[發(fā)明專利]金剛石電極及金剛石電極的制造方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200980138289.0 | 申請日: | 2009-09-18 |
| 公開(公告)號: | CN102159750A | 公開(公告)日: | 2011-08-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 永井達(dá)夫;池宮範(fàn)人;吉田克仁;吉田茂 | 申請(專利權(quán))人: | 栗田工業(yè)株式會社;住友電工硬質(zhì)合金株式會社 |
| 主分類號: | C25B11/12 | 分類號: | C25B11/12;C02F1/46;C23C16/27;C25B1/28;C25B11/04 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 胡燁 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 金剛石 電極 制造 方法 | ||
1.金剛石電極,其特征在于,形成膜厚為20μm以上的金剛石層。
2.如權(quán)利要求1所述的金剛石電極,其特征在于,所述金剛石層由含性質(zhì)不同的層的多個金剛石層的復(fù)合層構(gòu)成。
3.如權(quán)利要求2所述的金剛石電極,其特征在于,所述復(fù)合層中至少最表層的金剛石層的厚度為20μm以上。
4.如權(quán)利要求1~3中任一項(xiàng)所述的金剛石電極,其特征在于,由基板和被覆該基板的至少一面的所述金剛石層構(gòu)成。
5.如權(quán)利要求1~4中任一項(xiàng)所述的金剛石電極,其特征在于,在所述基板的兩面被覆所述金剛石層。
6.如權(quán)利要求5所述的金剛石電極,其特征在于,所述基板的一面的金剛石層的厚度大于20μm,所述基板的另一面的金剛石層的厚度為20μm以上,且小于所述一面的金剛石層的厚度。
7.如權(quán)利要求4~6中任一項(xiàng)所述的金剛石電極,其特征在于,所述金剛石層被覆于該基板直至所述基板的整個端面。
8.如權(quán)利要求7所述的金剛石電極,其特征在于,對所述基板的端部進(jìn)行倒角。
9.如權(quán)利要求8所述的金剛石電極,其特征在于,所述倒角的條件是倒角的大小為相對于基板的主面呈角度45°以下,倒角的寬度為基板的厚度的0.1~0.5倍。
10.如權(quán)利要求4~9中任一項(xiàng)所述的金剛石電極,其特征在于,所述基板為厚度1~6mm的導(dǎo)電性材料。
11.如權(quán)利要求4~10中任一項(xiàng)所述的金剛石電極,其特征在于,所述基板為體積電阻率1Ω·cm以下的導(dǎo)電性硅。
12.如權(quán)利要求1~11中任一項(xiàng)所述的金剛石電極,其特征在于,用作電解含有強(qiáng)氧化性物質(zhì)的電解液的電極。
13.如權(quán)利要求12所述的金剛石電極,其特征在于,所述電解液為溫度30℃~80℃、濃度70~96質(zhì)量%的硫酸溶液。
14.如權(quán)利要求12或13所述的金剛石電極,其特征在于,在電解所述電解液時(shí)所施加的電流密度為30~150A/dm2。
15.金剛石電極的制造方法,其特征在于,對基板面分2次以上形成金剛石層,藉此用膜厚20μm以上的金剛石層被覆所述基板面。
16.如權(quán)利要求15所述的金剛石電極的制造方法,其特征在于,對所述基板的兩面分2次以上形成金剛石層,藉此用膜厚20μm以上的金剛石層被覆所述基板的兩面。
17.如權(quán)利要求16所述的金剛石電極的制造方法,其特征在于,將在所述基板的一面形成厚10~30μm的金剛石層后接著在所述基板的另一面形成厚10~30μm的金剛石層的工序反復(fù)進(jìn)行規(guī)定次數(shù),藉此用作為復(fù)合層的金剛石層被覆所述基板兩面。
18.如權(quán)利要求15~17中任一項(xiàng)所述的金剛石電極的制造方法,其特征在于,在所述基板面形成金剛石層的同時(shí),在該基板端面形成金剛石層。
19.如權(quán)利要求15~18中任一項(xiàng)所述的金剛石電極的制造方法,其特征在于,在所述金剛石層的被覆之前,對所述基板的端部施以倒角加工。
20.如權(quán)利要求15~19中任一項(xiàng)所述的金剛石電極的制造方法,其特征在于,形成所述金剛石層時(shí),在該金剛石中摻雜相對于該金剛石的碳量為1000~20000ppm的硼。
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