[發明專利]一種內嵌PMOS輔助觸發可控硅結構無效
| 申請號: | 201010121084.6 | 申請日: | 2010-03-10 |
| 公開(公告)號: | CN101789428A | 公開(公告)日: | 2010-07-28 |
| 發明(設計)人: | 馬飛;韓雁;董樹榮;黃大海;宋波;李明亮;苗萌 | 申請(專利權)人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | H01L27/07 | 分類號: | H01L27/07;H01L29/74;H01L23/60 |
| 代理公司: | 杭州天勤知識產權代理有限公司 33224 | 代理人: | 胡紅娟 |
| 地址: | 310027 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 pmos 輔助 觸發 可控硅 結構 | ||
1.一種內嵌PMOS輔助觸發可控硅器件,包括P型襯底(31),P型 襯底(31)上設置P阱(32)和N阱(33),其特征在于:所述的P阱(32) 和N阱(33)交界處上方橫跨有PMOS的柵氧(40)以及位于柵氧(40) 上方的多晶硅柵(39);
所述的N阱(33)上依次設有第一淺壕溝隔離(41),第一N+注入區 (34)、第二淺壕溝隔離(42)和第一P+注入區(35a),其中第一P+注入 區(35a)臨近N阱(33)和P阱(32)的交界處,N阱(33)和P阱(32) 的交界處通過多晶硅柵(39)的鏤空形成第二N+注入區(36);
所述的P阱(32)上依次設有第二P+注入區(35b)、第三N+注入區 (37)、第三淺壕溝隔離(43)和第三P+注入區(38),其中第二P+注入 區(35b)臨近N阱(33)和P阱(32)的交界處;
所述的第一P+注入區(35a)和第一N+注入區(34)均接入電學陽 極,第三N+注入區(37)和第三P+注入區(38)均接入電學陰極;所述 的多晶硅柵(39)通過觸發電路接入電學陽極和電學陰極。
2.根據權利要求1所述的內嵌PMOS輔助觸發可控硅器件,其特征 在于,所述的觸發電路由電阻和電容構成,其中電容的一端與電阻的一端 相連接且接入多晶硅柵(39),電阻的另一端接入電學陽極,電容的另一 端接入電學陰極。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





