[發明專利]實現塞曼背景校正原子吸收的背景值計算和顯示的方法

無效

• 申請號: 201010103279.8
• 申請日: 2010-01-29
• 公開（公告）號: CN102141509A
• 公開（公告）日: 2011-08-03
• 發明（設計）人: 劉志高;陳建鋼;楊嘯濤
• 申請（專利權）人: 上海華之光譜儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31;G01J3/42
• 代理公司: 上海天翔知識產權代理有限公司 31224
• 代理人: 朱妙春

技術領域

本發明涉及一種實現背景值計算和顯示方法，特別是涉及一種實現塞曼背景校正原子吸收的背景值計算和顯示方法。

背景技術

本領域人士眾所周知，塞曼背景校正是一種優良的背景校正方法。樣品光束測量總吸收信號，參考光束測量背景信號，兩者相減得到凈原子吸收信號。通常塞曼背景校正的儀器顯示兩者相減后的凈原子吸收信號和背景信號，因為背景信號作為基體的信息而作為分析結果的參考。

然而實際上所顯示的背景值并不是真正的背景值，其原因是無論采用交變磁場和恒定磁場在測量獲得的參考道吸光度中包含著原子吸收信號，它們都是σ成分的吸收。也就是說參考到信號是背景吸收與σ成分的吸收之和。

鑒于塞曼背景校正中無論是交變磁場還是恒定磁場，只要在分析過程中磁場強度保持不變，參考道中的原子吸收即σ成分的吸收與樣品道中的原子吸收(對應于恒定磁場的是∏成分吸收；對應于交變磁場的是總原子吸收)具有極其恒定的關系。因此可以利用這一點，即：在進行標準曲線測量時，同時對σ成分的吸收進行曲線擬合，在計算參考道吸光度時同時減去對應樣品的σ成分的吸收，這樣可以使顯示的參考道信號為真正的背景吸收。

發明內容

針對上述問題，本發明的主要目的在于提供一種實現塞曼背景校正原子吸收的一種背景值計算的方法，與普通的實現塞曼背景校正原子吸收的一種背景值計算的方法相比，本發明在塞曼背景校正原子吸收中準確計算和顯示真實背景吸收值，提供更為準確的分析信息。

本發明是通過下述技術方案來解決上述技術問題的：

一、計算真實背景值的原理

因為參考道吸收信號為樣品的真實背景吸收與原子吸收中σ成分的吸收之和，且σ成分的吸收與樣品道中的原子吸收具有極其恒定的關系，所以我們可以用標準樣品(真實背景值為0)測量時的參考道信號作為原子吸收中σ成分，作為樣品測量時相應的σ成分，從而獲得真實背景值。

具體我們可以在標準樣品系列測量后，利用校正曲線中的參考道信號A_ref和樣品道信號A_sam數據(A_sam＝A_total(std)-A_ref(std))，擬合出參考道信號A_ref和樣品道信號A_sam數據之間的關系表達式A_ref＝F₂(A_sam)，這時的A_ref為原子吸收中σ成分Aσ；在樣品測定時，真實背景值為參考道信號A_ref和由F₂(A_sam)計算得出的Aσ的差，即A_bkg＝A_ref-F₂(A_total-A_ref)。

二、計算真實背景值包括如下步驟：

(1).建立校正曲線

1.測量每一個標準樣品的樣品的總吸收信號A_total(std)；參考道信號A_ref(std)

2.計算每一個測量點的樣品道信號A_sam＝A_total(std)-A_ref(std)

3.擬合出濃度C和樣品道信號A_sam曲線方程：

C＝F₁(A_sam)，這里F₁表示函數關系，A_sam＝A_total(std)-A_ref(std)

4.擬合出原子吸收中σ成分Aσ和樣品道信號A_sam曲線方程：

Aσ＝A_ref＝F₂(A_sam)，這里F₂表示函數關系，A_sam＝A_total(std)-A_ref(std)

(2).在測量實際樣品時，扣除原子吸收中σ成分Aσ：

1.測量每一個樣品的樣品的總吸收信號A_total；參考道信號A_ref

2.計算每一個測量點的樣品道信號A_sam＝A_total-A_ref