[發明專利]具有自我測試功能的存儲器

無效

• 申請號: 201010117029.X
• 申請日: 2010-02-09
• 公開（公告）號: CN102148062A
• 公開（公告）日: 2011-08-10
• 發明（設計）人: 郭碩芬;李日農;巫松洸
• 申請（專利權）人: 瑞昱半導體股份有限公司
• 主分類號: G11C29/04
• 分類號: G11C29/04
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 史新宏

1.一種具有自我測試功能的存儲器，其包含：

一測試單元，產生一測試讀取訊號；

一存儲單元，耦接該測試單元，該存儲單元區分成一第一儲存區塊與一第二儲存區塊，該第一儲存區塊儲存一儲存數據，并依據該測試讀取訊號輸出該儲存數據，該第二儲存區塊儲存對應該儲存數據的一比對特征值；

一比對模塊，耦接該存儲單元，依據該存儲單元輸出的該儲存數據，產生一測試特征值，并比對該測試特征值與該比對特征值而輸出一測試結果。

2.如權利要求1所述的具有自我測試功能的存儲器，其中，該第一儲存區塊所儲存的該儲存數據以及該第二儲存區塊所儲存的該比對特征值是同時被更新。

3.如權利要求1所述的具有自我測試功能的存儲器，其中該比對模塊包含：

一壓縮單元，壓縮該儲存數據而產生該測試特征值；以及

一比較單元，比對該測試特征值與該比對特征值而輸出該測試結果。

4.如權利要求1所述的具有自我測試功能的存儲器，其還包含：

一切換單元，依據一切換訊號，切換該存儲器的一讀取模式為一測試模式或一標準模式。

5.如權利要求4所述的具有自我測試功能的存儲器，其中該切換單元為一測試環或一多任務器。

6.如權利要求1所述的具有自我測試功能的存儲器，其中該測試單元為一存儲器內建自我測試電路。

7.如權利要求1所述的具有自我測試功能的存儲器，其中該存儲單元為一只讀存儲器。

8.如權利要求3所述的具有自我測試功能的存儲器，其中該壓縮單元為一多輸入記號寄存器。

9.一種具有自我測試功能的存儲器的測試方法，其包含：

產生一測試讀取訊號；

依據該測試讀取訊號，輸出該儲存數據，

產生對應該儲存數據的一比對特征值，其中，該儲存數據與該比對特征值是儲存于同一存儲單元內；

依據該存儲單元輸出的該儲存數據，產生一測試特征值；以及

比對該測試特征值與該比對特征值而輸出一測試結果。

10.如權利要求9所述的測試方法，其中，該存儲單元區分成一第一儲存區塊與一第二儲存區塊，該第一儲存區塊儲存該儲存數據，該第二儲存區塊儲存該比對特征值。