[發(fā)明專利]阻抗校正裝置及其方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010119412.9 | 申請日： | 2010-02-23 |
| 公開（公告）號： | CN102163964A | 公開（公告）日： | 2011-08-24 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 王文山;吳亭瑩 | 申請（專利權(quán)）人： | 瑞昱半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號： | H03H11/04 | 分類號： | H03H11/04 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人： | 史新宏 |
| 地址： | 中國臺(tái)灣新*** | 國省代碼： | 中國臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 阻抗 校正 裝置 及其 方法 | ||
1.一種阻抗校正裝置，耦接一待測電路，該阻抗校正裝置包含：
一步階訊號產(chǎn)生器，用以產(chǎn)生一步階訊號；
一參考阻抗，其一端耦接該步階訊號產(chǎn)生器，另一端耦接該待測電路；
一檢測單元，耦接該參考阻抗的該另一端，用以檢測經(jīng)由該參考阻抗的該步階訊號與該步階訊號經(jīng)由該待測電路后的一量測訊號；
一阻抗計(jì)算單元，耦接該檢測單元，用以依據(jù)該參考阻抗的阻抗值、該步階訊號與該量測訊號計(jì)算該待測電路的一特性阻抗值；
一校正阻抗；及
一阻抗值設(shè)定單元，耦接該阻抗計(jì)算單元與該校正阻抗，用以依據(jù)該特性阻抗值調(diào)整該校正阻抗的阻抗值，以匹配該特性阻抗值。
2.如權(quán)利要求1所述的阻抗校正裝置，其應(yīng)用于一芯片中。
3.如權(quán)利要求1所述的阻抗校正裝置，其中，該參考阻抗的阻抗值可調(diào)整，該阻抗值設(shè)定單元耦接該參考阻抗，該阻抗值設(shè)定單元依據(jù)該特性阻抗值與該參考阻抗的阻抗值之間的一差值調(diào)整該參考阻抗的阻抗值。
4.如權(quán)利要求3所述的阻抗校正裝置，其中，該阻抗值設(shè)定單元依據(jù)一預(yù)定百分比逐次調(diào)整該參考阻抗的阻抗值。
5.如權(quán)利要求3所述的阻抗校正裝置，其中，該預(yù)定百分比是依據(jù)該差值的大小。
6.如權(quán)利要求3所述的阻抗校正裝置，其中，該參考阻抗包含多個(gè)第一晶體管開關(guān)，所述晶體管開關(guān)的導(dǎo)通數(shù)目是依據(jù)該差值。
7.如權(quán)利要求3所述的阻抗校正裝置，其中，該阻抗值設(shè)定單元依據(jù)該參考阻抗的阻抗值設(shè)定該校正阻抗的阻抗值。
8.如權(quán)利要求7所述的阻抗校正裝置，還包含一驅(qū)動(dòng)單元，其具有一電壓源，該校正阻抗包含多個(gè)第二晶體管開關(guān)，所述第二晶體管開關(guān)耦接該電壓源，且所述第二晶體管開關(guān)導(dǎo)通數(shù)目等于所述第一晶體管開關(guān)的導(dǎo)通數(shù)目。
9.如權(quán)利要求1所述的阻抗校正裝置，還包含一開關(guān)，當(dāng)該校正阻抗的阻抗值與該特性阻抗值匹配后，該開關(guān)打開以隔絕該參考阻抗的影響。
10.如權(quán)利要求1所述的阻抗校正裝置，其中若該特性阻抗值與該參考阻抗的阻抗值相異時(shí)，該阻抗值設(shè)定單元依據(jù)一對照表及該特性阻抗值調(diào)整該校正阻抗的阻抗值，以匹配該特性阻抗值。
11.如權(quán)利要求10所述的阻抗校正裝置，其中，該校正阻抗包含多個(gè)晶體管開關(guān)，該對照表是所述晶體管開關(guān)的導(dǎo)通數(shù)目與校正阻抗的阻抗值的對應(yīng)關(guān)系。
12.如權(quán)利要求11所述的阻抗校正裝置，其中，該參考阻抗包含至少一晶體管開關(guān)，以產(chǎn)生該參考阻抗的阻抗值，該對照表依據(jù)該參考阻抗的阻抗值及該至少一晶體管的導(dǎo)通數(shù)目而建立。
13.如權(quán)利要求11所述的阻抗校正裝置，其中，該參考阻抗與校正阻抗是以同一工藝制作。
14.如權(quán)利要求1所述的裝置，其中該檢測單元是選自一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器與一比較器二者其中之一。
15.一種阻抗校正方法，包含以下步驟：
提供一校正阻抗與一參考阻抗，其該校正阻抗為可調(diào)整；產(chǎn)生一步階訊號經(jīng)由該參考阻抗予一待測電路；
檢測該步階訊號與由該待測電路所產(chǎn)生的一量測訊號；
依據(jù)該參考阻抗的阻抗值、該步階訊號與該量測訊號計(jì)算該待測電路的一特性阻抗值；及
依據(jù)該特性阻抗值調(diào)整該校正阻抗的該阻抗值，以匹配該特性阻抗值。
16.如權(quán)利要求15所述的阻抗校正方法，其中，該參考阻抗的阻抗值是可調(diào)整，依據(jù)該特性阻抗值與該參考阻抗的阻抗值之間的一差值調(diào)整該參考阻抗的阻抗值。
17.如權(quán)利要求15所述的阻抗校正方法，其中，若該特性阻抗值與該參考阻抗的阻抗值相異時(shí)，依據(jù)一對照表及該特性阻抗值調(diào)整該校正阻抗的阻抗值，以匹配該特性阻抗值。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于瑞昱半導(dǎo)體股份有限公司，未經(jīng)瑞昱半導(dǎo)體股份有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010119412.9/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
