[發(fā)明專利]發(fā)光二極管的檢測方法與系統(tǒng)

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010111719.4
• 申請(qǐng)日: 2010-02-09
• 公開（公告）號(hào): CN102147327A
• 公開（公告）日: 2011-08-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊友財(cái);楊育峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 均豪精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01M11/02
• 分類號(hào): G01M11/02;G01R31/26
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨

1.一種發(fā)光二極管檢測方法，其特征在于，其是包括有下列步驟：

提供一檢測體，其內(nèi)具有一檢測空間，在所述檢測體的一側(cè)具有一開口與所述檢測空間相連接；

以一拾取機(jī)構(gòu)拾取一發(fā)光二極管，將所述發(fā)光二極管置于所述開口上，使所述發(fā)光二極管的發(fā)光部容置于所述檢測空間內(nèi)；

使所述發(fā)光二極管于所述檢測空間內(nèi)產(chǎn)生一光場；以及

以所述檢測體檢測所述光場。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管檢測方法，其特征在于，所述檢測體為一積分球體。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管檢測方法，其特征在于，所述開口上更具有一承載座以提供承載所述發(fā)光二極管。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管檢測方法，其特征在于，所述開口是開設(shè)于所述檢測體的頂部，使得所述發(fā)光二極管容置于所述開口上時(shí)，所述發(fā)光二極管的發(fā)光部朝下而容置于所述檢測空間內(nèi)。

5.一種發(fā)光二極管檢測系統(tǒng)，其特征在于，其包括有：

一檢測體，其內(nèi)具有一檢測空間，在所述檢測體的一側(cè)具有一開口與所述檢測空間相連接；以及

一拾取機(jī)構(gòu)，其設(shè)置于所述檢測體的一側(cè)，所述拾取機(jī)構(gòu)拾取一發(fā)光二極管，將所述發(fā)光二極管置入于所述開口上。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的發(fā)光二極管檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述拾取機(jī)構(gòu)更包括有：

一第一拾取臂，其是由一發(fā)光二極管承載盤上拾取所述發(fā)光二極管；以及

一第二拾取臂，其是設(shè)置于所述第一拾取臂的一側(cè)，所述第二拾取臂是由所述第一拾取臂所拾取的所述發(fā)光二極管的底面拾取所述發(fā)光二極管，并通過一旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)將所述發(fā)光二極管置入于所述開口上。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的發(fā)光二極管檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述開口上更具有一承載座以提供承載所述發(fā)光二極管，所述開口開設(shè)于所述檢測體的頂部，使得所述發(fā)光二極管容置于所述開口上時(shí)，所述發(fā)光二極管的發(fā)光部朝下而容置于所述檢測空間內(nèi)，且所述發(fā)光二極管的底面朝上，所述底面上具有一對(duì)電性端點(diǎn)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的發(fā)光二極管檢測系統(tǒng)，其特征在于，其更包括有一電能提供部，所述電性提供部是與所述發(fā)光二極管的底面上的所述對(duì)電性端點(diǎn)電性連接。

9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的發(fā)光二極管檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測體為一積分球體。

10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的發(fā)光二極管檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述拾取機(jī)構(gòu)更包括有：

一第一拾取臂，其是由一發(fā)光二極管承載盤上拾取所述發(fā)光二極管，所述第一拾取臂是通過一旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)將所述發(fā)光二極管翻轉(zhuǎn)；以及

一第二拾取臂，其是設(shè)置于所述第一拾取臂的一側(cè)，所述第二拾取臂是由所述第一拾取臂所拾取的所述發(fā)光二極管的底面拾取所述發(fā)光二極管，并通過至少一維度的線性位移運(yùn)動(dòng)將所述發(fā)光二極管置入于所述開口上。