[發(fā)明專利]用于電致發(fā)光顯示器的補償后的驅(qū)動信號無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200980151005.1 | 申請日: | 2009-11-04 |
| 公開(公告)號: | CN102257555A | 公開(公告)日: | 2011-11-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 約翰·威廉·哈默;加里·帕雷特;C·I·利維 | 申請(專利權(quán))人: | 全球OLED科技有限責任公司 |
| 主分類號: | G09G3/32 | 分類號: | G09G3/32 |
| 代理公司: | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 李輝;張旭東 |
| 地址: | 美國弗*** | 國省代碼: | 美國;US |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 電致發(fā)光 顯示器 補償 驅(qū)動 信號 | ||
1.一種向多個電致發(fā)光(EL)子像素中的驅(qū)動晶體管提供驅(qū)動晶體管控制信號的方法,所述方法包括以下步驟:
(a)提供多個EL子像素,每個子像素包括具有第一電極、第二電極和柵極的驅(qū)動晶體管,具有第一電極和第二電極的EL發(fā)射體,以及具有第一電極、第二電極和柵極的讀出晶體管;
(b)將每個讀出晶體管的第一電極連接到相對應(yīng)的驅(qū)動晶體管的第二電極,并連接到相對應(yīng)的EL發(fā)射體的第一電極;
(c)對于每個子像素接收輸入碼值,所述輸入碼值命令從各個子像素的相應(yīng)輸出;
(d)選擇目標子像素;
(e)向除所述目標子像素之外的每個子像素提供各輸入碼值,并向所述目標子像素提供增大的碼值,與相對應(yīng)的輸入碼值相比,所述增大的碼值命令更高的選定的第一量的輸出;
(f)在選定的延遲時間之后,測量所述目標子像素的讀出晶體管的第二電極上的讀出電壓,以提供表示該子像素中的驅(qū)動晶體管和EL發(fā)射體的特征的狀態(tài)信號;
(g)使用所述狀態(tài)信號提供針對所述目標子像素的補償后的碼值;
(h)向所述目標EL子像素的驅(qū)動晶體管提供與所述補償后的碼值相對應(yīng)的驅(qū)動晶體管控制信號;和
(i)重復步驟(d)到(h),依次選擇所述多個子像素中的每一個作為目標子像素,以向所述多個EL子像素中的每一個的驅(qū)動晶體管提供相應(yīng)的驅(qū)動晶體管控制信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述EL發(fā)射體是OLED發(fā)射體。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述驅(qū)動晶體管是非晶硅晶體管。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述選定的延遲時間是選定的幀時間的選定百分比,其中,所述選定的第一量是由相對應(yīng)的輸入碼值命令的輸出的百分比,并且其中,所述選定的第一量是所述選定百分比的倒數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,所述方法進一步包括以下步驟:
(j)提供與所有子像素的讀出晶體管的第二電極相連接的單條讀出線,以提供讀出電壓;和
(k)對于每個EL子像素提供與相對應(yīng)的讀出晶體管的柵極相連接的選擇線。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,步驟(f)進一步包括提供與所述目標子像素的讀出晶體管的第二電極相連接的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,并且其中,所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器用于提供老化信號。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,步驟(f)進一步包括:
i)提供與所述目標子像素的讀出晶體管的第二電極相連接的電壓比較器,所述電壓比較器用于提供指示所述讀出電壓等于或大于選定的基準電壓電平的觸發(fā)信號;
ii)提供測試信號發(fā)生器,所述測試信號發(fā)生器用于順序地向所述驅(qū)動晶體管的柵極和測量控制器提供選定的測試電壓序列;和
iii)提供所述測量控制器,所述測量控制器用于從所述電壓比較器接收所述觸發(fā)信號,并用于使用相應(yīng)的測試電壓來向補償器提供老化信號。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述狀態(tài)信號表示隨著時間由于所述目標子像素中的驅(qū)動晶體管和EL發(fā)射體的工作而導致的該子像素中的驅(qū)動晶體管和EL發(fā)射體的特征變化。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其中,步驟(f)包括:
i)提供存儲器;
ii)將每個子像素的第一讀出電壓測量值存儲在所述存儲器中;
iii)將每個子像素的第二讀出電壓測量值存儲在所述存儲器中;和
iv)使用所存儲的第一讀出電壓測量值和第二讀出電壓測量值來向補償器提供所述狀態(tài)信號。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,所述方法進一步包括選定基準狀態(tài)信號電平,并且其中,步驟(g)包括使用所述基準狀態(tài)信號電平來提供針對所述目標子像素的補償后的碼值。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于全球OLED科技有限責任公司,未經(jīng)全球OLED科技有限責任公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200980151005.1/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





