[發明專利]PVDF有機聚合物薄膜電容器有效
| 申請號: | 201010101879.0 | 申請日: | 2010-01-27 |
| 公開(公告)號: | CN101752087A | 公開(公告)日: | 2010-06-23 |
| 發明(設計)人: | 李超;孫璟蘭;孟祥建;王建祿;田莉;喬輝;張燕;李向陽 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海技術物理研究所 |
| 主分類號: | H01G4/33 | 分類號: | H01G4/33;H01G4/14;H01G4/005;H01L21/02 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
| 地址: | 20008*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | pvdf 有機 聚合物 薄膜 電容器 | ||
技術領域
本專利涉及電子元器件技術,具體指一種PVDF有機聚合物薄膜電容器。
背景技術
近年來,有機聚合物薄膜由于電學特性好、工藝簡單、成本低、與各種有 機及無機襯底兼容等優異特性受到廣泛關注,已經從材料研究走向各種有機器 件的制備階段,其光電響應已可與無機材料相媲美,同時,在顯示、射頻鑒別 系統、智能卡存儲等領域有巨大的潛在應用,促進了有機襯底上有源電路的產 生。
有機聚合物薄膜的制備方法完全不同于無機薄膜。目前,有機聚合物薄膜 的制備主要采用兩種工藝:一,溶膠凝膠法或LB膜等工藝,然后對有機薄膜 進行化學或熱處理,代表材料為目前新興的PVDF薄膜;二,真空分子束沉積 法,在真空腔中熱沉積有機薄膜,代表材料為目前性能優異的并五苯有機半導 體薄膜。無論是那種方法制備的有機薄膜,光刻都是目前有機器件制備中的難 題。由于常規光刻工藝使用的化學試劑均為有機溶劑,有機聚合物薄膜與其發 生化學反應,因此有機薄膜無法采用常規光刻工藝。
以傳統的PVDF有機聚合物電容器結構為例,器件制備中只有底電極可以 采用常規工藝進行光刻制備,采用溶膠凝膠法或LB膜法制備有機薄膜后,由 于無法光刻,上電極只能采用金屬掩膜板生長或噴涂印刷技術。這種電容器結 構的突出問題在于:一,由于無法光刻,功能區不能精確確定,功能區側面暴 露在外,影響了器件的穩定性和可靠性;二,有機聚合物薄膜自身作為介電層 隔離上下電極,在邊緣處存在尖端效應,易擊穿;三,非功能區無法通過刻蝕 等方法選擇性去除,影響了相鄰器件的測量,使器件容易級聯擊穿,同時嚴重 制約了下電極的引出及與其他元器件的互連;四,由于金屬掩膜板或者印刷噴 涂技術的精度限制,上電極的面積最小只能到200μm×200μm,這極大限制了工 藝的精度和尺度,無法進行精確的小面元器件及線列、面陣器件的制備,限制 了有機器件的應用范圍;五,由于PVDF有機薄膜與光刻溶劑發生反應,這使 得傳統電容器器件只能做為器件工藝的終結步驟,無法繼續進行傳統工藝,限 制了與其他器件的集成。
發明內容
本專利的目的在于克服現有PVDF電容器器件工藝中PVDF聚合物薄膜無 法光刻的難題,提出一種PVDF有機聚合物薄膜電容器的光刻制備技術,這種 PVDF有機聚合物電容器結構可以解決電容器的邊緣擊穿效應,并與后續光刻 工藝互融,方便與其他器件的集成。
本專利一種PVDF有機聚合物薄膜電容器器件,其特征在于,器件結構包 括:
一襯底;
一金屬底電極,該金屬底電極生長在襯底上;
一介電絕緣層,該介電絕緣層生長在金屬底電極上,邊緣落于襯底上,并 且有開孔;
一有機聚合物薄膜,該有機聚合物薄膜生長在介電絕緣層開孔上,并且該 有機聚合物薄膜的面積大于介電絕緣層的開孔面積,邊緣落在介電絕緣層上;
一金屬上電極,該金屬上電極生長在有機聚合物薄膜層上,其面積與有機 聚合物薄膜功能區面積相同;
一包裹電極,該包裹電極將有機聚合物薄膜側面與金屬上電極包裹起來, 邊緣落在介電絕緣層上。
其中襯底為藍寶石、硅、氮化鎵或ITO玻璃。
其中金屬底電極為熱蒸發低溫沉積的鋁電極,厚度不小于100nm,電極為 長方形結構。
其中介電絕緣層為二氧化硅或氮化硅絕緣層,介電絕緣層邊緣位于襯底 上,為孔型,介電絕緣層將部分金屬底電極包裹起來,開孔略小于器件的功能 區面積,厚度不小于300nm。
其中有機聚合物薄膜為溶膠凝膠法或LB膜法制備的PVDF薄膜,厚度為 30nm-300nm。
其中金屬上電極為熱蒸發低溫沉積的鋁電極,厚度不小于100nm,該金屬 上電極面積與PVDF有機聚合物薄膜功能區面積相同。
其中包裹電極為熱蒸發沉積的厚度不小于150nm的金電極,電極為長方 形結構,與下電極交叉成十字,邊緣落在介電絕緣層上,其面積大于PVDF有 機聚合物薄膜功能區面積,將PVDF有機聚合物薄膜功能區側面及金屬上電極 包裹起來。
本專利一種PVDF有機聚合物薄膜電容器器件的光刻制備方法,其特征在 于,工藝步驟如下:
1在襯底上利用熱蒸發設備低溫沉積金屬底電極;
2在底電極上濺射生長二氧化硅或氮化硅介電絕緣層;
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