[發(fā)明專利]數(shù)據(jù)采集有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200980129818.0 | 申請(qǐng)日: | 2009-07-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102112054A | 公開(公告)日: | 2011-06-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | R·普羅克紹 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 皇家飛利浦電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | A61B6/03 | 分類號(hào): | A61B6/03 |
| 代理公司: | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;劉炳勝 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國省代碼: | 荷蘭;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 數(shù)據(jù) 采集 | ||
下文總體涉及數(shù)據(jù)采集,并且具體應(yīng)用于計(jì)算機(jī)斷層攝影(CT)。然而,其還適于其他醫(yī)學(xué)成像應(yīng)用和非醫(yī)學(xué)成像應(yīng)用。
立體(stereo)管計(jì)算機(jī)斷層攝影(CT)掃描器包括安裝在可旋轉(zhuǎn)機(jī)架上的兩個(gè)x射線管,可旋轉(zhuǎn)機(jī)架繞檢查區(qū)域關(guān)于z軸旋轉(zhuǎn)。兩個(gè)x射線管相對(duì)彼此布置,使得它們以大致相同的角度位置設(shè)置在旋轉(zhuǎn)機(jī)架上并且沿z軸彼此偏移。探測(cè)器陣列在檢查區(qū)域的對(duì)側(cè)與x射線管成角度弧,并探測(cè)多個(gè)采樣或積分間隔內(nèi)穿過檢查區(qū)域的輻射。對(duì)每個(gè)采樣間隔以及對(duì)每個(gè)管,探測(cè)器陣列生成指示檢查區(qū)域的信號(hào)。重建器重建該信號(hào)以生成其體積圖像數(shù)據(jù),該體積圖像數(shù)據(jù)可以用于生成置于檢查區(qū)域中的受檢者或?qū)ο蟮膱D像。
探測(cè)器陣列包括了閃爍體、光敏二極管以及處理電子器件。閃爍體吸收輻射并產(chǎn)生指示所吸收的輻射的光,而光敏二極管接收該光并產(chǎn)生指示該光以及因此指示探測(cè)到的輻射的諸如電流或電壓的信號(hào)。處理電子器件還包括了電流至頻率轉(zhuǎn)換器,其對(duì)電流進(jìn)行采樣并產(chǎn)生具有指示電流幅度的頻率的相應(yīng)脈沖序列。處理電子器件通過將采樣間隔內(nèi)脈沖的數(shù)量乘以脈沖的電荷來確定采樣間隔內(nèi)光敏二極管的輸出電流。遺憾的是,如果采樣間隔中最后的脈沖未與連續(xù)采樣間隔之間的邊界對(duì)準(zhǔn),則該采樣間隔的電荷將對(duì)針對(duì)下一采樣間隔的光敏二極管電流測(cè)量做出錯(cuò)誤的貢獻(xiàn)。這種攜帶到下一采樣間隔的剩余電荷被稱作Delta數(shù)據(jù)。
為了清楚說明,以圖1所示的時(shí)間圖表的方式圖示說明了上述內(nèi)容。時(shí)間圖表在第一采樣間隔內(nèi)開始。控制第一x射線管的x射線通量FL1的選通信號(hào)GS1是“開啟的”,或者處于第一輻射源發(fā)射輻射的狀態(tài)。控制第二x射線管的x射線通量FL2的選通信號(hào)GS2是“關(guān)閉的”,或者處于第二x射線管不發(fā)射輻射的狀態(tài),并且有效通量FL2為零。直到t1,光敏二極管探測(cè)由第一x射線管發(fā)射的輻射并且產(chǎn)生輸出電荷I。電流I是積分的,并且電流至頻率轉(zhuǎn)換器以指示電荷I的幅度的頻率生成脈沖PS。在t1,選通信號(hào)GS1變?yōu)椤瓣P(guān)閉的”,或轉(zhuǎn)變?yōu)榈谝粁射線管不再發(fā)射輻射的狀態(tài)。
從t1到t2,第一x射線管的有效x射線通量FL1下降,使輸出電流I下降,并且因此使生成脈沖PS的頻率下降。在t2,有效通量FL1為零,并且閃爍體余輝(afterglow)指數(shù)地衰減,使輸出電流I下降,并且因此使生成脈沖PS的頻率下降。在t3,第一采樣間隔結(jié)束,并且在控制第二x射線管的x射線通量的選通信號(hào)GS2變?yōu)椤伴_啟的”時(shí)開始下一采樣間隔。此后不久,第二x射線管的有效x射線通量FL2上升,并且第二x射線管的電流輸出I上升。再次,電流至頻率以指示光敏二極管的輸出電流I的頻率生成脈沖PS,并重復(fù)以上過程。
如上所述,處理電子器件通過將采樣間隔內(nèi)脈沖的數(shù)量乘以脈沖的電荷來確定該采樣間隔內(nèi)光敏二極管的輸出電流。然而,如圖1所示,第一采樣間隔中最后的脈沖,即脈沖102,發(fā)生在第一采樣間隔t3結(jié)束之前,并且下一脈沖,即脈沖104,是下一采樣間隔中的第一個(gè)脈沖。因此,與從脈沖102到脈沖104的間隔對(duì)應(yīng)的電荷對(duì)針對(duì)第一采樣間隔和第二采樣間隔兩者的電荷測(cè)量都有貢獻(xiàn),即使該電荷僅對(duì)應(yīng)于第一采樣間隔。因此,如圖1所示,當(dāng)所生成的脈沖未與連續(xù)采樣間隔之間的邊界(t3)對(duì)準(zhǔn)時(shí),則生成Delta數(shù)據(jù)問題,并且來自一個(gè)采樣間隔的電荷對(duì)后續(xù)采樣間隔的電荷有貢獻(xiàn),破壞了對(duì)后續(xù)采樣間隔的電荷測(cè)量。
本申請(qǐng)的各方面解決上述問題和其他問題。
根據(jù)一個(gè)方面,一種成像系統(tǒng)包括:至少一個(gè)輻射生成部件,其交替發(fā)射穿過檢查區(qū)域的不同輻射;以及公共探測(cè)器,其探測(cè)穿過檢查區(qū)域的輻射并生成指示所述輻射的信號(hào)。脈沖生成電路生成包括多個(gè)脈沖的脈沖序列,其具有指示至少一個(gè)輻射生成部件在采樣間隔內(nèi)的信號(hào)的頻率。處理電子器件基于采樣間隔內(nèi)脈沖序列中的脈沖的數(shù)量以及脈沖序列中的脈沖的電荷,確定至少一個(gè)輻射生成部件中的一個(gè)在采樣間隔內(nèi)的信號(hào)的近似。處理電子器件計(jì)算對(duì)針對(duì)第一脈沖范圍的近似的第一貢獻(xiàn),所述第一脈沖范圍從采樣間隔中第一個(gè)脈沖到采樣間隔中最后的脈沖,并估計(jì)對(duì)針對(duì)第二脈沖范圍的近似的第二貢獻(xiàn),所述第二脈沖范圍從采樣間隔中最后的脈沖到采樣間隔的末端。基于第一貢獻(xiàn)的電荷估計(jì)第二貢獻(xiàn),其中,無法獲得第二貢獻(xiàn)的電荷。
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