[發(fā)明專利]用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010108168.6
• 申請(qǐng)日: 2010-02-05
• 公開（公告）號(hào): CN101782537A
• 公開（公告）日: 2010-07-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 趙建軍;周俊武;李杰;趙宇;徐寧
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京礦冶研究總院
• 主分類號(hào): G01N23/223
• 分類號(hào): G01N23/223
• 代理公司: 北京凱特來(lái)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11260
• 代理人: 鄭立明;趙鎮(zhèn)勇

1.一種用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法，其特征在于，它是波長(zhǎng)色散和能量色 散相結(jié)合的檢測(cè)方法，包括步驟：

A、利用布拉格定律將被測(cè)對(duì)象的特征X射線分離出來(lái)；

B、對(duì)分離出來(lái)的特征X射線用X射線探測(cè)器檢測(cè)，得到光譜數(shù)據(jù)；

C、將步驟A中得到的分離后的特征X射線的光譜數(shù)據(jù)用能量色散的方法進(jìn)行處理

D、對(duì)分離前的特征X射線用另外的X射線探測(cè)器檢測(cè)，得到光譜數(shù)據(jù)；

E、將步驟D中檢測(cè)到的分離前的特征X射線的光譜數(shù)據(jù)用能量色散的方法進(jìn)行處理；

F、用步驟E中處理后的數(shù)據(jù)對(duì)步驟C中的數(shù)據(jù)進(jìn)行修正，用于對(duì)步驟A中分離出來(lái)的 被測(cè)對(duì)象進(jìn)行分析。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法，其特征在于，所述步 驟F之后還包括步驟：

用步驟E中處理后的數(shù)據(jù)對(duì)步驟A中未被分離出來(lái)的元素進(jìn)行分析。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法，其特征在于，所述未 被分離出來(lái)的元素指低品位元素和/或非金屬元素。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法，其特征在于，所述用 能量色散的方法進(jìn)行處理包括：

根據(jù)先驗(yàn)知識(shí)，對(duì)于不存在譜峰重疊的特征X射線，用高斯擬合方法進(jìn)行處理；對(duì)存 在譜峰重疊的情況，進(jìn)行譜峰分解處理。

5.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法，其特征在 于，最后還包括步驟：

當(dāng)被測(cè)對(duì)象物理性質(zhì)有一定變化時(shí)，根據(jù)步驟C或步驟E處理后的數(shù)據(jù)建立品位分析 模型。