[發明專利]用于電致發光顯示器的補償后的驅動信號無效
| 申請號: | 200980151005.1 | 申請日: | 2009-11-04 |
| 公開(公告)號: | CN102257555A | 公開(公告)日: | 2011-11-23 |
| 發明(設計)人: | 約翰·威廉·哈默;加里·帕雷特;C·I·利維 | 申請(專利權)人: | 全球OLED科技有限責任公司 |
| 主分類號: | G09G3/32 | 分類號: | G09G3/32 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 李輝;張旭東 |
| 地址: | 美國弗*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 電致發光 顯示器 補償 驅動 信號 | ||
技術領域
本發明涉及諸如有機發光二極管(OLED)顯示器的固態電致發光(EL)平板顯示器,更具體地,涉及可以對電致發光顯示器組件的老化進行補償的這種顯示器。
背景技術
電致發光(EL)設備這些年已為人知,并且近來已用在商業顯示設備中。這種設備同時利用有源矩陣和無源矩陣控制方案,并能夠利用多個子像素。每個子像素包含EL發射體和用于通過EL發射體驅動電流的驅動晶體管。子像素通常按照二維陣列排列,每個子像素具有行地址和列地址,并且具有與子像素相關聯的數據值。不同顏色(例如紅色、綠色、藍色和白色)的子像素被分組以形成像素。EL顯示器可以根據包括可涂覆無機發光二極管、量子點和有機發光二極管(OLED)的各種發射體技術制造。
作為優良的平板顯示技術,OLED顯示器引起了特別關注。這些顯示器利用流經有機材料薄膜的電流來產生光。發出的光的顏色和從電流到光的能量轉換效率由有機薄膜材料的組成確定。不同的有機材料發出不同顏色的光。但是,隨著顯示器的使用,顯示器中的有機材料老化,并且發光效率降低。這會減少顯示器的壽命。不同的有機材料能以不同速率老化,引起有差別的顏色老化,并且顯示器的白場隨著顯示器的使用而變化。另外,各個像素能以不同于其它像素的速率老化,導致顯示不均勻。而且,諸如非晶硅晶體管的一些電路元件也已知呈現老化效應。
材料老化的速率與流經顯示器的電流量相關,因此與從顯示器發出的光量相關。已經描述了補償該老化效應的多種技術。
由Shen等提出的美國專利No.6414661?B1描述了一種通過基于施加到像素的累計驅動電流計算并預測每個像素在光輸出效率上的衰減來對有機發光二極管(OLED)顯示器中的各個OLED的發光效率的長期變化進行補償的方法和相關系統。該方法為每個像素推導出施加到下一驅動電流的校正系數。該技術需要對施加到每個像素的驅動電流進行測量和累計,需要必須隨著顯示器的使用而連續更新的存儲的存儲器,因而需要復雜和擴展的電路。
由Narita等提出的美國專利No.6504565?B1描述了一種相似的將從每個發光元件中發出的光量保持為常量的方法。該設計需要使用響應于發送到每個像素的每個信號記錄使用情況的計算單元,極大地增加了電路設計的復雜度。
由Everitt提出的美國專利申請公開No.2002/0167474A1描述了一種用于OLED顯示器的脈寬調制驅動器。視頻顯示器的一個實施方式包括用于提供選定電壓來驅動視頻顯示器中的有機發光二極管的電壓驅動器。該電壓驅動器可以從說明老化、列電阻、行電阻和其它二極管特征的校正表中接收電壓信息。在該發明的一個實施方式中,在正常電路運行之前和/或正常電路運行期間計算出該校正表。由于OLED輸出光量被認為相對于OLED電流是線性的,所以校正方案基于通過OLED二極管在足夠長以允許瞬變趨于穩定的持續時間內發送已知電流,然后利用駐留在列驅動器的模數轉換器(A/D)測量對應的電壓。校準電流源和A/D可以通過切換矩陣切換到任何列。
由Numao提出的JP?2002-278514A描述了一種測量流經有機EL元件的電流以及有機EL元件的溫度的方法。然后使用預先計算的表以及電流和溫度測量值執行補償。該設計推測像素的可預測的相對使用,并且不考慮像素組或單個像素在實際使用中的差異。因此,隨著時間的變化對顏色或空間組的校正可能是不精確的。而且,需要在顯示器內集成溫度計和多個電流感測電路。該集成很復雜,降低了制造產量,并且占用顯示器內的空間。
由Ishizuki等提出的美國專利申請公開No.2003/0112813?A1公開了一種依次測量每個子像素的電流的方法。這種方法的測量技術是迭代的,因此較慢。
由Arnold等提出的美國專利No.6995519教示了一種補償OLED發射體老化的方法。此方法假設設備亮度的整個變化是由OLED發射體的變化導致的。然而,當由非晶硅(a-Si)形成電路中的驅動晶體管時,此假設無效,因為晶體管的閾值電壓也隨著使用而改變。該方法將不能針對晶體管出現老化效應的電路中的OLED效率損失提供完全補償。此外,當使用諸如反向偏置的方法來減輕a-Si晶體管閾值電壓偏移時,在沒有對反向偏置效應的適當跟蹤/預測、或者對OLED電壓變化或晶體管閾值電壓變化的直接測量的情況下,對OLED效率損失的補償將變得不可靠。
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