[發明專利]一種測定焦炭光學組織用焦炭的煉制方法

有效

• 申請號: 201010112106.2
• 申請日: 2010-02-09
• 公開（公告）號: CN101793643A
• 公開（公告）日: 2010-08-04
• 發明（設計）人: 張雪紅;項茹;陳鵬;薛改鳳;鮑俊芳;張前香;宋子逵;劉尚超
• 申請（專利權）人: 武漢鋼鐵(集團)公司
• 主分類號: G01N1/44
• 分類號: G01N1/44;G01N21/00;C10B57/04
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 段姣姣

技術領域

本發明涉及焦炭的煉制方法，尤其屬于試驗室測定單一煉焦煤的焦炭光學組織用焦炭的煉制方法。

背景技術

工業分析指標、工藝指標在了解單一煉焦煤性質的過程中，起著非常重要的作用。通過分析結果可判斷該煉焦煤的種類，但在反映煉焦煤的煤質狀況，對煉焦煤煤質進行評析時，較為粗略。存在以下問題：不同礦點的煉焦煤按照工業指標、工藝指標進行煤炭分類、煤質研究時，發現屬于同一煤種，煤質接近。但其在煉焦使用過程中卻存在較大區別。目前，焦炭光學組織在研究焦炭質量方面起著重要作用，同時，通過焦炭光學組織還可以間接地反映煉焦煤煤質狀況。研究焦炭光學組織用焦炭樣的制備主要是在試驗焦爐上煉制。目前，試驗室用小焦爐有20kg小焦爐、40kg小焦爐及自制各式小焦爐。采用上述方法煉制試驗用焦炭，其不足：用煤量較大，煤資源浪費現象嚴重，工作效率低(一座試驗室用小焦爐一般煉制一爐焦炭)，污染較大，并且由于占地面積、人員配備、煤源使用、工序繁雜等原因，導致試驗室通常只配備一座小焦爐，最多也不超過兩座，且隨著裝煤量的增加，結焦時間逐漸增加，工作效率較低。

發明內容

本發明的目的在于克服上述不足，提供一種試驗設備簡單、制備焦炭工序較短、試驗用煤量少、且焦炭樣能滿足用于其光學組織的測定的一種焦炭煉制方法。

實現上述目的的技術措施：

一種測定焦炭光學組織用焦炭的煉制方法，其步驟：

1)采集待測煉焦煤煤樣，采樣取點要求具有代表性；

2)按照《煤樣的制備方法》縮分、破碎煤樣，控制其粒度≤2.0毫米，并攪拌均勻；

3)將攪拌均勻的煤樣置入坩堝內，并加壓塊，所加壓塊在煤樣表面的覆蓋率達到60％～82％，將坩堝蓋蓋嚴；經加壓塊后的煤樣堆密度要求在0.7～0.9g/cm³；

4)將坩堝置入馬弗爐中加熱至950～1000℃，并在該溫度下恒溫1～2小時；

5)取出坩堝，并將其自然冷卻至環境溫度后取出壓塊；

6)將制得的焦塊制片；

7)在偏反光顯微鏡下，用油浸物鏡觀測所制焦塊的光學組織，放大倍數400～600倍。

其在于：當所測煤樣膠質層最大厚度即Y值≥21.0毫米時，裝入坩堝內煤樣的高度不超過坩堝高度的1/4。

本發明與現有技術相比，其特點：煉制焦炭方法簡單，使用煤樣量少、無需使用小焦爐，試驗用設備簡單，易實施、環境污染小、且焦炭樣能滿足用于其光學組織的測定，試驗效率高，能很好評價煉焦煤煤質狀況，指導生產配煤及煉焦過程中配煤比的調節。

具體實施方式

下面進行詳細描述：

實施例1

一種測定焦炭光學組織用焦炭的煉制方法，其步驟：

1)沿火車皮對角線五點循環采集田莊焦煤煤樣；

2)按照《煤樣的制備方法》縮分、破碎煤樣，其粒度≤2.0毫米，將破碎后并經篩子篩分后的煤樣攪拌均勻；

3)將上述攪拌均勻的煤樣置入坩堝內，在其煤樣表面加壓塊，所加壓塊在煤樣表面的覆蓋率為60％；由于所測煤樣膠質層最大厚度即Y值為18.0毫米，故無需控制裝入坩堝內煤樣的高度；將坩堝蓋蓋嚴；經加壓塊后的煤樣堆密度為0.7g/cm³；

4)將坩堝置入馬弗爐中加熱至950℃，并在該溫度下恒溫1小時；

5)取出坩堝，并將其自然冷卻至環境溫度后取出壓塊；

6)將制得的焦塊制片；

7)在偏反光顯微鏡下，用油浸物鏡觀測所制焦塊的光學組織，放大倍數400倍。

實施例2

一種測定焦炭光學組織用焦炭的煉制方法，其步驟：

1)沿火車皮對角線五點循環采集瘦煤煤樣；

2)按照《煤樣的制備方法》縮分、破碎煤樣，其粒度≤2.0毫米，將破碎后并經篩子篩分后的煤樣攪拌均勻；

3)將上述攪拌均勻的煤樣置入坩堝內，在其煤樣表面加壓塊，所加壓塊在煤樣表面的覆蓋率為70％；由于所測煤樣膠質層最大厚度即Y值為3.0毫米，故無需控制裝入坩堝內煤樣的高度；將坩堝蓋蓋嚴；經加壓塊后的煤樣堆密度達到0.8g/cm³；

4)將坩堝置入馬弗爐中加熱至980℃，并在該溫度下恒溫1.5小時；

5)取出坩堝，并將其自然冷卻至環境溫度后取出壓塊；

6)將制得的焦塊制片；

7)在偏反光顯微鏡下，用油浸物鏡觀測所制焦塊的光學組織，放大倍數500倍。

實施例3

一種測定焦炭光學組織用焦炭的煉制方法，其步驟：