[發明專利]實現塞曼背景校正原子吸收的背景值計算和顯示的方法

無效

• 申請號: 201010103279.8
• 申請日: 2010-01-29
• 公開（公告）號: CN102141509A
• 公開（公告）日: 2011-08-03
• 發明（設計）人: 劉志高;陳建鋼;楊嘯濤
• 申請（專利權）人: 上海華之光譜儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31;G01J3/42
• 代理公司: 上海天翔知識產權代理有限公司 31224
• 代理人: 朱妙春

1.一種實現塞曼背景校正原子吸收的背景值計算的方法，其特征在于：該方法包括如下步驟：

第一步：建立校正曲線：

(1).測量每一個標準樣品的總吸收信號A_total(std)；參考道信號A_ref(std)；

(2).計算每一個測量點的樣品道信號A_sam＝A_total(std)-A_ref(std)；

(3).擬合出濃度C和樣品道信號A_sam曲線方程：

C＝F₁(A_sam)，這里F₁表示函數關系，A_sam＝A_total(std)-A_ref(std)；

(4).擬合出原子吸收中σ成分Aσ和樣品道信號A_sam曲線方程：

Aσ＝A_ref＝F₂(A_sam)，這里F₂表示函數關系，A_sam＝A_total(std)-A_ref(std)；

第二步：在測量實際樣品時，扣除原子吸收中σ成分Aσ：

(1).測量每一個樣品的樣品的總吸收信號A_total；參考道信號A_ref；

(2).計算每一個測量點的樣品道信號A_sam＝A_total-A_ref；

(3).計算每一個測量點的原子吸收中σ成分Aσ＝F₂(A_sam)；

(4).計算出真實背景值A_bkg＝A_ref-Aσ；

在進行制作校正曲線的同時擬合計算參考道吸光度與校正了背景的原子吸收信號的相關關系，即計算A_ref＝F₂(A_total(std)-A_ref(std))，并以此擬合關系為基礎，在每一個測量點計算真實背景值，即：計算A_bkg＝A_ref-F₂(A_total-A_ref)。

2.一種實現塞曼背景校正原子吸收的背景值計算和顯示的方法，其特征在于：信號圖形顯示參考道吸收、進行了背景校正的吸收、和真實背景三個信號的曲線。