[發明專利]用于診斷成像的納米顆粒造影劑

在審

• 申請號: 200980157705.1
• 申請日: 2009-12-18
• 公開（公告）號: CN102333547A
• 公開（公告）日: 2012-01-25
• 發明（設計）人: R·E·科爾博恩;P·J·小博尼塔蒂巴斯;A·S·托里斯;M·E·馬里諾;M·D·巴茨;A·庫爾卡尼;B·C·貝爾斯;B·A·海
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: A61K49/04
• 分類號: A61K49/04;A61K49/18
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 李進;林毅斌

1.一種納米顆粒(10)，所述納米顆粒包含：

a)芯(20)，所述芯具有基本不含二氧化硅的芯表面(30)，和

b)結合到芯表面(30)的殼(40)，其中殼(40)包含至少一個硅烷官能化兩性離子部分。

2.權利要求1的納米顆粒，其中芯(20)包含過渡金屬或過渡金屬化合物。

3.權利要求2的納米顆粒，其中芯(20)包含氧化鉭。

4.權利要求1的納米顆粒，其中芯(20)包含超順磁性物質。

5.權利要求4的納米顆粒，其中芯(20)包含超順磁性氧化鐵。

6.權利要求1的納米顆粒，其中硅烷官能化兩性離子部分包含帶正電荷部分、帶負電荷部分和在所述帶正電荷部分和帶負電荷部分之間的第一間隔基。

7.權利要求1的納米顆粒，其中納米顆粒(10)具有最大約50nm的粒徑。

8.一種組合物，所述組合物包含多種納米顆粒，其中至少一種納米顆粒為權利要求1的納米顆粒(10)。

9.權利要求8的組合物，所述組合物用作診斷劑組合物。

10.一種制備納米顆粒(10)的方法，所述方法包括以下步驟：

a)提供芯(20)，所述芯具有基本不含二氧化硅的芯表面(30)；和

b)布置殼(40)結合到芯表面(30)，其中殼(40)包含硅烷官能化兩性離子部分。

11.權利要求10的方法，其中提供芯(20)包括提供第一前體物質，其中所述第一前體物質包含至少一種過渡金屬。

12.權利要求10的方法，其中布置殼(40)結合到芯表面(30)包括提供第二前體物質，并使第二前體物質與芯(20)反應，以產生布置于芯(20)上的殼(40)。

13.權利要求12的方法，其中第二前體物質包含硅烷部分。

14.一種使用方法，所述方法包括：

向受試者給予診斷劑組合物，其中所述診斷劑組合物包含多種納米顆粒(10)，

其中納米顆粒(10)包含芯(20)，所述芯具有基本不含二氧化硅的芯表面(30)；和

結合到芯表面(30)的殼(40)，其中殼(40)包含至少一個硅烷官能化兩性離子部分；并且

用診斷裝置對受試者成像。

15.一種使用方法，所述方法包括：

向受試者給予診斷劑組合物，其中所述診斷劑組合物包含多種納米顆粒(10)，

其中納米顆粒(10)包含芯(20)，所述芯具有芯表面(30)；其中芯(20)包含氧化鉭，和

結合到芯表面(30)的殼(40)，其中殼(40)包含至少一個硅烷官能化兩性離子部分；并且

用X射線裝置對受試者成像。

16.權利要求1的納米顆粒用于制備用作診斷劑的診斷劑組合物的用途。