[發明專利]用于熒光分析儀上的X射線檢測方法

有效

• 申請號: 201010108168.6
• 申請日: 2010-02-05
• 公開（公告）號: CN101782537A
• 公開（公告）日: 2010-07-21
• 發明（設計）人: 趙建軍;周俊武;李杰;趙宇;徐寧
• 申請（專利權）人: 北京礦冶研究總院
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 北京凱特來知識產權代理有限公司 11260
• 代理人: 鄭立明;趙鎮勇

技術領域

本發明涉及一種用于熒光品位分析儀上的X射線檢測方法，尤其涉及一種用于熒光分 析儀上的X射線檢測方法。

背景技術

選礦行業常用X熒光分析儀對礦漿品位進行在線檢測，及時調整工藝以保證產品指 標。元素特征X射線的譜峰檢測是X射線熒光分析技術的關鍵，其檢測精度直接影響品位 分析精度。

目前選礦行業中，有基于兩種工作原理的在線X熒光品位分析儀，一種是波長色散 型；另一種是能量色散型。波長色散型是利用分光晶體將不同元素的特征X射線分離出來 得到某個元素的譜峰，能量色散型則是用軟件算法對重疊的譜峰進行分解。

上述現有技術至少存在以下缺點：

分析方法單一，譜峰識別的精度低，分析儀的品位分析精度低。

發明內容

本發明的目的是提供一種譜峰識別的精度高，分析儀的品位分析精度高的用于熒光 分析儀上的X射線檢測方法。

本發明的目的是通過以下技術方案實現的：

本發明的用于熒光分析儀上的X射線檢測方法，它是波長色散和能量色散相結合的檢 測方法，包括步驟：

A、利用布拉格定律將被測對象的特征X射線分離出來；

B、對分離出來的特征X射線用X射線探測器檢測，得到光譜數據；

C、將步驟A中得到的分離后的特征X射線的光譜數據用能量色散的方法進行處理。

由上述本發明提供的技術方案可以看出，本發明所述的用于熒光分析儀上的X射線檢 測方法，由于它是波長色散和能量色散相結合的檢測方法，首先，利用布拉格定律將被 測對象的特征X射線分離出來；然后對分離出來的特征X射線用X射線探測器檢測，得到光 譜數據，并對分離后的特征X射線的光譜數據用能量色散的方法進行處理。用兩種方法處 理后的數據進行品位計算，相比單用一種分析方法，可提高品位分析精度，尤其適用于 被測對象的物理性質變化較大、低品位測量和非金屬元素測量的情況。

具體實施方式

本發明的用于熒光分析儀上的X射線檢測方法，其較佳的具體實施方式是：

它是波長色散和能量色散相結合的檢測方法，具體包括步驟：

A、利用布拉格定律將被測對象的特征X射線分離出來；

B、對分離出來的特征X射線用X射線探測器檢測，得到光譜數據；

C、將步驟A中得到的分離后的特征X射線的光譜數據用能量色散的方法進行處理。

所述步驟C之后還可以包括步驟：

D、對分離前的特征X射線用另外的X射線探測器檢測，得到光譜數據；

E、將步驟D中檢測到的分離前的特征X射線的光譜數據用能量色散的方法進行處理；

F、用步驟E中處理后的數據對步驟C中的數據進行修正，用于對步驟A中分離出來的 被測對象進行分析。

所述步驟E之后還可以包括步驟：

用步驟E中處理后的數據對步驟A中未被分離出來的元素進行分析，所述未被分離出 來的元素指低品位元素和/或非金屬元素等。

上述的步驟C和E中，用能量色散的方法進行處理包括：

根據先驗知識，對于不存在譜峰重疊的特征X射線，用高斯擬合方法進行處理；對存 在譜峰重疊的情況，進行譜峰分解處理。

最后還可以包括步驟：

當被測對象物理性質有一定變化時，根據步驟C或步驟E處理后的數據建立品位分析 模型。

本方法的用于熒光分析儀上的X射線檢測方法，是一種用于X熒光品位分析儀上的X射 線檢測方法，本發明中：

首先，進行分光處理；然后，對分光后的光譜數據進行能量色散處理，包括高斯擬 合處理和譜峰分解處理，其中，譜峰分解是針對被測對象組分比較復雜的情況，即兩種 元素含有相同波長的特征X射線；

本發明中，還單獨用一個高分辨率的X射線探測器檢測分光前的所有元素的特征X射 線并用能量色散的方法進行譜峰計算，結合其他幾個探測器的光譜數據，進行特征X射線 的譜峰計算。

分光是波長色散的原理，對分光后的譜峰再次進行高斯擬合處理和譜峰分解處理是 能量色散的原理，加上用能量色散方法處理分光前的X射線光譜數據，用兩種方法處理后 的數據進行品位計算，相比單用一種分析方法，可提高品位分析精度，尤其適用于被測 對象的物理性質變化較大、低品位測量和非金屬元素測量的情況。