[發(fā)明專利]發(fā)光二極管的檢測方法與系統(tǒng)

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010111719.4
• 申請日: 2010-02-09
• 公開（公告）號: CN102147327A
• 公開（公告）日: 2011-08-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊友財;楊育峰
• 申請（專利權(quán)）人: 均豪精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01R31/26
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明是有關(guān)一種光學(xué)檢測技術(shù)，尤其是指可以避免發(fā)光二極管漏光而影響到檢測結(jié)果的一種發(fā)光二極管的檢測方法與系統(tǒng)。

背景技術(shù)

發(fā)光二極管(Light?Emitting?Diode，LED)是由半導(dǎo)體材料所制成的發(fā)光元件。由于工藝的進(jìn)步，使得發(fā)光二極管的應(yīng)用日益廣泛，不論小至手電筒，大至戶外的大型看板，甚至取代成為下一代的照明系統(tǒng)。而發(fā)光二極管所產(chǎn)生的光線的品質(zhì)，直接會影響到產(chǎn)品的呈現(xiàn)品質(zhì)，由此可見發(fā)光二極管品管的重要性。因此，發(fā)光二極管的光度量測技術(shù)是制造發(fā)光二極管的過程中重要的一環(huán)。

通常發(fā)光二極管產(chǎn)品于制作完成后會進(jìn)行其電性特性的測試以及光學(xué)特性的檢測。其中在電性檢測的部分通常會需要將電極與發(fā)光二極管的電性端點(diǎn)相耦接，以測試其通電狀態(tài)；而在光學(xué)特性的檢測，則包括有光強(qiáng)度(LuminousIntensity，Iv)，峰值波長(Peak?Length，λp)分布，色溫(Color?Temperature)分布等檢測。檢測完畢之后，再對發(fā)光二極管進(jìn)行等級分類。

請參閱圖1所示，該圖為中國臺灣省公告專利第I258590所公開的量產(chǎn)式發(fā)光二極管測試裝置示意圖。所述裝置包含控制模塊10、至少一積分球測試模塊11、至少一測試板12、以及連接至所述控制模塊10的馬達(dá)單元13。所述積分球測試模塊11是連接至所述控制模塊10，且每一積分球測試模塊11是具有電性輸出14、光輸出15、以及光輸入口16；所述測試板12對應(yīng)于所述積分球測試模塊11設(shè)置，且每一測試板12是在其上置放有多個發(fā)光二極管17、每一測試板12并布局有多個對應(yīng)于所述發(fā)光二極管17的電性接點(diǎn)(未圖示)，以供應(yīng)所述發(fā)光二極管17所需電流的輸出與輸入；其中，所述積分球測試模塊11的所述光輸入口16是開設(shè)有一預(yù)定面積，可一次涵蓋預(yù)定數(shù)量(多個)的所述發(fā)光二極管40于其下，無須經(jīng)過移動所述積分球測試模塊11即可達(dá)成預(yù)定數(shù)量的所述發(fā)光二極管17的光學(xué)特性測試，所述積分球測試模塊11是包括有對應(yīng)于預(yù)定數(shù)量的所述發(fā)光二極管17的多個探針(未圖示)，并且可同時以一對一接觸式探測預(yù)定數(shù)量的所述發(fā)光二極管17的電性特性，如順向電壓(Forward?Bias?Voltage，VF)，逆向崩潰電壓(VZ)，逆向漏電流(ReverseCurrent，IR)，加熱前后的VF差值(Data?Forward?Voltage，DVF)，VF的暫態(tài)峰值(VFD)等等；由此，可縮短逐一測試每一發(fā)光二極管17電性特性所需的時間。

圖1的技術(shù)雖可以檢測發(fā)光二極管的電性與發(fā)光特性，然而仍然具有一些有待克服的問題。第一個問題是在圖1知技術(shù)中，由于發(fā)光二極管的發(fā)光部雖然對著積分球，然而發(fā)光二極管并非容置于所述積分球內(nèi)，因此造成發(fā)光二極管所產(chǎn)生的光并沒有辦法完全的投射至積分球內(nèi)部，而被積分球感測。尤其對于大視角的發(fā)光二極管而言，圖1知技術(shù)所檢測到的光學(xué)特性并無法準(zhǔn)確的表示發(fā)光二極管的真正光學(xué)特性，因而有檢測光特性效率不佳的問題。第二個問題是在圖1的技術(shù)中，由于發(fā)光部朝上，因此會有電性檢測困難的問題。這是因為發(fā)光二極管發(fā)光部朝上，則發(fā)光二極管的電性接點(diǎn)則在發(fā)光部的另一側(cè)，亦即在發(fā)光二極管的底面。因此，為了檢測發(fā)光二極管的電性，則必須要利用特殊的電性連接方式來檢測，增加了機(jī)構(gòu)與檢測的困難度。

綜合上述，因此亟需一種發(fā)光二極管的檢測方法與系統(tǒng)來解決現(xiàn)有技術(shù)所產(chǎn)生的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種發(fā)光二極管檢測方法與系統(tǒng)，其是使發(fā)光二極管的發(fā)光部容置于檢測體內(nèi)，使得發(fā)光二極管所產(chǎn)生的光可以完全被檢測體所檢測，而不會有光泄漏的問題，而且檢測體也不會受到外部環(huán)境所產(chǎn)生的光場的干擾而影響檢測結(jié)果。因此，本發(fā)明的方法與系統(tǒng)可以提升發(fā)光二極管光特性的檢測效率。

本發(fā)明提供一種發(fā)光二極管檢測方法與系統(tǒng)，其是使發(fā)光二極管的發(fā)光部容置于檢測體內(nèi)時，發(fā)光二極管的電性檢測面朝上，使得電性檢測元件可以輕易地與發(fā)光二極管的電性檢測面上的電性端子電性連接，進(jìn)而可以檢測發(fā)光二極管的電性。

在一實施例中，本發(fā)明提供一種發(fā)光二極管檢測方法，其是包括有下列步驟：提供一檢測體，其內(nèi)具有一檢測空間，在所述檢測體的一側(cè)具有一開口與所述檢測空間相連接；以一拾取機(jī)構(gòu)拾取一發(fā)光二極管，將所述發(fā)光二極管置于所述開口上，使所述發(fā)光二極管的發(fā)光部容置于所述檢測空間內(nèi)；使所述發(fā)光二極管于所述檢測空間內(nèi)產(chǎn)生一光場；以及以所述檢測體檢測所述光場。