[發(fā)明專利]用于至少部分封裝具有電子元件的封閉扁平載體的裝置和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200980146706.6 | 申請(qǐng)日: | 2009-11-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102224582A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-10-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | W·G·J·加爾;H·A·M·費(fèi)爾肯斯 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 飛科公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/56 | 分類號(hào): | H01L21/56 |
| 代理公司: | 北京中創(chuàng)陽(yáng)光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11003 | 代理人: | 尹振啟 |
| 地址: | 荷蘭*** | 國(guó)省代碼: | 荷蘭;NL |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 至少 部分 封裝 具有 電子元件 封閉 扁平 載體 裝置 方法 | ||
1.用于至少部分封裝具有電子元件的封閉扁平載體的裝置,其包括一具有一第一型腔的第一模具部件,其中,該第一型腔用于連接所述載體的第一側(cè)面并在所述載體的第一側(cè)面上設(shè)置一層封裝材料,其特征在于,所述封裝裝置還設(shè)有一具有一第二型腔的第二模具部件,該第二型腔用于連接所述載體的第二側(cè)面并在所述載體的第二側(cè)面上設(shè)置一層封裝材料。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述裝置用于在一半導(dǎo)體晶片的兩側(cè)設(shè)置一層封裝材料。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置,其特征在于,第一型腔和第二型腔用于在所述載體兩側(cè)設(shè)置一層分布整個(gè)載體表面的封裝材料。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的裝置,其特征在于,所述封裝裝置設(shè)有至少一第一滑槽和一第二滑槽,其中,第一滑槽連接至第一型腔,第二滑槽連接至第二型腔。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置,其特征在于,兩滑槽連接至同一封裝材料源,并且在至少一滑槽內(nèi)設(shè)置一可控節(jié)流閥。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置,其特征在于,與第一型腔相連接的滑槽連接至一第一封裝材料源,與第二型腔相連接的滑槽連接至一第二封裝材料源,并且該兩個(gè)封裝材料源彼此間是獨(dú)立可控的。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置,其特征在于,第一封裝材料源和第二封裝材料源用于加入不同類型的封裝材料。
8.根據(jù)前述任何一項(xiàng)權(quán)利要求所述的裝置,其特征在于,至少一型腔的至少一部分由一層彈性材料保護(hù)。
9.根據(jù)前述任何一項(xiàng)權(quán)利要求所述的裝置,其特征在于,封裝裝置用于至少部分封裝至少一側(cè)具有連接至載體的半導(dǎo)體電路的載體。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置,其特征在于,所述封裝裝置用于將封裝材料設(shè)置于所述載體和所述半導(dǎo)體電路之間的間隙內(nèi)。
11.根據(jù)前述任何一項(xiàng)權(quán)利要求所述的裝置,其特征在于,所述封裝裝置設(shè)有用于控制閉合壓力的控制設(shè)備,所述模具部件可借助該閉合壓力連接至所述載體。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的裝置,其特征在于,用于控制模具部件閉合壓力的控制設(shè)備連接有用于檢測(cè)型腔壓力的傳感器。
13.根據(jù)權(quán)利要求9-12中任何一項(xiàng)所述的裝置,其特征在于,所述滑槽連接至所述型腔,這樣,封裝材料的流動(dòng)基本上會(huì)沿著與網(wǎng)格對(duì)角的方向延伸,并且所述電子元件依據(jù)網(wǎng)格置于所述載體上。
14.用于至少部分封裝具有電子元件的封閉扁平載體的方法,其包括:
-將一具有電子元件的封閉扁平載體置于第一模具部件上,
-將所述具有電子元件的封閉扁平載體放置在所述第一模具部件和第二模具部件的相對(duì)側(cè)之中,且
-在所述載體的至少一側(cè)設(shè)置一層封裝材料,
其特征在于,在所述載體的另外一側(cè)也設(shè)置一層封裝材料。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法,其特征在于,在一半導(dǎo)體晶片的兩側(cè)設(shè)置一層封裝材料。
16.根據(jù)權(quán)利要求14或15所述的方法,其特征在于,所述封裝材料分布于所述載體兩側(cè)的整個(gè)表面。
17.根據(jù)權(quán)利要求14、15或16所述的方法,其特征在于,可分別單獨(dú)向所述載體兩側(cè)加入所述封裝材料。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法,其特征在于,所述封裝材料可從不同的封裝材料源加入到所述載體的每一側(cè)。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的方法,其特征在于,所述封裝材料可以不同的流速加入到所述載體的每一側(cè)。
20.根據(jù)權(quán)利要求14-19中任何一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,一至少一側(cè)具有例如接觸元件的突出其外表面部分的載體置于所述模具部件之間,所述突出部分在型腔閉合時(shí)穿透一彈性材料層,該彈性材料層至少部分保護(hù)模具部件的至少一型腔。
21.根據(jù)權(quán)利要求14-20中任何一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,一至少一側(cè)具有電子元件的載體置于所述模具部件之間,并且在封裝過(guò)程中,封裝材料設(shè)置于所述電子元件和所述載體之間的間隙內(nèi)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 至少三個(gè)至少三處操作點(diǎn)共構(gòu)鍵的鍵盤(pán)
- 至少部分地生成和/或至少部分地接收至少一個(gè)請(qǐng)求
- 至少部分地由晶片制成并且包括至少一個(gè)復(fù)制的集成電路的至少一個(gè)管芯
- 帶有至少一個(gè)通道和至少兩種液體的設(shè)備
- 包括至少一個(gè)定子和至少兩個(gè)轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)電機(jī)
- 用于生成至少一個(gè)對(duì)象的至少一個(gè)標(biāo)志的方法
- 用于生成至少一個(gè)對(duì)象的至少一個(gè)標(biāo)志的設(shè)備
- 具有至少兩個(gè)腔和至少一個(gè)轉(zhuǎn)移閥的裝置
- 至少兩個(gè)制動(dòng)襯墊和至少一個(gè)彈簧的組件
- 至少五層的光學(xué)裝置





