[發明專利]光記錄介質用物鏡的檢查方法

無效

• 申請號: 201010105914.6
• 申請日: 2010-01-25
• 公開（公告）號: CN101840712A
• 公開（公告）日: 2010-09-22
• 發明（設計）人: 勝間敏明
• 申請（專利權）人: 富士能株式會社
• 主分類號: G11B7/135
• 分類號: G11B7/135;G01M11/02
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 李貴亮

1.一種光記錄介質用物鏡的檢查方法，在按照使從光源出射的光通過光記錄介質的透光性的保護層而聚光在上述光記錄介質的規定位置的方式對將第1溫度作為設計溫度而設計的塑料制的光記錄介質用物鏡進行檢查時，將取代上述保護層的檢查用平行平板插入到通過該物鏡所聚光的光的光路而進行檢查，其特征在于，包括：

第1工序，其中求出在與上述第1溫度不同的第2溫度下的上述物鏡的形狀及折射率；

第2工序，其中按照由具有上述第2溫度下的形狀及折射率的上述物鏡和與上述檢查用平行平板相同的材質且具有上述第2溫度下的折射率的計算用平行平板構成的光學系統的像差變為最小的方式，決定上述計算用平行平板的厚度；

第3工序，其中利用與在上述第2工序中決定的上述計算用平行平板的厚度相同的厚度的上述檢查用平行平板，在上述第2溫度下對基于上述設計而制作的上述物鏡進行檢查。

2.一種光記錄介質用物鏡的檢查方法，在按照使從光源出射的光通過光記錄介質的透光性的保護層而聚光在上述光記錄介質的規定位置的方式，對將第1溫度作為設計溫度而設計的塑料制的光記錄介質用物鏡進行檢查時，將取代上述保護層的檢查用平行平板，插入到通過該物鏡而聚光后的光的光路而進行檢查，其特征在于，包括：

第1工序，其中求出由上述物鏡和計算用平行平板構成的光學系統的在上述第1溫度下的像差變為最小時的上述計算用平行平板的厚度，所述計算用平行平板是與上述檢查用平行平板相同材質且與上述保護層折射率不同；

第2工序，其中求出與上述第1溫度不同的第2溫度下的上述物鏡的形狀及折射率、和上述第2溫度下的上述計算用平行平板的折射率；

第3工序，其中對由具有在上述第2溫度下的形狀及折射率的上述物鏡、和具有上述第2溫度下的折射率和在上述第1工序中求出的厚度的上述計算用平行平板構成的光學系統的像差進行計算；

第4工序，其中按照由具有在上述第2溫度中的形狀及折射率的上述物鏡、和具有在上述第2溫度中的折射率的上述計算用平行平板構成的光學系統的像差小于在上述第3工序中計算出的像差的方式，決定上述計算用平行平板的厚度；

第5工序，其中利用與在上述第4工序中決定的上述計算用平行平板的厚度相同的厚度的上述檢查用平行平板，在上述第2溫度下對基于上述設計所制作的上述物鏡進行檢查。