[發明專利]老化測試方法和系統

無效

• 申請號: 201010129134.5
• 申請日: 2010-03-08
• 公開（公告）號: CN102193037A
• 公開（公告）日: 2011-09-21
• 發明（設計）人: 托尼·俄伽扎瑞恩
• 申請（專利權）人: 蘋果公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 宋鶴;南霆

1.一種老化測試方法，包括以下步驟：

加載老化軟件包，該老化軟件包包含針對待測設備的多個測試序列；

基于所述老化軟件包對所述待測設備中的一個或多個部件的每一個執行預定的開始迭代次數的測試；以及

基于部件記錄所述測試的故障結果。

2.根據權利要求1所述的方法，還包括基于所記錄的故障結果進行故障模式評估的步驟。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述預定的開始迭代次數被基于父系數據、在先測試的數據、或者提供部件故障行為的先備知識的其它數據來修改。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，所述測試包括測試預定數目的所述待測設備。

5.根據權利要求1所述的方法，還包括對故障部件執行延展測試的步驟，所述延展測試的測試序列與導致該部件發生故障的那些測試序列相同。

6.根據權利要求5所述的方法，其中，執行延展測試的步驟包括如下步驟：

加載延展老化軟件包，該延展老化測試包包含所述延展測試的測試序列；

通過運行所述延展老化軟件包來測試所述故障部件達7天或者直到故障重復四次為止；以及

記錄故障結果。

7.根據權利要求1所述的方法，還包括基于所記錄的故障結果來減少測試迭代次數的步驟。

8.根據權利要求7所述的方法，其中，如果故障結果指示出給定測試沒有發生故障，則該給定測試的迭代次數被減少至3。

9.根據權利要求7所述的方法，其中，在減少迭代次數的步驟中，迭代次數被減少到將最低平均無故障迭代數乘以5而得到的數目。

10.根據權利要求4所述的方法，還包括計算所述待測設備的出廠質量水平的步驟，所述待測設備的出廠質量水平是所述待測設備中的各個部件的出廠質量水平的和。

11.根據權利要求10所述的方法，其中，每一部件的出廠質量水平的計算包括以下步驟：

計算所述部件的每一故障件的故障捕獲概率P(capture)，其中，P(capture)＝1-((MIBF-1)/MIBF)^x，MIBF＝(對所述故障件完成的迭代次數)/(所述故障件的故障次數)，x是對該故障件執行的測試的開始迭代次數；

針對每一MIBF，通過將所述部件的故障件的數目除以所述捕獲概率來計算故障母數，一個MIBF對應于一個故障類型；

通過將每一故障類型的故障母數除以所述預定數目來推測每一故障類型在所述預定數目的部件中所占的母數百分比；以及

估計每一故障類型對所述部件的出廠質量水平的影響系數并對各故障類型的出廠質量水平影響系數進行加總來得出所述部件的出廠質量水平，每一故障類型的出廠質量水平影響系數＝(所述母數百分比)×(1-P(capture))×1,000,000。

12.一種老化測試系統，包括：

用于加載老化軟件包的裝置，該老化軟件包包含針對待測設備的多個測試序列；

用于基于所述老化軟件包對所述待測設備中的一個或多個部件的每一個執行預定的開始迭代次數的測試的裝置；以及

用于基于部件記錄所述測試的故障結果的裝置。

13.根據權利要求12所述的系統，還包括用于基于父系數據、在先測試的數據、或者提供部件故障行為的先備知識的其它數據來修改所述預定的開始迭代次數的裝置。

14.根據權利要求12所述的系統，其中，所述測試包括測試預定數目的所述待測設備。

15.根據權利要求12所述的系統，還包括用于對故障部件執行延展測試的裝置，所述延展測試的測試序列與導致該部件發生故障的那些測試序列相同。

16.根據權利要求15所述的系統，其中，所述用于執行延展測試的裝置被配置為測試所述故障部件達7天或者直到故障重復四次為止。

17.根據權利要求12所述的系統，還包括用于基于所記錄的故障結果來減少測試迭代次數的裝置。

18.根據權利要求12所述的系統，還包括用于計算所述待測設備的出廠質量水平的裝置。