如部件和/或方法的示例之類的許多具體細節，以幫助完整地理解本發明。但是，本領域技術人員將明了，在沒有這些具體細節中的一個或多個的情況下或者在具有其它裝置、系統、組件、方法、部件、材料、元件等的情況下也可以實現本發明的實施例。在其它情形中，沒有詳細示出或描述公知的結構、材料或操作，以不會模糊本發明的實施例的各個方面。在本說明書和附圖中，相同標號表示具有基本相同功能的結構元件，并且將省略對它們的重復描述。

概要

下文中，將參考圖2描述根據本發明的基于迭代和部件的老化測試的概要。

在開發和工程構建生命周期的所有階段(包括Proto(樣機)、工程驗證測試(EVT)、設計驗證測試(DVT)、產品驗證測試(PVT)和量化生產)中都應當為產品設計老化測試處理并在可以獲得PVT及之前的生產數據時對老化處理進行修改和優化。

本發明的老化測試(初始老化測試)被設計為對待測設備(DUT)的某一部件應用預定迭代次數的測試，以使得可以估計來料缺陷(incomingdefect)水平以及故障重復率并可以導出包括該部件的DUT的OQL(S202)。老化測試還使得可以執行校正動作以消除故障模式，從而確保在交付給顧客時DUT(或者包含該DUT的產品)具有適當的質量水平。