[發明專利]一種制備高純釕的方法及裝置無效
| 申請號: | 201010105097.4 | 申請日: | 2010-01-19 |
| 公開(公告)號: | CN101797649A | 公開(公告)日: | 2010-08-11 |
| 發明(設計)人: | 章德玉;劉偉生;張國林;唐曉亮 | 申請(專利權)人: | 蘭州大學 |
| 主分類號: | B22F9/26 | 分類號: | B22F9/26;C23C14/34 |
| 代理公司: | 蘭州振華專利代理有限責任公司 62102 | 代理人: | 張晉 |
| 地址: | 730000 *** | 國省代碼: | 甘肅;62 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 制備 高純 方法 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種制備高純釕的方法和裝置,本發明所制備的高純釕是指用于濺射靶材的高純釕粉。?
背景技術
在半導體超大規模集成電路生產中用于濺射靶材的高純釕,要求其純度至少在4N5(99.995%)以上,同時要求材料中堿金屬、過渡金屬元素、放射性元素、氣體元素等雜質含量非常低。具體要求高純釕濺射靶材中,排除氣態成分,純釕純度至少在99.995%以上。?
目前,有關高純釕的制備方法,公開的文獻還很少。主要概括為:?
(一)火法精煉海綿釕提純技術。專利號為“US?6458183”的“制備高純釕的方法及其過程”的美國專利,公開了一種制備高純釕的方法,通過吹入的含臭氧氣體到粗釕粉中(在流化床中進行),反應生成的RuO4和未反應的O3等殘留的混合氣體一起送入收集罐中,在收集罐中RuO4進一步被氧化生成RuO2沉積在收集罐中,沉積的RuO2在氫氣中還原生成純度至少為99.99%的高純釕,但該專利中只分析了Ni(0.3ppm)、Cu(0.1ppm)、Fe(2.0ppm)、Al(0.3ppm)、Ca(0.2ppm)、Si(10ppm)、Mg(0.1ppm)、Cr(0.6ppm),這種工藝能否去除其余雜質元素文獻中并未做出說明。另外,專利號為“JP,09-041131,A”的“制備高純銥或高純釕的方法”的日本專利,公開了一種制備高純釕的方法,把99.9%純度的釕粉經過電子束熔煉得到高純度的釕粉,但專利中只列出的分析的雜質元素有Fe(0.01ppm)、Ni(<0.01ppm)、Cr(<0.01ppm)、Cu(0.01ppm)、Al(0.01ppm)、Na(0.01ppm)、Ca(<0.01ppm)、K(<0.01ppm)、Mg(<0.01ppm),與前一專利相同,這一專利能否去除其它的雜質元素也未提及。此外這類技術需要特殊的生產設備。?
(二)濕法與火法相結合提純海綿釕制備高純釕技術。專利號為“US?6036741”的“高純釕的制備方法”的美國專利,公開了一種采用臭氧氧化海綿釕制備高純釕的方法,通過吹入含臭氧的氣體到加入次氯酸的粗釕粉溶液中,用鹽酸溶液吸收揮發出來的RuO4氣體,蒸發溶液近干,在氫氣流中煅燒所得的RuOCl3晶體得到排除氣態雜質元素含量純度至少為99.995%的釕粉,其專利分析的雜質元素較為全面,分析了Na、K、Fe、Ni、U、Th、Os、Rh、Ir、Pt、Pd、Cr、Mo、Al、Si、Co、Cu、Ca、Mg、C和氣態成分元素O、H、N、Cl共24種雜質元素,并且堿金屬、堿土金屬和過渡金屬雜質元素單含量均小于1ppm,放射性金屬雜質單含量均小于10ppb,C和氣態雜質元素總含量小于500ppm。專利號為“US?6284013”的“制備高純釕濺射靶材的方法”的美國專利,公開了一種制備高純釕的方法,把粗釕粉加入到氫氧化鈉溶液中,先通入氯氣到溶液中,之后吹入含臭氧的氣體到溶液中,生成的RuO4在鹽酸溶液或鹽酸與氯化銨的混合酸吸收,蒸發吸收液至干,在氫氣流中煅燒釕鹽生成純度不小于4N5高純釕粉,其專利中只分析了Na(0.1ppm)、K(0.1ppm)、Fe(0.5ppm)、U(<0.1ppb)、Th(<0.2ppb)、C(20ppm)、O(60ppm)、Cl(<10ppm)等8種雜質元素,其余雜質元素含量未作說明。專利號為?“JP,08-199350,A”的“釕薄膜濺射靶材的形成”的日本專利,公開了一種制備高純釕的方法,用粗釕粉經堿熔,水浸,加入過量的氫氧化鈉,通氯氣飽和溶液,加熱蒸出RuO4用鹽酸吸收,反復蒸餾3次得到提純,蒸干溶液得到膠體狀Ru(OH)2,在700℃下煅燒24h,得到RuO2粉末,進一步在氫氣流中于900℃下還原10h,得到5N高純釕,其專利中只列出的分析雜質元素有:K、Ca、Na、Mg、Fe、Ni、Co、U、Th,其中K、Ca、Na、Mg總含量小于5ppm,Fe、Ni、Co總含量小于1ppm,U、Th總含量小于5ppb,其余雜質元素含量未作說明。?
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