[發明專利]具有尋址功能的巨觀檢查機及其相關定位方法

無效

• 申請號: 201010127491.8
• 申請日: 2010-03-19
• 公開（公告）號: CN101865860A
• 公開（公告）日: 2010-10-20
• 發明（設計）人: 陳敬能;吳朝煌;簡青俊;許文正
• 申請（專利權）人: 華映視訊(吳江)有限公司;中華映管股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01B11/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 孫長龍

技術領域

本發明是有關一種巨觀檢查機及其操作方法，尤指一種具有尋址功能的巨觀檢查機及其定位操作方法。

背景技術

傳統的巨觀檢查設備是用來檢查一面板的像素缺陷點，例如一亮點或一暗點。當檢查到面板上包含有像素缺陷點時，操作人員可藉由一定位裝置取得該缺陷點的坐標，以利后續修補人員使用激光修補機進行修復。一般來說，傳統的巨觀檢查設備利用激光指示器標定面板上像素缺陷點的位置，激光指示器藉由伺服馬達驅動，并依據光學尺或磁性尺取得激光指示器標定面板上像素缺陷點時的坐標。

由于傳統巨觀檢查設備在進行面板檢查時，面板的位置與巨觀檢查設備的坐標沒有經過相對定位即將面板安裝于巨觀檢查設備上，因此巨觀檢查設備所取得像素缺陷點的坐標無法精確地反映出其于面板上的相對坐標，故容易造成后續修補人員在進行修復時發生于面板上找不到像素缺陷點的困擾。

此外，一般激光指示器的激光光點大小約2～3毫米，但每個面板像素大小約僅為100～250微米，意即激光指示器的激光光點于面板上約會涵蓋10²個像素，因此傳統的巨觀檢查設備無法精確地于面板上指出像素缺陷點的位置。故如何設計出可精確定位面板像素缺陷點的巨觀檢查設備即為現今面板產業所需努力的重要課題。

發明內容

本發明提供一種具有尋址功能的巨觀檢查機及其定位方法，以解決上述的問題。

本發明的權利要求范圍公開一種具有尋址功能的巨觀檢查機，其包含有一基座，用來承載一面板；一多軸傳動裝置，設置于該基座上；以及一偵測裝置，設置于該多軸傳動裝置上，該偵測裝置用來定位該面板上一缺陷點的位置。該偵測裝置包含有一第一影像擷取單元，用來取得該面板上至少一參考點的影像；一第二影像擷取單元，用來取得該面板上一待測區的影像以及至少一參考點的影像；以及一處理器，電連接于該多軸傳動裝置、該第一影像擷取單元、以及該第二影像擷取單元，該處理器利用該第一影像擷取單元以及該第二影像擷取單元分別取得該面板上至少三參考點以及該缺陷點于該基座上一第一坐標系統的三個第一坐標以及一第二坐標，依據該三個第一坐標計算該面板相對于該基座的一轉換函數，以及依據該轉換函數以及該第二坐標計算出該缺陷點于該面板上一第二坐標系統的相對坐標。

本發明的權利要求范圍還公開一種用來定位一面板上一缺陷點的方法，其包含有安裝一面板于一基座上；利用一第一影像擷取單元或一第二影像擷取單元取得該面板上至少三參考點于該基座的一第一坐標系統的三個第一坐標；一處理器依據該三個第一坐標計算該面板相對于該基座的一轉換函數；利用該第二影像擷取單元取得該面板上該缺陷點于該第一坐標系統的一第二坐標；以及該處理器依據該轉換函數以及該第二坐標計算出該缺陷點于該面板上一第二坐標系統的相對坐標。

附圖說明

圖1為本發明較佳實施例巨觀檢查機的外觀示意圖。

圖2為巨觀檢查機于另一視角的外觀示意圖。

圖3為巨觀檢查機的正視圖。

圖4為巨觀檢查機的側視圖。

圖5為本發明較佳實施例偵測裝置的放大示意圖。

圖6為本發明較佳實施例定位面板上缺陷點的流程圖。

具體實施方式

請參閱圖1至圖4，圖1為本發明較佳實施例具有尋址功能的一巨觀檢查機10的外觀示意圖，圖2為巨觀檢查機10于另一視角的外觀示意圖，圖3為巨觀檢查機10的正視圖，圖4為巨觀檢查機10的側視圖。巨觀檢查機10用來檢測一面板12的像素缺陷點。巨觀檢查機10包含有一基座14，用來承載面板12；一多軸傳動裝置16，設置于基座14上；以及一偵測裝置18，設置于多軸傳動裝置16上。偵測裝置18用來定位面板12上一缺陷點的位置。一般來說，基座14用來固定面板12，意即面板12不會相對于基座14有平移或旋轉的位移量。偵測裝置18藉由多軸傳動裝置16沿著X方向以及Y方向帶動，透過人眼觀察發現面板12上的缺陷點，再以多軸傳動裝置16帶動偵測裝置18至缺陷點的位置以進行精確定位。其中多軸傳動裝置16可為一滾珠螺桿、一時規皮帶輪、一線性馬達、或一伺服馬達，端視設計需求而定。