[發明專利]一種測定焦炭光學組織用焦炭的煉制方法有效
| 申請號： | 201010112106.2 | 申請日： | 2010-02-09 |
| 公開（公告）號： | CN101793643A | 公開（公告）日： | 2010-08-04 |
| 發明（設計）人： | 張雪紅;項茹;陳鵬;薛改鳳;鮑俊芳;張前香;宋子逵;劉尚超 | 申請（專利權）人： | 武漢鋼鐵(集團)公司 |
| 主分類號： | G01N1/44 | 分類號： | G01N1/44;G01N21/00;C10B57/04 |
| 代理公司： | 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102 | 代理人： | 段姣姣 |
| 地址： | 430080 湖北*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測定 焦炭 光學 組織 煉制 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種測定焦炭光學組織用焦炭的煉制方法，其步驟：
1)沿火車皮對角線五點循環采集煤樣；
2)按照《煤樣的制備方法》縮分、破碎煤樣，控制其粒度≤2.0毫米，并攪拌均勻；
3)將攪拌均勻的煤樣置入坩堝內，并加壓塊于煤樣表面，所加壓塊在煤樣表面的覆蓋率達到60％～82％，將坩堝蓋蓋嚴；經加壓塊后的煤樣密度要求在0.7～0.9g/cm3；
4)將坩堝置入馬弗爐中加熱至950～1000℃，并在該溫度下恒溫1～2小時；
5)取出坩堝，并將其自然冷卻至環境溫度后取出壓塊；
6)將制得的焦塊制片；
7)在偏反光顯微鏡下，用油浸物鏡觀測所制焦塊的光學組織，放大倍數400～600倍。
2.如權利要求1所述的一種測定焦炭光學組織用焦炭的煉制方法，其特征在于：當所測煤樣膠質層最大厚度即Y值≥21.0毫米時，裝入坩堝內煤樣的高度不超過坩堝高度的1/4。
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